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它采用了自动控制(光栅、狭缝、探测器)的高分辨率单色仪来进行全谱的连续测量。可见波段采用光电倍增管探测器，而近红外波段采用InGaAs光电二管。
光谱型椭偏仪的光谱范围非常重要，因为它决定了仪器的应用范围。
*长波长给在可见波段系数光的全部材料提供了一个厚度测量的透明窗口。
*大厚度薄膜的测量分析更加准确
UVISEL NIR主要为半导体、光学镀膜、光电子和通信应用而专门设计。
详细指标参数可访问
*在近红外－可见波段内测量分析以下薄膜和多层膜的厚度和光学常数 :
- 介质
- 半导体
- 导电氧化物
- 化合物
- 金属薄膜
- 玻璃
*化合物组分分析
*硅材料结晶度的测量分析
*特殊波段的近红外应用(1550，1330，.nm)
*可测膜厚达40微米的薄膜样品
*材料属性：渐变、各向异性、多孔层
UVISEL ER的高度灵活性使之适用于一系列的应用：
*材料研究
*显示器件
*半导体
*光学镀膜
*化学和生物工程设计
*动态过程研究
生物产业 2004-08-02
材料 2004-08-02
材料 2004-08-02
材料 2004-08-02
材料 2009-02-18
材料 2004-08-02
材料 2004-08-02
材料 2004-08-02
生物产业 2004-08-02
其他 2004-08-02
石油/化工 2004-08-02
Jobin Yvon公司采用光电调制技术生产的UVISLE， MM16椭偏仪，在精度，稳定性等方面达到了一个新的水平。文章主要说明了电光调制型椭偏仪的工作原理和特点。
Some application on OLED(useing ellipsometer)
