电子元器件失效分析

p style="text-indent: 28px text-align: justify "span style="font-family:宋体"失效分析（/spanspanFA/spanspan style="font-family:宋体"）是对已失效器件进行的一种事后检查。根据需要，采用电测试以及各种先进的物理、金相和化学分析技术，并结合元器件失效前后的具体情况及有关技术文件进行分析，以验证所报告的失效，确定元器件的失效模式、失效机理和造成失效的原因。全面系统的失效分析可以确定失效的原因，对于器件设计、制造工艺、试验或应用的改进具有指导作用，采取相应的纠正措施消除失效模式或机理产生的原因，从而实现器件以及装备整体可靠性的提高。/span/pp style="text-indent: 29px text-align: justify "span style="font-family:宋体"通过失效分析可以发现失效器件的固有质量问题，也有可能发现元器件因不按规定条件使用而失效的使用质量问题，通过向有关方面反馈，促使责任方采取纠正措施，以便消除所报告的失效模式或机理产生的原因，防止其再次出现，对提高元器件的固有质量或使用质量都起到十分重要的作用。/span/pp style="text-indent: 29px text-align: justify "span style="font-family:宋体"失效分析的相关标准也有很多，主要包括/span/ptable border="1" cellspacing="0" cellpadding="0" style="border-collapse:collapse border:none"tbodytr class="firstRow"td width="160" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style="font-family:宋体"标准号/span/p/tdtd width="393" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style="font-family:宋体"名称/span/p/td/trtrtd width="160" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspanGJB548B-2005/span/p/tdtd width="393" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style="font-family:宋体"微电子器件试验方法和程序/span/p/td/trtrtd width="160" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspanGJB450A/span/p/tdtd width="393" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style="font-family:宋体"装备可靠性工作通用要求/span/p/td/trtrtd width="160" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspanGJB841/span/p/tdtd width="393" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style="font-family:宋体"故障报告、分析和纠正系统/span/p/td/trtrtd width="160" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspanGJB536B-2011/span/p/tdtd width="393" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style="font-family:宋体"电子元器件质量保证大纲/span/p/td/trtrtd width="160" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspanQJ3065.5-98/span/p/tdtd width="393" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style="font-family:宋体"元器件失效分析管理要求/span/p/td/trtrtd width="160" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspanGJB 33A-1997/span/p/tdtd width="393" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style="font-family:宋体"半导体分立器件总规范/span/p/td/trtrtd width="160" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspanGJB 65B-1999/span/p/tdtd width="393" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style="font-family:宋体"有可靠性指标的电磁继电器总规范/span/p/td/trtrtd width="160" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspanGJB 597A-1996/span/p/tdtd width="393" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style="font-family:宋体"半导体集成电路总规范/span/p/td/tr/tbody/tablep style="text-indent: 28px text-align: justify "span style="font-family:宋体"通常失效分析的常见流程包括：失效现场信息调查、失效模式确认、外观检查、非破坏性分析、半破坏性分析、破坏性分析、综合分析、报告编写。如下为典型失效分析流程/span/pp style="text-indent: 0em "span style="text-align: center "img style="max-width:100% max-height:100% " src="http://www.enrlb.com/system_dntb/upload/20040303.jpg"/ /span/pp style="text-indent: 2em text-align: justify "span style="font-family: 宋体 text-indent: 42px "元器件的失效分析涉及到数量众多，种类繁杂的仪器设备，以下为元器件失效分析的相关测试项目及检测仪器设备清单：/span/ptable border="0" cellspacing="0" cellpadding="0" style="border-collapse: collapse "tbodytr style=" height:1px" class="firstRow"td width="197" nowrap="" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " height="1"p style="text-align:center"strongspan style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"测试项目/span/strong/p/tdtd width="363" nowrap="" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="1"p style="text-align:center"strongspan style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"检测仪器设备/span/strong/p/td/trtr style=" height:1px"td width="197" nowrap="" rowspan="13" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="1"p style="text-align:center"strongspan style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"电性测试/span/strong/p/tdtd width="363" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="1"p style="text-align:left"a href="https://www.instrument.com.cn/zc/2473.html" target="_self"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"LCR/spanspan style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"阻抗分析仪/span/a/p/td/trtr style=" height:1px"td width="351" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="1"p style="text-align:left"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"高阻计/span/p/td/trtr style=" height:1px"td width="351" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="1"p style="text-align:left"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"耐压测试仪/span/p/td/trtr style=" height:1px"td width="351" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " height="1"p style="text-align:left"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"ESD/spanspan style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"测试仪/span/p/td/trtr style=" height:1px"td width="351" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " height="1"p style="text-align:left"a href="https://www.instrument.com.cn/zc/1801.html" target="_self"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"探针台/span/a/p/td/trtr style=" height:1px"td width="351" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="1"p style="text-align:left"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"半导体参数分析仪/span/p/td/trtr style=" height:1px"td width="351" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="1"p style="text-align:left"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"高精度图示仪/span/p/td/trtr style=" height:1px"td width="351" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="1"p style="text-align:left"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"可编程电源/span/p/td/trtr style=" height:1px"td width="351" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="1"p style="text-align:left"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"电子负载/span/p/td/trtr style=" height:1px"td width="351" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " height="1"p style="text-align:left"a href="https://www.instrument.com.cn/zc/2438.html" target="_self"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"示波器/span/a/p/td/trtr style=" height:1px"td width="351" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " height="1"p style="text-align:left"a href="https://www.instrument.com.cn/zc/2489.html" target="_self"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"频谱分析仪/span/a/p/td/trtr style=" height:1px"td width="351" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " height="1"p style="text-align:left"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"数字span//span模拟集成电路测试机台/span/p/td/trtr style=" height:1px"td width="351" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="1"p style="text-align:left"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"电磁继电器测试系统/span/p/td/trtr style=" height:1px"td width="196" rowspan="7" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="1"p style="text-align:center"strongspan style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"形貌观察/span/strong/p/tdtd width="363" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="1"p style="text-align:left"a href="https://www.instrument.com.cn/zc/56.html" target="_self"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"体视显微镜/span/a/p/td/trtr style=" height:1px"td width="351" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " height="1"p style="text-align:left"a href="https://www.instrument.com.cn/zc/58.html" target="_self"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"金相显微镜/span/a/p/td/trtr style=" height:1px"td width="351" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " height="1"p style="text-align:left"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"X-RAY/spanspan style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"透射系统/span/p/td/trtr style=" height:1px"td width="351" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " height="1"p style="text-align:left"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"声学扫描显微镜/span/p/td/trtr style=" height:1px"td width="351" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="1"p style="text-align:left"a href="https://www.instrument.com.cn/zc/53.html" target="_self"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"扫描电镜/span/a/p/td/trtr style=" height:1px"td width="351" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " height="1"p style="text-align:left"a href="https://www.instrument.com.cn/zc/1139.html" target="_self"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"透射电镜/span/a/p/td/trtr style=" height:1px"td width="351" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " height="1"p style="text-align:left"a href="https://www.instrument.com.cn/zc/1856.html" target="_self"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"聚焦离子束/span/a/p/td/trtr style=" height:1px"td width="196" rowspan="4" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="1"p style="text-align:center"strongspan style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"制样设备/span/strong/p/tdtd width="363" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " height="1"p style="text-align:left"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"机械开封机/span/p/td/trtr style=" height:1px"td width="351" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="1"p style="text-align:left"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"化学开封机/span/p/td/trtr style=" height:1px"td width="351" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " height="1"p style="text-align:left"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"反应离子刻蚀机/span/p/td/trtr style=" height:1px"td width="351" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " height="1"p style="text-align:left"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"研磨抛光机/span/p/td/trtr style=" height:1px"td width="196" rowspan="9" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="1"p style="text-align:center"strongspan style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"应力试验设备/span/strong/p/tdtd width="363" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " height="1"p style="text-align:left"a href="https://www.instrument.com.cn/zc/617.html" target="_self"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"高低温试验箱span-/span热循环试验/span/a/p/td/trtr style=" height:1px"td width="351" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="1"p style="text-align:left"a href="https://www.instrument.com.cn/zc/622.html" target="_self"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"热冲击试验箱span-/span热冲击试验/span/a/p/td/trtr style=" height:1px"td width="351" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="1"p style="text-align:left"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"振动台span-/span机械振动试验/span/p/td/trtr style=" height:1px"td width="351" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " height="1"p style="text-align:left"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"恒定加速度试验台span-/span恒定加速度试验/span/p/td/trtr style=" height:1px"td width="351" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="1"p style="text-align:left"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"可编程电源span-/span电压、功率老炼试验/span/p/td/trtr style=" height:1px"td width="351" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="1"p style="text-align:left"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"电子负载span-/span电流、功率老炼/span/p/td/trtr style=" height:1px"td width="351" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="1"p style="text-align:left"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"频率发生器span-/span老炼试验/span/p/td/trtr style=" height:1px"td width="351" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="1"p style="text-align:left"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"浪涌发生器span-/span浪涌试验/span/p/td/trtr style=" height:1px"td width="351" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="1"p style="text-align:left"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"高温真空箱/span/p/td/trtr style=" height:1px"td width="196" rowspan="6" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="1"p style="text-align:center"strongspan style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"其他检测设备/span/strong/p/tdtd width="363" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="1"p style="text-align:left"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"颗粒碰撞噪声测试仪/span/p/td/trtr style=" height:1px"td width="361" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " height="1"p style="text-align:left"a href="https://www.instrument.com.cn/zc/488.html" target="_self"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"氦质谱检漏仪/span/a/p/td/trtr style=" height:1px"td width="361" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " height="1"p style="text-align:left"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"碳氟化合物粗检漏仪/span/p/td/trtr style=" height:1px"td width="361" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " height="1"p style="text-align:left"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"键合拉力测试仪/span/p/td/trtr style=" height:1px"td width="361" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " height="1"p style="text-align:left"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"剪切力测试仪/span/p/td/trtr style=" height:1px"td width="361" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " height="1"p style="text-align:left"span style="font-size:15px font-family:' 微软雅黑' ,sans-serif color:black"火花试验机/span/p/td/tr/tbody/tablep style="text-indent:29px"span style="font-family:宋体 color:white"失效分析对产品的生产和使用都具有重要的意义，失效可能发生在产品寿命周期的各个阶段，涉及产品的研发设计、来料检验、加工组装、测试筛选、客户端使用等各个环节，通过分析工艺废次品、早期失效、试验失效、中试失效以及现场失效的样品，确认失效模式、分析失效机理，明确失效原因，最终给出预防对策，减少或避免失效的再次发生。/span/ppbr//p

p style="text-indent:28px"电子元器件测试筛选服务也称之为电子元器件二次筛选。电子元器件的二次筛选是指在元器件厂家筛选的基础上，由使用方或其委托的第三方对电子元器件进行的筛选。二次筛选是在电子元器件各种失效模式的基础上，进行的一系列有针对性的试验，从而达到有效剔除早期失效的目的。介于目前我国电子元器件设计、制造和工艺等方面的现状，以及进口元器件采购中的诸多不可控因素，电子元器件二次筛选已成为激发电子元器件潜在设计、生产缺陷，有效剔除早期失效产品，提高整机系统的可靠性等方面必不可少的一环。/pp style="text-indent:28px"电子元器件测试贯穿产品设计元器件选型、生产阶段元器件接收和选用、产品交付阶段的产品“二次”筛选。设法在一批元器件中剔除那些由于原材料、设备、工艺、人为等方面潜在的不良因素所造成的有缺陷的，或可能发生早期失效的器件，而挑选出具有一定特性的合格元器件或判定批次产品是否合格接收，提高产品使用可靠性，特别是针对进口元器件，通过“二次筛选”保证产品质量可控，提高装备整体可靠性。/pp style="text-indent:28px"电子元器件测试筛选一般要求：span1./span不改变元器件固有可靠性，非破坏性试验；span2./span对批次产品进行span100%/span筛选；span3./span剔除早期失效品，提高元器件使用可靠性；span4. /span筛选等级由元器件预期工作条件和使用寿命决定。/pp style="text-indent:28px"电子元器件测试筛选涉及到大量种类的仪器设备，以下为电子元器件测试筛选的相关测试项目及检测仪器设备清单：/ptable border="1" cellspacing="0" cellpadding="0" style="border-collapse:collapse border:none"tbodytr class="firstRow"td width="141" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p style="text-align:center"测试项目/p/tdtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p style="text-align:center"span检测仪器设备/span/p/td/trtrtd width="141" rowspan="13" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p style="text-align:center"电测试/p/tdtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"span style=" color:black"阻抗分析仪/span/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"span style=" color:black"高阻计/span/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"span style=" color:black"耐压测试仪/span/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"a href="https://www.instrument.com.cn/zc/1746.html" target="_self"span style=" color:black"半导体参数测试系统/span/a/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"span style=" color:black"高精度图示仪/span/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"a href="https://www.instrument.com.cn/list/sort/231.shtml" target="_self"span style=" color:black"网络分析仪/span/a/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"a href="https://www.instrument.com.cn/zc/2437.html" target="_self"span style=" color:black"信号发生器/span/a/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"a href="https://www.instrument.com.cn/zc/2489.html" target="_self"span style=" color:black"频谱分析仪/span/a/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"a href="https://www.instrument.com.cn/zc/2457.html" target="_self"span style=" color:black"数字集成电路测试系统/span/a/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"a href="https://www.instrument.com.cn/zc/2458.html" target="_self"span style=" color:black"模拟集成电路测试系统/span/a/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"span style=" color:black"继电器测试系统/span/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"a href="https://www.instrument.com.cn/zc/2473.html" target="_self"span style=" color:black"LCR/spanspan style=" color:black"、电阻计等/span/a/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center"span style=" color:black"电源模块测试系统/span/p/td/trtrtd width="141" rowspan="6" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p style="text-align:center"环境、应力筛选/p/tdtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p style="text-align:center"高低温试验箱：热循环试验/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center"a href="https://www.instrument.com.cn/zc/386.html" target="_self"振动台：振动试验/a/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center"恒定加速度试验台：恒定加速度试验/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center"可编程电源：电压、功率老炼试验/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center"电子负载：电流、功率老炼/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center"颗粒碰撞噪声测试仪/p/td/trtrtd width="141" rowspan="11" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p style="text-align:center"寿命span//span老化span//span老炼试验/p/tdtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center"单片集成电路高温动态老炼系统/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p style="text-align:center"混合集成电路高温动态老炼系统/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p style="text-align:center"电源模块高温老炼检测系统/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p style="text-align:center"晶体振荡器高温老化测试系统/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p style="text-align:center"分立器件综合老炼检测系统/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p style="text-align:center"分立器件间歇寿命试验系统/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p电容器高温老炼检测系统/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p大功率晶体管老炼检测系统/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p继电器低电平寿命筛选系统/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p继电器中电平寿命筛选系统/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p继电器高电平寿命筛选系统/p/td/trtrtd width="141" rowspan="2" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p外观检查/p/tdtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"pa href="https://www.instrument.com.cn/list/sort/5.shtml" target="_self"光学显微镜/a/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"pa href="https://www.instrument.com.cn/zc/58.html" target="_self"金相显微镜/a/p/td/trtrtd width="141" rowspan="2" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p密封检测/p/tdtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"pa href="https://www.instrument.com.cn/zc/488.html" target="_self"氦质谱检漏仪/a/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p碳氟化合物粗检漏仪/p/td/trtrtd width="141" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"pspanX/span射线照相/p/tdtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"pspanX-RAY/span透射系统/p/td/trtrtd width="141" rowspan="2" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p扫描声学显微镜检查/p/tdtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p声扫检测设备/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"pa href="https://www.instrument.com.cn/zc/420.html" target="_self"超声扫描显微镜/a/p/td/tr/tbody/tablepbr//p

1月29日，据工信部微信公众号消息，工信部近日印发了《基础电子元器件产业发展行动计划(2021—2023年)》(以下简称《行动计划》)。《行动计划》中提到，面向智能终端、5G、工业互联网等重要行业，推动基础电子元器件实现突破，增强关键材料、设备仪器等供应链保障能力。计划到2023年，电子元器件销售总额达到21000亿元，突破一批电子元器件关键技术，并力争15家电子元器件企业营收规模突破100亿元。基础电子元器件产业发展行动计划（2021-2023年）信息技术产业是关系国民经济安全和发展的战略性、基础性、先导性产业，也是世界主要国家高度重视、全力布局的竞争高地。电子元器件是支撑信息技术产业发展的基石，也是保障产业链供应链安全稳定的关键。当前我国电子元器件产业存在整体大而不强、龙头企业匮乏、创新能力不足等问题，制约信息技术产业发展。面对百年未有之大变局和产业大升级、行业大融合的态势，加快电子元器件及配套材料和设备仪器等基础电子产业发展，对推进信息技术产业基础高级化、产业链现代化，乃至实现国民经济高质量发展具有重要意义。为深入贯彻落实党中央、国务院决策部署，持续提升保障能力和产业化水平，支持电子元器件领域关键短板产品及技术攻关，特制定本行动计划。一、总体要求（一）指导思想以习近平新时代中国特色社会主义思想为指导，全面贯彻落实党的十九大和十九届二中、三中、四中、五中全会精神，以推动高质量发展为主题，以深化供给侧结构性改革为主线，以改革创新为根本动力，以做强电子元器件产业、夯实信息技术产业基础为目标，以关键核心技术为主攻方向，支持重点行业市场应用，建立健全产业链配套体系，推动基础电子元器件产业实现高质量发展，保障国家信息技术产业安全。（二）总体目标到2023年，优势产品竞争力进一步增强，产业链安全供应水平显著提升，面向智能终端、5G、工业互联网等重要行业，推动基础电子元器件实现突破，增强关键材料、设备仪器等供应链保障能力，提升产业链供应链现代化水平。——产业规模不断壮大。电子元器件销售总额达到21000亿元，进一步巩固我国作为全球电子元器件生产大国的地位，充分满足信息技术市场规模需求。——技术创新取得突破。突破一批电子元器件关键技术，行业总体创新投入进一步提升，射频滤波器、高速连接器、片式多层陶瓷电容器、光通信器件等重点产品专利布局更加完善。——企业发展成效明显。形成一批具有国际竞争优势的电子元器件企业，力争15家企业营收规模突破100亿元，龙头企业营收规模和综合实力有效提升，抗风险和再投入能力明显增强。二、重点工作（一）提升产业创新能力攻克关键核心技术。实施重点产品高端提升行动，面向电路类元器件等重点产品，突破制约行业发展的专利、技术壁垒，补足电子元器件发展短板，保障产业链供应链安全稳定。专栏1 重点产品高端提升行动构建多层次联合创新体系。支持企业、高等院校及科研院所加强合作，在电子元器件领域探索成立制造业创新中心，加大关键共性技术、前沿引领技术、现代工程技术、颠覆性技术研发力度，搭建产学研用紧密结合的协同创新和成果转化平台。鼓励各地围绕特色或细分领域，开展关键技术研发与产业化，形成差异化发展。完善知识产权布局。鼓励企业、高等院校及科研院所提升知识产权保护意识，完善知识产权管理制度并开展国内外知识产权布局。探索建立专利池，围绕电子元器件开展专利分析和预警。开展知识产权试点企业培育工作。（二）强化市场应用推广支持重点行业市场应用。实施重点市场应用推广行动，在智能终端、5G、工业互联网和数据中心、智能网联汽车等重点行业推动电子元器件差异化应用，加速产品吸引社会资源，迭代升级。专栏2 重点市场应用推广行动强化产业链深层次合作。推动电子元器件及其配套材料和设备仪器企业、整机企业加强联动，共同开展产品研制，加快新型电子元器件的产业化应用。引导上下游企业通过战略联盟、资本合作、技术联动等方式，形成稳定合作关系。加速创新型产品应用推广。面向人工智能、先进计算、物联网、新能源、新基建等新兴需求，开发重点应用领域急需的小型化、高性能、高效率、高可靠电子元器件，推动整机企业积极应用创新型产品，加速元器件产品迭代升级。（三）夯实配套产业基础突破关键材料技术。支持电子元器件上游电子陶瓷材料、磁性材料、电池材料等电子功能材料，电子浆料等工艺与辅助材料，高端印制电路板材料等封装与装联材料的研发和生产。提升配套能力，推动关键环节电子专用材料研发与产业化。提升设备仪器配套能力。支持技术难度大、应用价值高、通用性强、对电子元器件行业带动大的配套电子专用设备与仪器，如刻蚀显影设备等工艺设备、显微CT等检测分析仪器的研发及产业化，提升设备仪器质量和可靠性水平。健全产业配套体系。鼓励和引导化工、有色金属、轻工机械、设备仪器等企业进入电子元器件领域，开展关键材料、设备的研发和生产，推进产学研用协同创新，实现全产业链协同发展，增强试验验证能力，提升关键环节配套水平。（四）引导产业转型升级提升智能化水平。引导企业搭建数字化设计平台、全环境仿真平台和材料、工艺、失效分析数据库，基于机器学习与人工智能技术，推进关键工序数字化、网络化改造，优化生产工艺及质量管控系统，开展智能工厂建设，提升智能制造水平。专栏3 智能制造推进行动推广绿色制造。推进全行业节能节水技术改造，加快应用清洁高效生产工艺，开展清洁生产，降低能耗和污染物排放强度，实现绿色生产。优化电子元器件产品结构设计，开发高附加值、低消耗、低排放产品。制定电子元器件行业绿色制造相关标准，完善绿色制造体系。专栏4 绿色制造提升行动培育优质企业。鼓励龙头企业通过兼并重组、资本运作等方式整合资源、扩大生产规模、增强核心竞争力、提高合规履责和抗风险能力。培育一批具有自主知识产权、产品附加值高、有核心竞争力的专精特新“小巨人”和制造业单项冠军企业。（五）促进行业质量提升加强标准化工作。加强关键核心技术和基础共性技术的标准研制，持续提升标准的供给质量和水平。引导社会团体加快制定发布具有创新性和国际性的团体标准。鼓励企事业单位和专家积极参与国际标准化活动，开展国际标准制定。提升质量品牌效益。优化产品设计、改造技术设备、完善检验检测，推广先进质量文化与技术。引导企业建立以质量为基础的品牌发展战略，丰富品牌内涵，提升品牌形象和影响力。开展质量兴业、品牌培育等活动，定期发布质量品牌报告。优化市场环境。引导终端企业优化电子元器件产品采购模式，倡导优质廉价，避免低价恶性竞争、哄抬价格、肆意炒作等非理性市场行为，推动构建公平、公正、开放、有序的市场竞争环境。（六）加强公共平台建设建设分析评价公共平台。支持有能力、有资质的企事业单位建设国家级电子元器件分析评价公共服务平台，加强质量品质和技术等级分类标准建设，围绕电子元器件各领域开展产品检测分析、评级、可靠性、应用验证等服务，为电子系统整机设计、物料选型提供依据。建设科技服务平台。支持地方、园区、企事业单位建设一批公共服务平台，开展知识产权培训与交易、科技成果评价、市场战略研究等服务。鼓励建设专用电子元器件生产线，为MEMS传感器、滤波器、光通信模块驱动芯片等提供流片服务。建设创新创业孵化平台。支持电子元器件领域众创、众包、众扶、众筹等创业支撑平台建设，推动建立一批基础电子元器件产业生态孵化器、加速器，鼓励为初创企业提供资金、技术、市场应用及推广等扶持。（七）完善人才引育机制加大人才培养力度。深化产教融合，推动高等院校优化相关学科建设和专业布局。鼓励企业建立企业研究院、院士和博士后工作站等创新平台，建立校企结合的人才综合培训和实践基地，支持企业开展员工国内外在职教育培训。加强人才引进培育。多渠道引进高端人才和青年人才，加快形成具有国际领先水平的专家队伍。发挥行业组织及大专、高等院校作用，鼓励企业培育和引进掌握关键技术的科技领军人才和团队，为产业发展提供智力支持。引导人才合理流动。引导企业通过合规途径招聘人才，保障人才在企业间的正常流动，加强职业道德宣传，降低人员流动损失，鼓励企业为人才创造有利的成长空间，提升福利待遇，完善人才职业晋升通道，提升电子元器件行业人才归属感。三、保障措施（一）加强产业统筹协调。建立健全电子元器件产业发展协调机制，加强协同配合和统筹推进，积极推动解决产业发展中重大事项和重点工作。加强央地合作，指导各地统筹规划基础电子元器件重点项目布局，适时推进主体集中和区域集聚。做好重点领域监测分析和跟踪研究，加强与现行相关政策衔接，有序推进各项行动。（二）加大政策支持力度。围绕电子元器件产业，推动生产、应用、融资等合作衔接，加快市场化推广应用。充分利用产业基础再造等渠道支持创新突破。鼓励制造业转型升级基金等加大投资力度，引导地方投资基金协同支持。发挥市场机制作用，鼓励社会资本参与，吸引风险投资、融资租赁等多元化资金支持产业发展。（三）优化产业发展环境。加强对电子元器件行业垄断、倾销、价格保护、侵犯知识产权等不正当竞争行为的预警和防范，维护公平竞争、健康有序的市场发展环境。促进行业诚信经营、依法纳税、节能环保、和谐用工。引导电子元器件行业信用体系建设，推行企业产品标准、质量、安全自我声明和监督制度。（四）深化国际交流合作。落实“一带一路”倡议，拓展电子元器件产业国际交流合作渠道，加强与相关国际组织、标准化机构等交流沟通，推动与国际先进技术及产业链对接。推动电子元器件产业国内国际相互促进，鼓励全球领先企业来华设立生产基地和研发机构，支持骨干企业开拓海外市场，与境外机构开展多种形式的技术、人才、资本等合作，构建开放发展、合作共赢的产业格局。