ME-L 穆勒矩阵光谱椭偏仪
ME-L 穆勒矩阵光谱椭偏仪

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颐光科技

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ME-L

--

中国大陆

  • 金牌
  • 第5年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数

产地类别: 国产

光谱范围: 380-1000nm 210-1650nm 193-1650nm 210-2500nm

光斑尺寸: 200*500um 100*250um 40*80um

入射角: 45°-90°,自动变角

测量速度: ≦15s(单点)

样品尺寸: 4-12英寸

膜厚测量准确度: 0.5nm@100nm标片

测量重复性: ≦0.005nm

创新点

ME-L 是一款科研级全自动高精度穆勒矩阵型椭偏仪

一、概述

       ME-L 是一款科研级全自动高精度穆勒矩阵型椭偏仪,凝聚了颐光科研团队在椭偏技术多年的投入,具备  全穆勒矩阵测量技术  双旋转补偿器同步控制技术 超级消色差补偿器设计技术 纳米光栅表征测量技术   等技术。可应用于各种各向同性/异性薄膜材料膜厚、光学纳米光栅常数以及一维/二维纳米光栅材料结构的表征分析。

■ 双旋转补偿器(DRC)配置一次测量全部穆勒矩阵16个元素;

■ 配置自动变角器、五维样件控制平台等优质硬件模块;

■ 软件交互式界面配合辅助向导式设计,易上手、操作便捷;

■ 丰富的数据库和几何结构模型库,保证强大数据分析能力

二、产品特点

■ 采用氘灯和卤素灯复合光源,光谱覆盖紫外到近红外范围 (193-2500nm);

■ 可实现穆勒矩阵数据处理,测量信息量更大,测量速度快、数据更加精准;

■ 基于双旋转补偿器设计,一次测量获得全穆勒矩阵16个元素,相对传统光谱椭偏仪可获取更加全面量测信息;

■ 颐光核心技术确保在宽光谱范围内,提供优质稳定的各波段光谱;

■ 数百种材料数据库、多种算法模型库,涵盖了目前绝大部分的光电材料;

■ 集成对纳米光栅的分析,可同时测量分析纳米结构周期、线宽、线高、侧壁角、粗糙度等几何形貌信息。


使用颐光科技椭偏仪系列产品,(部分)提及并标注“Eoptics Technology”文献信息

✽ "Atomic-level chemical reaction promoting external quantum efficiency of organic photomultiplication photodetector exceeding 108% for weak-light detection." Science Bulletin(2023).

影响因子:18.9,单位:太原理工大学,通讯作者:崔艳霞 等

✽ "La-doped PMN–PT transparent ceramics with ultra-high electro-optic effect and its application in optical devices." Journal of Advanced Ceramics(2023).

影响因子:16.89,单位:华中科技大学集成电路学院,通讯作者:傅邱云 等

✽ "Giant in-plane optical and electronic anisotropy in tellurene: a quantitative exploration." Nanoscale(2022).

影响因子:7.79,单位:华中科技数字装备制造国家重点实验室,通讯作者:谷洪刚,刘世元 等

✽ "Utilization of Trapped Optical Modes for White Perovskite Light-Emitting Diodes with Efficiency over 12%." Joule (2021).

影响因子:39.8,单位:华南理工大学,通讯作者:彭俊彪,叶轩立 等

✽ "Delocalization of exciton and electron wavefunction in non-fullerene acceptor molecules enables efficient organic solar cells."Nature Communications(2020).

影响因子:17.7,单位:华南理工大学,通讯作者:叶轩立,曹镛 等

✽ "Enhanced light emission of quantum dot films by scattering of poly(zinc methacrylate) coating CdZnSeS/ZnS quantum dots and high refractive index BaTiO3 nanoparticles." ACS Nano (2020).

影响因子:18.9,单位:南方科技大学,通讯作者:孙小卫 等

✽ "24.1% External Quantum Efficiency of Flexible Quantum Dot Light-Emitting Diodes by Light Extraction of Silver Nanowire Transparent Electrodes." Advance Optical Materials (2018).

影响因子:10.5,单位:武汉光电国家研究中心,通讯作者:胡彬,王磊 等

✽ "Heat-Insulating Multifunctional Semitransparent Polymer Solar Cells." Joule (2018).

影响因子:39.8,单位:华南理工大学发光材料与器件国家重点实验室,通讯作者:叶轩立,黄飞 等

✽ "Layer-Dependent Dielectric Function of Wafer-Scale 2D MoS2." Advance Optical Materials (2018).

影响因子:10.5,单位:华中科技数字装备制造国家重点实验室,通讯作者:刘世元 等

✽ "Ellipsometric study of the complex optical constants of a CsPbBr3 perovskite thin film." Journal of Materials Chemistry C(2017).

影响因子:8.06,单位:山东大学,通讯作者:连洁 等

✽"High-Performance Polymer Tandem Solar Cells Employing a New n-Type Conjugated Polymer as an Interconnecting Layer." Advance Materials(2016).

影响因子:32.08,单位:华南理工大学发光材料与器件国家重点实验室,通讯作者:叶轩立,黄飞 等



可选配件
TCS.png

Mapping.png

ME-L0.png

ME-L.png

温控台Mapping模块真空气泵透射夹具


技术参数

ME-L.JPG

ME-参数.JPG

相关方案

  • ME-L系列椭偏仪非常适用于纳米级光栅的结构周期、线宽、线高、侧壁角、粗糙度等几何形貌信息的测量与分析,并能快速一次性完成其多个重要参数测量。同时支持定制化整合于工艺流程实现实时在线监测,大幅度提升企业的整合生产效率。

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  • 通过颐光系列椭偏仪可以快速准确表征LED电致发光层中多层膜的膜厚和光学常数等重要参数,确保材料以及产品的品质。此外采用集成式在线监测装备系统PMS支持定制,可快速准确完成产品的测量任务之同时完美整合到生产工艺流程中,大幅度降低企业生产成本并提高生产效率,确保产品的市场竞争力,实现企业价值最大化。

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  • 通过颐光系列椭偏仪可以快速准确表征LED电致发光层中多层膜的膜厚和光学常数等重要参数,确保材料以及产品的品质。此外采用集成式在线监测装备系统PMS支持定制,可快速准确完成产品的测量任务之同时完美整合到生产工艺流程中,大幅度降低企业生产成本并提高生产效率,确保产品的市场竞争力,实现企业价值最大化。

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售后服务承诺

保修期: 1年

是否可延长保修期:

现场技术咨询:

免费培训: 一年内不限次数培训

免费仪器保养: 3月一次

保内维修承诺: 免费更换部件(易损易耗件除外)

报修承诺: 若远程无法解决,承诺24小时内到客户现场进行维修

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颐光科技椭偏仪ME-L的工作原理介绍

椭偏仪ME-L的使用方法?

颐光科技ME-L多少钱一台?

椭偏仪ME-L可以检测什么?

椭偏仪ME-L使用的注意事项?

颐光科技ME-L的说明书有吗?

颐光科技椭偏仪ME-L的操作规程有吗?

颐光科技椭偏仪ME-L报价含票含运吗?

颐光科技ME-L有现货吗?

ME-L 穆勒矩阵光谱椭偏仪信息由武汉颐光科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于ME-L 穆勒矩阵光谱椭偏仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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