Bruker椭偏仪  FilmTek CD
Bruker椭偏仪  FilmTek CD

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布鲁克

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FilmTek CD

--

欧洲

  • 白金
  • 第11年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数

产地类别: 进口

光谱范围: 190 nm - 1000 nm

光斑尺寸: 50 µm

单次测量时间: 2秒

膜厚测量准确度: NIST可追溯标准氧化物的±1.0Å,100Ç至1µm

  • 光谱分辨率: 0.3 nm

Bruker FilmTek CD椭偏仪

——多模态临界尺寸测量和先进薄膜计量学

想了解相关产品,可联系上海尔迪仪器科技有限公司,拨打电话021-61552797


 

FilmTekTM CD光学临界尺寸系统是我们的领先解决方案,可用于1x nm设计节点及更高级别的全自动化、高通量CD测量和高级薄膜分析。该系统同时提供已知和完全未知结构的实时多层堆叠特性和CD测量。


FilmTek CD利用多模测量技术来满足与开发和生产中最复杂的半导体设计特征相关的挑战性需求。这项技术能够测量极小的线宽,在低于10纳米的范围内进行高精度测量。


依赖传统椭圆偏振仪或反射仪技术的现有计量工具在实时准确解析CD测量的能力方面受到限制,需要在设备研究和开发期间生成繁琐的库。FilmTek CD通过获得多模态测量技术克服了这一限制,该技术甚至为完全未知的结构提供了精确的单一解决方案。


FilmTek CD包括具有快速、实时优化功能的专有衍射软件。实时优化允许用户以最小的设置时间和配方开发轻松测量未知结构,同时避免与库生成相关的延迟和复杂度。

 

测量能力:


·厚度、折射率和光盘计量
·未知薄膜的光学常数表征
·超薄膜叠层厚度
·广泛的关键尺寸测量应用,包括金属栅极凹槽、高k凹槽、侧壁角、抗蚀剂高度、硬掩模高度、沟槽和接触轮廓以及间距行走

 

系统组件:



标准:
 
可选:
 
用于在1x nm设计节点及更远处实时多层堆叠特性和CD测量的多模测量技术
具有专有严格耦合波分析(RCWA)的  多角度散射测量
正入射椭圆偏振光谱法
旋转补偿器设计的光谱广义椭圆偏振法(4×4矩阵广义法)
多角度、DUV-NIR偏振光谱反射(Rs、Rp、Rsp和Rps)
全CD参数测量,包括周期、线宽、沟槽深度和侧壁角度
独立测量薄膜厚度和折射率
抛物面镜技术–在50×50µm功能范围内测量小光斑尺寸
快速、实时优化允许以最短的设置时间实现广泛的应用程序(无需生成库)
模式识别(Cognex)
盒式到盒式晶片处理
FOUP或SMIF兼容

SECS/GEM

为了适应广泛的预算和最终用途应用,该系统还可作为手动负载、台式设备用于研发

 

典型应用包括:

半导体研发与生产


技术规格


膜厚范围0 Å to 150 µm
膜厚精度NIST可追溯标准氧化物的±1.0Å,100Ç至1µm
光谱范围190 nm - 1000 nm (220 nm - 1000 nm is standard)
光斑尺寸的测量50 µm
光谱分辨率0.3 nm
光源调节氘卤素灯(寿命2000小时)
探测器类型2048像素索尼线阵CCD阵列
电脑带Windows的多核处理器™ 10操作系统
测量时间~2 sec (e.g., oxide film)

 

性能规格

 

Film(s)测量参数精确 ()
氧化物/硅0 - 1000 Åt0.03 Å
1000 - 500,000 Å    t0.005%
1000 Åt , n0.2 Å / 0.0001       
15,000 Åt , n0.5 Å / 0.0001
150.000 Åt , n1.5 Å / 0.00001
氮化物 /硅200 - 10,000 Åt0.02%
500 - 10,000 Åt , n0.05% / 0.0005
光刻胶 / 硅200 - 10,000 Åt0.02%
500 - 10,000 Åt , n0.05% / 0.0002
多晶硅 /氧化物/硅 200 - 10,000 ÅPoly , t Oxide0.2 Å / 0.1 Å
500 - 10,000 ÅPoly , t Oxide0.2 Å / 0.0005


售后服务承诺

保修期: 1年

是否可延长保修期:

现场技术咨询:

免费培训: 现场操作培训

免费仪器保养: 1年1次

保内维修承诺: 免费更换部件,玻璃制品和耗材除外

报修承诺: 24~48小时到达现场进行维修

  • 2023年上海尔迪仪器科技有限公司产品册

    11427MB 2023-05-24
  • ——多模态临界尺寸测量和薄膜计量学 FilmTekTM CD光学临界尺寸系统是我们解决方案,可用于1x nm设计节点及更高级别的全自动化、高通量CD测量和高级薄膜分析。该系统同时提供已知和完全未知结构的实时多层堆叠特性和CD测量。

    11MB 2022-09-13
  • 椭偏仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量仪器。

    12MB 2022-08-22
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布鲁克椭偏仪FilmTek CD的工作原理介绍

椭偏仪FilmTek CD的使用方法?

布鲁克FilmTek CD多少钱一台?

椭偏仪FilmTek CD可以检测什么?

椭偏仪FilmTek CD使用的注意事项?

布鲁克FilmTek CD的说明书有吗?

布鲁克椭偏仪FilmTek CD的操作规程有吗?

布鲁克椭偏仪FilmTek CD报价含票含运吗?

布鲁克FilmTek CD有现货吗?

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