荧光光谱仪

HORIBA Jobin Yvon 引入了一个新的皮秒荧光寿命测量仪器：MF2。荧光科学家们现在有了一个重要的工具可以帮助他们认识实时的自然过程。MF2是基于在HORIBA Jobin Yvon中发展起来的独特的技术，相对于传统的方法，它可以使数据收集的速率增加10，000倍，使动力学范围增加1000倍。

现有的荧光体系提供了灵敏性，选择性和宽的时间分辨率。有了HORIBA Jobin Yvon的仪器，我们可以测量分子荧光的持续时间为皮秒到纳秒之间，甚至于更长。两种好的测量方法是“时间相关单光子计数”(TCSPC)和“相位调制”（频域）。HORIBA Jobin Yvon 在提供基于以上两种方法的高性能的仪器上是有竞争优势的。频域记录了光电倍增管的响应，揭示了与激发光束相关的正弦荧光发射的相位和调制振幅。在几个调制频率下进行以上重复测量就得到了荧光寿命。然而，这种方法的时序性质需要更多的时间来完成实验。很显然，这种方法需要改进。

HORIBA Jobin Yvon 利用近在频率合成方面的进展，专门发展了一种可以避开传统限制的新技术。通过把多重频率分组为一种高频波的形式，大地扩大了可以得到的频率范围，我们把测量荧光寿命的时间从分钟级降低到毫秒级，达到了10，000倍的改变。我们把这次在仪器使用上的变革称为MF2，它带来了以往难以达到的实验速度和性能。

*HORIBA Jobin Yvon 的变革：快速MF2技术… 
*MF2把速度和精密度联合起来用于实时动力学检测荧光寿命…