电子元器件失效分析

看完这里的贴，好像没有做电子元器件失效分析的兄弟啊。

版主，是不是可以考虑开一个电子元器件的失效分析专栏？

人们在长期的生产实践中发现新制造出来的电子元器件，在刚投入使用的时候，一般失效率较高，叫做早期失效，经过早期失效后，电子元器件便进入了正常的使用期阶段，一般来说，在这一阶段中，电子元器件的失效率会大大降低。过了正常使用阶段，电子元器件便进入了耗损老化期阶段，那将意味着寿终正寝。这个规律，恰似一条浴盆曲线，人们称它为电子元器件的效能曲线，如图1所示。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/11/200811101139_117491_1604910_3.gif[/img]　　电子元器件失效的原因，是由于在设计和生产时所选用的原材料或工艺措施不当而引起的。元器件的早期失效十分有害，但又不可避免。因此，人们只能人为地创造早期工作条件，从而在制成产品前就将劣质品剔除，让用于产品制作的元器件一开始就进入正常使用阶段，减少失效，增加其可靠性。 　　前沿期、稳定期、后延期 3 者之和约为 10 年。　　仪器到了10年就该更新啦！否则维护成本很高的！

寻找电子元器件里的重金属的分析方法，包括汞、铅、铬、镉。哪位大侠有的，帮帮忙，发上来！ [em26] [em26] [em26]

电子元器件是信息技术产业发展的基石，也是保障产业链供应链安全稳定的关键。面对成千上万种功能迥异的电子元器件，以及复杂的供应渠道和货源，往往一个器件的品质就可能影响到整个产品设计，加上近期电子元器件价格大涨，如何提升采购效率降低采购成本对于控制企业产品成本，提高产品竞争力有着极其现实的意义。电子元器件采购工作日常离不开采购备货、采购交期管控、采购效率提升等等问题。一般来说，供应商开发包括的内容有:供应市场竞争分析，寻找合格供应商，潜在供应商的评估，询价和报价，合同条款的谈判，最终供应商的选择。随着互联网的发展，电子元器件在线采购管理平台迅速崛起，集合国内外原厂、知名代理商、现货商资源，用户都在便捷地通过型号搜索并比较渠道。[url=https://www.szcxwdz.com][b]创芯为电子[/b][/url]为不同规模电子元器件企业提供差异化的采购协同商城平台系统开发，从需求到寻源，订单到对账开票覆盖整体采购业务，[url=https://www.szcxwdz.com][b]创芯为电子[/b][/url]真正做到对采购每个环节进行严密的跟踪与管理，推动采购战略执行，全面提升采购效率与管理体验。在采购寻源模块，买家可选择性的对商家提供的报价进行跟踪咨询留言，进一步达成合作意向，卖家也可补充之前的报价内容。采购系统询报价功能为电子元器件企业交易流通提供更有效的供求信息交流关系，通过采购管理平台，可以更快的传达需求，完成服务促进企业采购交易效率。

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电子元器件包括：电阻、电容器、电位器、电子管、散热器、机电元件、连接器、半导体分立器件、电声器件、激光器件、电子显示器件、光电器件、传感器、电源、开关、微特电机、电子变压器、继电器、印制电路板、集成电路、各类电路、压电、晶体、石英、陶瓷磁性材料、印刷电路用基材基板、电子功能工艺专用材料、电子胶（带）制品、电子化学材料及部品等。

电子元器件知识-电容[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=22817]电子元器件知识-电容[/url]

《失效分析技术及经典案例高级研修班》课程对象： 电子元器件、电路板或整机企业的：设计工程师、质量工程师、工艺工程师、可靠性工程师、失效分析工程师课程提纲：第一讲 失效分析概论第二讲 失效分析技术和设备1. 失效分析基本程序2. 非破坏性分析的基本路径3. 半破坏性分析的基本路径4. 破坏性分析的基本路径5. 分析技术与分析设备第三讲 失效分析典型案例1. 系统设计缺陷引起的失效2. CMOS [url=https://insevent.instrument.com.cn/t/3p][color=#3333ff]IC[/color][/url] 闩锁效应失效3. 静电损伤失效4. 过电损伤失效5. 热应力失效6. 机械应力损伤失效7. 电腐蚀失效8. 污染失效9. 热结构缺陷引起过热失效10. 其他缺陷引起的失效11. 寿命失效师资介绍：李少平，高级工程师，我国电子产品失效分析领域权威专家。1984年毕业西安电子科大固体器件专业，一直在信息产业部电子第五研究所从事电子产品可靠性技术研究工作，曾经主持、参加众多军用电子元器件可靠性研究课题，多次获得各级科研成果奖项。近10年来主要从事电子产品失效分析，完成大量军用、民用的元器件失效分析任务，具有丰富的分析经验。现在是电子产品失效分析项目的项目负责人，继续承担失效分析任务，并组织失效分析新技术的研究。培训时间：2007年4月26~27日日程安排：日期时间授课内容4月26日8：00－9：00来宾与会议参与人员签到9：00－12：00失效分析技术13：30－17：004月27日8：30－12：00失效分析经典案例13：30－17：00中国赛宝实验室（信息产业部电子第五研究所）培训费用： 2000元/人培训地点：广州市天河区东莞庄路110号中国赛宝实验室培训证书： 中国赛宝实验室可靠性研究分析中心培训证书联系方式：联系人：熊娥英 电话：020-87236986 传真：020-87237185Web：www.rac.ceprei.com EMAIL:xiongey@ceprei.com

我公司由于做电子元器件里的重金属，用[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]法，不知道样品怎样前处理，希望知道的大侠能告之啊 [em09]

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为了适应电子工业的生产需求，电子元器件的集成、热度密度在不断的增大。如此一来，解决电子元器件散热问题就变成了一件刻不容缓的事情。影响电子元器件散热的因素有很多，比如热阻、功耗等。前面有讲到热管在大规模集成电路散热处理中的应用，这里华强北IC代购网系统介绍电子元器件常见的几种散热方法。 http://www.realchip.net/images/upload/Image/9495632.jpg一、 散热方法大全1、 自然散热和强行散热 所谓自然散热，顾名思义，是指不借助外部能量或措施的情况下，实现局部发热器件向周围散热达到控制电子元器件温度的目的。这种自然散热对电子元器件的要求比较低，一般适用于一些对温度控制要求较低的电子元器件及热量密度较小的低功耗元器件。 强行散热，借助风扇等工具强制性的使电子元器件周边的空气流动，主要适用于空气在部件内多个元器件的空间可以流动，是一种操作简单方便，却散热效果明显的散热方法。2、 通过制冷方式达到散热的目的 制冷方式，是为高温热源提供一个具有连续性的低温热源，进而达到控制温度的目的，在电子元器件中大多数采用Peltier制冷和制冷剂相变制冷。 Peltier制冷，只适用于元器件的体积紧密且对制冷要求不高的电子元器件，具有可靠性高的特点，但同时也具有成本高、效率低的缺点。采用Peltier制冷需要考虑制冷装置是否满足质量轻、体积小、方便安装和拆卸的特点，对制冷装置的要求比较严格。 制冷剂的相变冷却，是在特定情况下利用制冷剂发生相变而吸收大量热量的特点，对电子元器件达到冷却的效果。3、 在散热过程中进行能量疏导 我们可以理解为，把电子元器件散发出的热量，利用传热元件传递到某一个特定的地方集中然后再进行处理或者是更加高效率的向环境传导热量。二、 电子元器件散热方法的选择 在对电子元器件散热方法选择过程中，应考虑以下几种典型的因素：电子元器件自身的一些特点，如热阻的大小、热效率的高低、质量大小等，以及元器件对售后的要求，如维护要求、维修性、辅助设备等元器件的可靠性。另外还有就是人体的损伤危害程度，如在元器件散热过程中是否会产生有毒的热量，以及电子元器件在使用过程中对电力设备的需求，对设备电性能的影响。

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今天和大家分享一个电子行业标准系列,全部和电气、电子元器件有关的，放在资料中心，点击本人图形右边的 [查看该用户在资料中心上传的资料] 就可找到.SJ-T 207.4-1999设计文件管理制度 第四部分 设计文件的编号.pdfSJ-T 207.6-2001设计文件管理制度 第 6 部分 项目代号.pdfSJ-T 207.7-2001设计文件管理制度 第 7 部分 电气简图的编制.pdfSJ-T 207.8-2001设计文件管理制度 第 8 部分：图样编制.pdfSJ-T 10149-1991电子元器件图形库 半导体分立器件图形.pdfSJ-T 10150-1991电子元器件图形库 电阻器、电容器、电感器图形.pdfSJ-T 10151-1991电子产品设计文件的标准化检查.pdfSJ-T 10224-1991电子元器件图形库 标准结构件图形.pdfSJ-T 10225-1991电子元器件图形库 机电元件图形.pdfSJ-T 10629.4-1995计算机辅助设计设计文件管理制度 设计文件的签署.pdfSJ-T 10629.5-1995计算机辅助设计设计文件管理制度 设计文件的管理.pdf

[url=https://www.szcxwdz.com][b]创芯为[/b][/url]电子提供电子[url=https://www.szcxwdz.com][b]元器件[/b][/url]采购。主要产品包括电源管理芯片、处理器及微控制器、接口芯片、放大器、存储器 、逻辑器件、数据转换芯片、电容、二极管、三极管 、电阻、电感、晶振等，并提供相关的技术咨询。主营芯片经营品牌：TI、Microchip、ST、ADI、NXP、英飞凌、ON等，长期跟原厂代理储备现货库存，渠道优，价格优势，可提供[url=https://www.szcxwdz.com][b]BOM配单[/b][/url]，欢迎各行需求交流！

《失效分析技术及经典案例高级研修班》课程对象： 电子元器件、电路板或整机企业的：设计工程师、质量工程师、工艺工程师、可靠性工程师、失效分析工程师主办单位：中国赛宝实验室可靠性研究分析中心《具体内容见附件，如有需要参加培训的请联系熊小姐：020－87236986－212》[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=46744] 《失效分析技术及经典案例高级研修班》[/url]

我司[url=https://www.szcxwdz.com][b]创芯为电?[/b][/url]深耕于[url=https://www.szcxwdz.com][b]电子元器件[/b][/url]行业多年，经营有进口品牌的[url=https://www.szcxwdz.com][b]芯片[/b][/url]物料如：TI/ST/NXP/ADI/ON/MICROCHIP/MTK/REALTK/INFINEON/ALTERA/XILINX等等，与国内知名上市公司，车企，新能源，工控行业，均有密切合作，我司保证每一颗芯片都出自于原厂，不止为客户解决物料供应链短缺的问题，同时为客户提供一站式的配套和服务需求。

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“集成电路失效分析与可靠性案例”技术研讨会邀请函在IPFA2009（集成电路物理与失效分析国际会议，简称IPFA）即将在苏州举行之际，IPFA2009苏州组委会特举办此次“集成电路失效分析与可靠性案例”技术研讨会。IPFA是由IEEE成员运作，他们的宗旨是为器件可靠性与失效分析的专业群体服务。IPFA的会议进程包括各种讲座及各种专题讨论会，另外一项重要内容是同时举行的设备展。IPFA已经发展为全球举足轻重的可靠性与失效分析会议组织。1985年IEEE成立了失效分析分会，该分会于1987年在新加坡组织了首届IPFA国际会议。2001年之前，IPFA国际会议每半年举行一次。2002年起每年举行一次。2002年的IPFA国际会议取得了巨大成功。1999年起，IPFA与ISTFA之间进行最佳论文交换发表。即：IPFA1999的最佳论文同时发表于ISTFA2000，而ISTFA2000的最佳论文也发表于IPFA2001。IPFA与ESREF之间类似的交互活动也于2000-2001年起进行。目前，IPFA分别挑选最佳论文与ISTFA（失效分析方面）和ESREF（可靠性分析方面）交互发表。2003年起，IPFA与IEEE器件与材料可靠性杂志（TDMR）合作，从每年的IPFA论文集中挑选部分论文发表在IEEE TDMR的特刊上。五年以来，有超过25篇论文发表在TDMR的特刊上。通过收集IPFA的优秀论文，TDMR特刊在微电子的可靠性领域具有了很高的知名度。此次技术研讨会由具有工程实践和教学丰富经验的讲师主持，通过讲解大量案例,帮助与会者了解集成电路的失效分析与可靠性的技术手段。与本次技术研讨会同时举办的还有中国大陆最大规模的电子产品展览会--第72届中国电子展（China Electronics Fair），时间是2008年11月12日-2008年11月15日。中国电子展是亚洲电子展览联盟（AEECC）五大成员之一，与日本电子展、韩国电子展、台湾电子展、香港电子展并称为亚洲五大电子展。上海华碧检测技术有限公司作为国内最大的电子失效分析与可靠性技术服务平台同期参加第72届中国电子展，展位在1号馆1J49，欢迎届时光临！“电子产品失效分析与可靠性案例”技术研讨会具体事宜通知如下： 一、技术研讨会主办方：IPFA2009承办执行单位-上海华碧检测技术有限公司；二、时间、地点: 2008年11月14日上午9点至11点半上海浦东新国际博览中心W2馆M9会议室请在2008年11月11日前电子邮件传回执表。三、交通1、地铁凡是乘坐地铁来参加“电子产品失效分析与可靠性案例”技术研讨会的观众请注意：由于上海浦东新国际博览中心附近要建罗山路内环高架，部分道路封闭施工，请所有观众至世纪公园站下车，期间站口将有免费摆渡班车直接开往上海浦东新国际博览中心北登录大厅。若在龙阳路地铁站下车，则需步行前往展馆，大约10分钟步行时间。2、公交车* 983　　陆家嘴--上海新国际博览中心* 大桥五线　　复旦大学--上海新国际博览中心--张江高科技园区* 大桥六线　　上海交通大学（徐家汇）--上海新国际博览中心--张江高科技园区* 方川线　　方斜路--上海新国际博览中心--浦东国际机场* 申江线　　鲁山路--上海新国际博览中心--施镇* 机场三线　　扬子江宾馆--上海新国际博览中心--浦东国际机场3、自驾车自驾车的观众请登陆以下网址得到交通图http://www.icef.com.cn/fall/img/img20.gif四、课程对象：质量部经理、失效分析工程师、可靠性工程师、质量工程师、设计工程师、工艺工程师、研究员等；五、研讨会提纲：1、失效分析的基本流程概论a)失效分析概念区别介绍b)通过证据调查的流程判断失效分析结果的有效性2、IC元器件失效分析案例讲解c)失效分析流程对于IC连接性失效的盲区典型案例d)液晶IC短路失效的分析过程剖析典型案例e)引脚开路失效中的分析过程剖析典型案例f)IC直流参数性失效中电路分析的难处典型案例g)从工艺过程与模拟试验挖掘失效原因的典型案例h)闪存IC功能性失效的失效分析的典型案例i)PVC技术对芯片物理失效分析的典型案例j)ESD静电放电失效与EOS过电失效的现象区别3、PCBA焊点失效分析案例讲解a)PCB黑焊盘典型失效案例b)BGA焊点开裂失效原因与分析过程详解c)温度冲击与温湿度储存的可靠性试验对锡须生长的评估案例d)无铅过渡的润湿不良典型案例e)可焊性镀层科肯达尔效应引发的引线框架失效案例4、失效分析检测设备与技术手段概论a)失效背景调查b)电学失效验证c)X-ray透视检查d)SAM声学扫描观察e)开封Decapf)内部光学检查g)EMMI光电子辐射显微观察h)离子蚀刻、剥层分析De-processingi)金相切片Cross-sectionj)FIB分析k)电镜与能谱SEM/EDS、俄歇AES、XPS5、FEA有限元失效分析应用案例6、IPFA2009论文征集发布会Call for paper of IPFA2009六、师资介绍：林博士：在国家研究所和著名跨国公司从事电子电路及半导体封装的材料失效分析技术将近四十年。从事有限元建模，分析及编程工作十几年，解决了大量生产研发中的尖端课题，为企业节省了巨额资金和大量人力物力，并在国际刊物上发表相关论文近百篇从事和积累了大量电子电路及半导体封装的材料失效分析的案例，形成了自己独有的极有价值的分析理论和方法。在美国，新加坡从事半导体工作近二十年间，在用材料科学进行半导体失效分析方面是全球500强企业内人士公认的专家，曾到美国总部，新加坡大学，新加坡理工大学等处讲学。退休回国任技术顾问五年来，已被三所国内大学聘为兼职教授，讲授用材料科学进行半导体失效分析方面的课程，在材料失效分析方面拥有多项国际技术专利。刘先生：高级咨询师、专职讲师，硕士，上海交大材料系工科背景，IPFA国际物理与失效分析协会会员，电子元器件可靠性与失效分析、微观材料成份分析资深技术人士。有10余年的失效分析与可靠性工作经历，曾任英特尔公司可靠性与失效分析部门资深分析师，熟知各类实验室分析设备与技术手段，在集成电路失效分析与可靠性领域有丰富的实践经验，处理过大量生产线或者研发阶段的电子产品质量与可靠性异常案例，主持筹建过多个实验室，包括AMD半导体公司失效分析与可靠性实验室、信息产业部电子第五研究所失效分析与理化检测(华东)实验室、华碧失效分析与可靠性实验室。在失效分析和可靠性方面从事过的主要项目有：“叠层芯片内置电源PSIP的封装结构失效分析与可靠性设计项目” ；“闪存芯片的功能性失效机理研究”；“集成电路CS59工艺失效分析去层技术的研发”；“工业液晶线路板整机可靠性论证”；“电脑主板无铅工艺转换的失效分析与可靠性评估”等。在IPFA国际物理与失效分析协会的SCI检索刊物发表多篇论文，连续3年在各大企业的质量与可靠性人才培训中，讲授电子元器件可靠性物理与失效分析课程，累计培训了上万余人。

为适应RoHS需求，分析锡膏，锡球，电子元器件，PCB板和PCBA中的Pb，Br，Cr，Hg和Cd等元素，单位决定购买一台仪器，在ICP和XRF中选择。基本偏向于XRF，但需要进行论证。本人在这方面是新手。请大侠指导，用于进料等的检验以及失效分析等，为什么用XRF更好？另外，有人推荐XRF选 Horiba 的新产品XGT－5000。请告知 Horiba 的产品性能，质量，售后服务等如何。谢谢！！我们有时需要分析的区域（失效分析时）只有 0.1 毫米甚至更小，除了 Horiba 的XGT－5000外，还有其它哪种XRF产品可以选用？要求质量较好，耐用的。 Horiba 的XGT－5000的报价高达 17万多美元，太贵了。谢谢！！！

2010 第九届大连国际电子设备、电子元器件工业展览会时间：2010年5月12-14日 地点：大连星海会展中心主办单位： 中国电子学会 中国机电产品进出口商会 辽宁省人民政府 大连市人民政府 海外协办： 日本国际贸易促进协会 日中东北开发协会 大韩贸易投资振兴会社 台湾电子工会 承办单位： 大连华展展览服务有限公司支持媒体： 《元器件快递报》、《E代电子》、《电子资源》、《电子元器件应用》、《世界电子仪器商情》《半导体商情》、《大中华电子》、《表面贴装与半导体科技》、《电子变压器专辑》、《今日电子》、电子元器件交易网、电子展览网、电子设备材料、电子查询网、亚太资源网、第一电子网、ICBUY、全球IC采购网、电子贸易网、连接世界、中国覆铜板综合信息网前言：辽宁沿海经济带发展规划上升为国家战略，大连将发挥核心和龙头作用！2009年7月1日，国务院将《辽宁沿海经济带发展规划》上升为国家战略，辽宁沿海六城市（大连、营口、葫芦岛、盘锦、锦州、丹东）将成为具有经济特区特征的新经济发展带。作为东北地区核心和龙头，大连将发挥类似深圳和上海的辐射和牵动作用，带动东北地区经济快速发展。大连是东北地区重要的装备制造业基地，也是东北最重要的电子产业基地.近四年来大连信息产业年均增长速度高达54%，电子制造业工业总产值占东北地区61.6%，销售收入和出口分别占东北地区的57%和64.6%。知名企业英特尔、欧姆龙、西门子、东芝、松下、日立、佳能、阿尔派、阿尔卑斯、LG、华录、路明、富士康、海尔等在东北均设有生产基地，电子设备及元器件需求企业仅大连就拥有上万家，电子设备和电子产品市场巨大；特别07年投资25亿美元的英特尔项目进展顺利，是其在亚洲最大的芯片生产基地， 2010年将如期投产，相关配套服务厂商已有数百家积极洽谈进驻大连，预计大连集成电路产业和金融服务业等方面的外商投资企业将达到近千家，在未来5年间达到50亿至100亿美元的规模.展会回顾：大连电子展历经八年努力，现已成为北方地区举足轻重，不可或缺的一个电子专业展览会，上届展会展出总面积10000平方米，受到国内外电子厂商的关注，观众满意率达到90%，参展商满意率达到80%。美国杜邦、台湾来扬、香港爱克斯、香港三惠、松日科技、日本村田、美国FLUKE、美国Raytek、日本日友、日本电产、东芝、西门子、欧姆龙、中国华录、路明集团、辽无二厂、台湾KSS、台湾千如、美国飞索、町洋机电、日本美上美、日本APollock Seiko、台湾广泰电机、日本AVIO、爱默生、韩国海力士、日本Ferrotec、上海华伟Ginantlok、日本尼康、合兴集团、上海伟科、上海双科、云南YT、台湾华德、深圳优龙、厦门银华、丹东国通、万隆光电、大华电子、洁丽纸业、恒丰五金、天峰电子、吉星电子、白光电子、怡达电气、德昌电子、雅拓莱焊料、洋光欧利、天豪电子、怡得乐电子、太和电路板、合利仪器、深圳兴业卓辉、上海格州电子、深圳新纶、华宇电子、晨翔电子等企业悉数参展。从而也让人们对于新一届展会充满了信心与期待。东北第一的电子展，在沿海经济带的中心大连举办，期待贵公司的参与！展品范围：一、各类电子设备 三、特设展区1、各类电子生产、加工、成型、维修设备 1、SMT、IC展区 组装、封装设备等 2、清洗、净化、防静电展区2、PCB、表面贴装产品； 3、LED光电展区3、测试设备、仪器仪表、电子工具等 4、线缆、连接、开关展区二、电子元器件1、电子元件、电子器件等2、电子原材料等展 位 费 用：1、标准展位国内企业：3M X3M 5600人民币（主通道两侧加价20%）国外企业：3M X3M 2000美元（主通道两侧加价20%）注：标准展位配备： 三面壁板（双面开口两面壁板）、楣板制作，洽谈做一张、两把椅子、5A电源插座（仅限500W以内视听设备）一个，射灯两只。2、室内光地国内企业：540元/平方米 （不少于36平方米，主通道两侧加价20%）国外企业：200美元/平方米 （不少于36平方米，主通道两侧加价20%）注：展台特别装修，特装管理费由参展商自理组委会联系方式：联系人： 赵文营 15904961725传 真： 0411－82310692 E-mail: dlhzzwy@163.com地 址：大连市中山区友好路211号商务特区1203室

如何准确检测元器件的相关参数，判断元器件是否正常，不是一件千篇一律的事，必须根据不同的元器件采用不同的方法。以下对常用电子元器件的检测方法进行介绍。 一、电阻的检测方法： 　　1固定电阻的检测 A将两表笔(不分正负)分别与电阻的两端引脚相接，即可测出实际电阻值。为了提高测量精度，应根据被测电阻标称值的大小来选择量程。由于欧姆挡刻度的非线性关系，它的中间一段分度较为精细，因此应使指针指示值尽可能落到刻度的中段位置，即全刻度起始的20％～80％弧度范围内，以使测量更准确。根据电阻误差等级不同。读数与标称阻值之间分别允许有±5％、±10％或±20％的误差。如不相符，超出误差范围，则说明该电阻值变值了。 B注意：测试时，特别是在测几十kΩ以上阻值的电阻时，手不要触及表笔和电阻的导电部分；被检测的电阻从电路中焊下来，至少要焊开一个头，以免电路中的其他元件对测试产生影响，造成测量误差；色环电阻的阻值虽然能以色环标志来确定，但在使用时最好还是用万用表测试一下其实际阻值。 　　2熔断电阻器的检测 在电路中，当熔断电阻器熔断开路后，可根据经验作出判断：若发现熔断电阻器表面发黑或烧焦，可断定是其负荷过重，通过它的电流超过额定值很多倍所致；如果其表面无任何痕迹而开路，则表明流过的电流刚好等于或稍大于其额定熔断值。对于表面无任何痕迹的熔断电阻器好坏的判断，可借助万用表R×1挡来测量，为保证测量准确，应将熔断电阻器一端从电路上焊下。若测得的阻值为无穷大，则说明此熔断电阻器已失效开路，若测得的阻值与标称值相差甚远，表明电阻变值，也不宜再使用。在维修实践中发现，也有少数熔断电阻器在电路中被击穿短路的现象，检测时也应予以注意。 　　3电位器的检测。检查电位器时，首先要转动旋柄，看看旋柄转动是否平滑，开关是否灵活，开关通、断时“喀哒”声是否清脆，并听一听电位器内部接触点和电阻体摩擦的声音，如有“沙沙”声，说明质量不好。用万用表测试时，先根据被测电位器阻值的大小，选择好万用表的合适电阻挡位，然后可按下述方法进行检测。 A 用万用表的欧姆挡测“1”、“2”两端，其读数应为电位器的标称阻值，如万用表的指针不动或阻值相差很多，则表明该电位器已损坏。 B 检测电位器的活动臂与电阻片的接触是否良好。用万用表的欧姆档测“1”、“2”(或“2”、“3”)两端，将电位器的转轴按逆时针方向旋至接近“关”的位置，这时电阻值越小越好。再顺时针慢慢旋转轴柄，电阻值应逐渐增大，表头中的指针应平稳移动。当轴柄旋至极端位置“3”时，阻值应接近电位器的标称值。如万用表的指针在电位器的轴柄转动过程中有跳动现象，说明活动触点有接触不良的故障。 　　4正温度系数热敏电阻(PTC)的检测 检测时，用万用表R×1挡，具体可分两步操作： A 常温检测(室内温度接近25℃) 将两表笔接触PTC热敏电阻的两引脚测出其实际阻值，并与标称阻值相对比，二者相差在±2Ω内即为正常。实际阻值若与标称阻值相差过大，则说明其性能不良或已损坏。 B 加温检测 在常温测试正常的基础上，即可进行第二步测试—加温检测，将一热源(例如电烙铁)靠近PTC热敏电阻对其加热，同时用万用表监测其电阻值是否随温度的升高而增大，如是，说明热敏电阻正常，若阻值无变化，说明其性能变劣，不能继续使用。注意不要使热源与PTC热敏电阻靠得过近或直接接触热敏电阻，以防止将其烫坏。 　　5负温度系数热敏电阻(NTC)的检测 (1) 测量标称电阻值Rt ：用万用表测量NTC热敏电阻的方法与测量普通固定电阻的方法相同，即根据NTC热敏电阻的标称阻值选择合适的电阻挡可直接测出Rt的实际值。但因NTC热敏电阻对温度很敏感，故测试时应注意以下几点：A Rt是生产厂家在环境温度为25℃时所测得的，所以用万用表测量Rt时，亦应在环境温度接近25℃时进行，以保证测试的可信度。 B 测量功率不得超过规定值，以免电流热效应引起测量误差。 C 注意正确操作。测试时，不要用手捏住热敏电阻体，以防止人体温度对测试产生影响。 (2) 估测温度系数αt ：先在室温t1下测得电阻值Rt1，再用电烙铁作热源，靠近热敏电阻Rt，测出电阻值RT2，同时用温度计测出此时热敏电阻RT表面的平均温度t2再进行计算。 　　6压敏电阻的检测 用万用表的R×1k挡测量压敏电阻两引脚之间的正、反向绝缘电阻，均为无穷大，否则，说明漏电流大。若所测电阻很小，说明压敏电阻已损坏，不能使用。 　　7光敏电阻的检测。 A 用一黑纸片将光敏电阻的透光窗口遮住，此时万用表的指针基本保持不动，阻值接近无穷大。此值越大说明光敏电阻性能越好。若此值很小或接近为零，说明光敏电阻已烧穿损坏，不能再继续使用。 B 将一光源对准光敏电阻的透光窗口，此时万用表的指针应有较大幅度的摆动，阻值明显减小。此值越小说明光敏电阻性能越好。若此值很大甚至无穷大，表明光敏电阻内部开路损坏，也不能再继续使用。 C 将光敏电阻透光窗口对准入射光线，用小黑纸片在光敏电阻的遮光窗上部晃动，使其间断受光，此时万用表指针应随黑纸片的晃动而左右摆动。如果万用表指针始终停在某一位置不随纸片晃动而摆动，说明光敏电阻的光敏材料已经损坏。

有没有电子元器件如电容，电阻等电学测试的能力验证机构信息或项目信息

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除了GJB4027A-2006军用电子元器件破坏性物理分析方法，还有更权威的规范资料吗？

Dear: 您好！ 08年10月14日(周二) 华碧检测-苏州实验室再将开展公益性的“电子元器件可靠性与失效分析案例”高级技术讲座，内容丰富多彩,极具实用性,详见附件。 适合对象：质量部，生产部，RD部，失效分析工程师，可靠度工程师，质量工程师， 工艺工 程师，研究员等 地址：苏州园区国际科技园三期费用：免费午餐：免费席位有限，300人报满为止席位已经不多，一家公司限2-3人。请从速报名，回执表请填写完整回复。谢谢 上海华碧检测-苏州实验室(恭呈)回 执 表报名单位名称： 序姓 名性别职务电 话邮 箱1 2 34是否住宿是□ 否□食宿标准宿：280-300元/标间（费用自理）；食：午餐免费、其他费用自理。请注明欲参加班次（请在括号里打√） 苏州〖 〗2008年10月 14日注意： 此表格请填写完整，会议需凭本人名片和回执单入场，以便领取会议资料。 回执名单后请与我司人员电话联系，以便我们确认收到您的回执单。 发件人： 张文 电话：15062353638 Zhangwen19830209@163.com

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