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蔡司Sigma系列产品集场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)技术与良好的用户体验于一体,助您轻松实现构建成像和分析程序,同时提高工作效率。您可以将其用于新材料和颗粒的质量监测,或研究生物和地质样本。Sigma可实现高分辨率成像,它采用低电压,能在1 kV或更低电压下实现更高的分辨率和对比度。它出色的EDS几何学设计可执行高级显微分析,以两倍的速度和更高的精度获取分析数据。
使用Sigma系列,畅游高端纳米分析世界。
Sigma 360是一款直观的成像和分析FE-SEM,是分析测试平台的理想之选。
从设置到获取基于人工智能的结果,均提供专业向导,为您保驾护航,助您探索直观成像工作流。
可在1 kV和更低电压下分辨差异,实现更高的分辨率和对比度。
可在极端条件下执行可变压力成像,获得出色的非导体成像结果。
对聚苯乙烯样品进行断裂,以了解聚合物界面处的裂纹形成和附着力。Sigma 360,C2D,3 kV,NanoVP lite模式,样品室压力60Pa。
可在极端条件下完成可变压力成像
用于分析和成像的NanoVP lite模式
新NanoVP lite模式和新探测器很容易在电压低于5 kV时,从非导体中轻松获取高质量数据。这样,就可增强成像和X射线能谱分析的性能,提供更多表面敏感信息,缩短采集时间,增强入射电子束流,提高能谱面分布分析速度。aBSD1(环形背散射电子探测器)或新一代C2D(级联电流)探测器可确保在低电压条件下采集到出色图像。
将多模式实验与Connect Toolkit相结合,或使用Materials应用程序分析显微结构、晶粒尺寸或涂层厚度
直观成像工作流为您指引方向
从设置到获取基于人工智能的结果,每一步都清晰明了,使您是新手用户,也能轻松获得专业结果。
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Sigma系列获取图像迅速,易于学习和使用的工作流可节省培训时间,简化从导航到后期处理的每个步骤,让您如虎添翼。蔡司SmartSEM Touch中的软件自动化可助您完成导航、参数设置和图像采集等步骤。接下来,ZEN core便可大显身手:它配备针对具体任务的工具包,适用于后期处理。我们十分推荐人工智能工具包,它可助您基于机器学习进行图像分割。
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可在1 kV和更低电压条件下分辨差异增强的分辨率。优化的衬度