核心参数
产地类别: 进口
少子寿命测量范围: 20ns到几ms
电阻率测量范围: 无需时常校准的电阻率面扫描
测试材料: 硅半导体材料 - 硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶、硅块、硅片等,锗半导体材料
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