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SENTECH SER 800 PV光谱椭偏仪符合PERC、TOPCON、HJT和钙钛矿技术等新型太阳能电池技术的研发要求。它操作简单，具有高测量灵敏度、去偏振校正和特殊的聚光光学元件，使其成为在粗糙样品表面上进行光伏应用的理想工具
抗反射涂层和钝化层可以在纹理单晶硅片和多晶硅片上测量。
SiO2 涂层/ SiNx, Al2O3 / SiNx, and SiNx1 / SiNx2, poly-Si, aSi / ITO,都可以分析。
SENTECH SER 800 PV 光谱椭偏仪为专家和初学者都提供了简单的操作。配方模式特别适用于质量控制中所需的常规应用。
SENTECH SER 800 PV 是分析纹理晶体和多晶硅太阳能电池上抗反射涂层和功能层的理想工具。单片薄膜（SiNx, SiO2, TiO2, Al2O3, ITO, aSi, 多晶硅和钙钛矿）和多层堆叠物（(SiNX / SiO2, SiNx1 / SiNx2, SiNx / Al2O3, …)可以测量。
该工具基于步进扫描分析仪测量模式。步进扫描分析仪模式允许将测量参数与粗糙的样品表面相匹配，而所有光学部件都处于静止状态。SENTECH SER 800 PV 的光源、光学元件和检测器经过优化，可快速准确地测量光伏应用中的折射率、吸收和薄膜厚度。此外，该工具还满足 SENresearch 光谱椭偏仪系列的所有要求。
SpectraRay/4 是 SENTECH 专有的椭偏仪软件，用于 SENTECH SER 800 PV，包括两种操作模式。配方模式允许轻松执行质量控制中的常规应用。带有指导性图形用户界面的交互模式适用于研发应用和新配方的开发。
产品货期: 60天
整机质保期: 1年
培训服务: 安装调试现场免费培训
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