¥160万 - 161万
致真精密仪器
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Wafer Mapper-M
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中国大陆
仪器种类： 原子力显微镜
产地类别： 国产
仪器类型： 工业型
定位检测噪声： 开环0.03nm。闭环0.06nm
样品尺寸： 最大12吋
样品台移动范围： ±150mm×150mm
创新点
晶圆级兼容性：设计用于直接在大尺寸晶圆上进行测量，最大支持高达300mm的晶圆。这一特点使其特别适合于半导体制造过程中的缺陷检测、表面粗糙度测量和材料特性评估。 高分辨率成像：采用了先进的探针技术和改进的反馈控制系统，显著提高了AFM的空间分辨率。这使得能够观察到更细微的表面结构和特征，对于研究材料的微观性质和行为至关重要。 多模式测量能力：结合了多种AFM模式，如接触模式、轻敲模式、横向力显微镜、磁力显微镜、压电力显微镜等，提供了更灵活的测量选项。这使得能够根据不同的样品特性和测量需求选择最合适的模式，扩大了应用范围。
为您推荐相似的扫描探针显微镜SPM（原子力显微镜AFM、扫描隧道显微镜STM）
产品介绍
致真精密仪器-晶圆级原子力显微镜AFM利用微悬臂探针结构可对导体、半导体、绝缘品等固体材料进行三维样貌表征，可实现大晶圆级大样品形貌表征,电动样品定位台与光学图像相结合,可在 300X300 mm 区域实现1 um的定位精度,激光对准,探针逼近和扫描参数调整完全自动化操作。
致真精密仪器-晶圆级原子力显微镜AFM设备性能
XY方向噪声水平0.2 nm闭环,0.02nm开环
★Z方向噪声水平0.06nm闭环,0.03nm开环
★XY方向非线性度0.15%;Z方向非线性度:1%
扫描范围90umX90umX9um(典型值)80umX80umX8.5um(最小值)鸢0.58 x~7 x光学变倍镜头,光学分辨率可达3.45 um,可3 mm焦距微调样品尺寸:可检测12英寸晶圆并且向下兼容8、6、4英寸以及碎片样品,可自动上下料(选配)全自动探针逼近系统,行程35 mm,步进精度50 nm
致真精密仪器-晶圆级原子力显微镜AFM设备特色
工作模式:接触模式、轻敲模式、非接触模式、相位成像等
工作模式适配环境:空气、液相
可旋转式扫描头，更方便于更换探针以及多功能探针夹自动化位移台搭配0.58x~7x变倍光学变倍镜头更方便寻找样品适配12英寸晶圆并向下兼容各种晶圆尺寸
多功能配置:力曲线/力谱测量、表面电势测量、横向力显微镜、静电力显微镜、磁力显微镜、
压电力显微镜、扫描开尔文探针显微镜;刻蚀和纳米操作
产品货期: 110天
整机质保期: 1年
培训服务: 安装调试现场免费培训
安装调试时间: 到货后10天内
电话支持响应时间: 2小时内
是否提供维保合同: 是
维修响应时间: 1天内
致真精密仪器扫描探针Wafer Mapper-M的工作原理介绍
扫描探针Wafer Mapper-M的使用方法?
致真精密仪器Wafer Mapper-M多少钱一台?
扫描探针Wafer Mapper-M可以检测什么？
扫描探针Wafer Mapper-M使用的注意事项？
致真精密仪器Wafer Mapper-M的说明书有吗？
致真精密仪器扫描探针Wafer Mapper-M的操作规程有吗？
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致真精密仪器Wafer Mapper-M有现货吗？
