解决方案_冠乾科技（上海）有限公司

您好，欢迎访问仪器信息网

搜全站

搜展位

冠乾科技（上海）有限公司

关注

已关注

铜牌7年

已认证

粉丝量 0

400-860-5168转4149

仪器信息网认证电话，请放心拨打

全部分类

首页

SiC外延片测试方案

应用领域

半导体

检测样品

光电器件

检测项目

SiC外延片测试方案

外延材料是实现器件制造的关键，主要技术指标有外延层厚度、晶格布局，材料结构，形貌以及物理性质，表面粗糙度和掺杂浓度等。本文介绍了关于以上指标的测试解决方案。

共3台

布鲁克扫描探针显微系统 Dimension Icon

Dimension Icon

面议

查看更多配置单>>

布鲁克纳米红外光谱仪（nanoIR）采用光热诱导共振技术(AFM-IR)实现微小区域红外信号的采集。红外激光照射到样品上，样品吸收辐射光产生热膨胀，这种热膨胀引发探针的震荡，通过监控探针的震荡强度获得红外吸收强度。AFM-IR利用原子力探针作为样品红外吸收的传感器，实现了超高灵敏度的光谱和红外成像探测，化学成像分辨能力可以达到10nm。近期，澳大利亚悉尼大学悉尼药学院团队将纳米红外光谱方法引入到单个EV结构的检测中，展示了其在同一EVs和不同EVs群体之间揭示个体EVs异质性的能力。

共1台

布鲁克nanoIR 3-s AFM红外原子力显微镜

nanoIR 3-s AFM

面议

查看更多配置单>>

指定位点的化学掺杂在有机半导体晶体表面的电子分布表征解决方案

应用领域

半导体

检测样品

集成电路

检测项目

特性

本文描述了一种独特的、特定位点的n型掺杂机制，用两种有机半导体的单晶做实验，用特定位点的兴奋剂消除电子陷阱并增加背景电子浓度，使晶体拥有更优异的导电性。掺杂晶体组成的场效应晶体管（FET）的电子传输特性得到显著改善。增强了FET的电特性。表面化学掺杂是专门针对晶体层间边界，即已知的电子陷阱，钝化陷阱并释放流动电子设计的掺杂方法。化学方法掺杂对晶体的电子传输的影响是巨大的，FET中电子迁移率增加了多达10倍，并且其与温度相关的行为从热激活转变为带状。研究结果表明新的位点掺杂有机半导体的策略与传统的随机分布取代的氧化还原化学不同，这个有趣的结果表明针对特定位点的掺杂可能是一种富有成效的新的有机半导体材料掺杂的策略，拓展了有机半导体材料在电子学方面的应用前景。

共2台

布鲁克扫描探针显微系统 Dimension Icon

Dimension Icon

面议

查看更多配置单>>

Optonor激光测量物体振动解决方案

应用领域

电子/电气

检测样品

检测项目

物体振动

振动可以实时测量，更可以用数字方式测量，准确记录振幅和相位的数值数据，让研究者可以更好的研究物体振动，准确性大大提高。生成的动画能够使用户更好地理解对象的动态行为，可以用全场扫描法对频谱进行分析。

共1台

多普勒激光测振仪Memsmap 510

Memsmap510

面议

查看更多配置单>>

三维光学轮廓仪在光学领域的解决方案

应用领域

电子/电气

检测样品

电子元器件产品

检测项目

光学元件面形分析

光学元件在各个领域都有广泛应用，对光学元件的表面加工精度提出越来越高的要求。如何检测光学元件的加工精度，从而用于优化加工方法，保证最终元器件的性能指标，是光学元件加工领域的关键问题之一。光学元件的加工精度包括表面质量和面型精度，这些参数会影响其对光信号的传播，进而影响最终器件的性能。此外，各种新型光学元件也需要检测其表面轮廓，比如非球面，衍射光学元件，微透镜阵列等。除了最终光学元件的加工精度以外，各种光学元件加工工艺也需要检测中间过程的三维形貌以保证最终产品的精度，包括注塑、模压的模具，光学图案转印时的掩膜版，刻蚀过程的图案深度、宽度等。

共1台

NPflex 大样品计量检测光学轮廓仪

NPflex

面议

查看更多配置单>>

高分辨率AFM的技术应用

应用领域

电子/电气

检测样品

检测项目

研究特性和纳米尺度表面结构

基于核心成像模式（接触模式和轻敲模式），布鲁克提供的全套 AFM 模式，允许用户探测样品的电学、磁性或材料等特性。布鲁克创新的全新 PeakForce Tapping技术代表了一种新的核心成像模式，该模式已整合到多种测量模式中，能同时提供形貌、电学和机力学性能数据。

共2台

布鲁克Dimension FastScan原子力显微镜

Dimension FastScan

面议

查看更多配置单>>

JJF17392019数字式激光球面干涉仪校准规范

应用领域

航空航天

检测样品

检测项目

面形干涉仪校准

面形偏差surface form deviation,被测光学表面相对于参考光学表面的偏差。峰谷值peak-to-valley (PV) value,面形偏差MAX值减去最小值，简称PV值。 PVr 值robust peak-to-valley (PVr) value,面形偏差的36项Zernike多项式拟合面PV值加上3倍拟合残差(面形偏差减去36项. 3.4球面元件F 数F number of spherical optics,球面曲率半径与通光口径的比值。注:被测球面元件F数应当小于或等于干涉仪球面镜头F数，才能实现球面干涉仪全表面测量

共2台

球面镜轮廓仪

HOOL L8400A

面议

查看更多配置单>>

各种金属牌号3D打印技术应用

应用领域

钢铁/金属

检测样品

锌

检测项目

理化分析

粉末的安全性、流动性和体积密度，都会直接影响部件的成形结果。因此，SLM Solutions从2016年起就一直活跃于金属粉末制造领域，为客户提供理想的材料，使其适用于不同行业的具体应用需求。

暂无关联产品

布鲁克三维光学轮廓仪在光学领域的一些应用

应用领域

电子/电气

检测样品

电子元器件产品

检测项目

表面测量

光学元件在各个领域都有广泛应用，对光学元件的表面加工精度提出越来越高的要求。如何检测光学元件的加工精度，从而用于优化加工方法，保证最终元器件的性能指标，是光学元件加工领域的关键问题之一。

共2台

DektakXT台阶仪,表面轮廓仪

DektakXT

面议

查看更多配置单>>

生物芯片制样检测方案

应用领域

生物产业

检测样品

检测项目

生物芯片，MEMS结构，制样

生物芯片尺寸规格小，精度要求高，我们提供整套制样检测方案。一站式服务。还有专家团队可沟通。地处华中，交通便捷。如需详细信息，请联系我们。

暂无关联产品

平面平晶计量新规程JJG28-2019

应用领域

航空航天

检测样品

检测项目

检定计量规程

本规程与 JJG28-2000《平晶》相比，除编辑性修改外，主要技术改进如下： ——310mm 长平晶两次周期检定平面度之差从 0.020μm 放宽为 0.030μm。 ——依据 JJG146-2011《量块》，取消了 6 等量块，改用 5 等量块（见 6.3.2）。 ——取消了平行平晶平行度在激光平面等厚干涉仪上检定的方法。 ——增加相移式等厚测量装置的结构概述、测量方法（附录 B）等相关内容。 ——增加标准平晶 F96范围内的平面度计算方法（附录 C

共1台

HL 激光干涉仪 HOOLL9600A

HOOLL9600A

面议

查看更多配置单>>

布鲁克公司发布完整的扫描电化学显微镜解决方案

应用领域

其他

检测样品

其他

检测项目

电化学性能

布鲁克独有的PeakForce SECM™ 模块是全球首创的完备商用解决方案，在基于原子力显微镜的扫描电化学显微镜上实现了小于100纳米的空间分辨率。

共1台

布鲁克Dimension FastScan原子力显微镜

Dimension FastScan

面议

查看更多配置单>>

薄膜材料的纳米力学测试解决方案

应用领域

电子/电气

检测样品

电子元器件产品

检测项目

弹性模量

布鲁克TI系列纳米材料机械性能，压痕，划痕，摩擦磨损具有高精度，结合原位AFM功能，可获得精准数据，排除环境因素，底材因素。

共1台

布鲁克TI Premier 高精度纳米力学测试系统

TI Premier

面议

查看更多配置单>>

UMT摩擦磨损测试PVD涂层CrN的摩擦学性能

应用领域

航空航天

检测样品

航天

检测项目

摩擦学性能

布鲁克摩擦磨损试验机, 提供更快的速度、更大的扭矩、和更好的力测量。另外，它引入了一些强大的新功能，大大提高了工作效率和易用性。

共1台

Bruker 摩擦磨损试验机 UMT

Bruker UMT

面议

查看更多配置单>>

冠乾科技（上海）有限公司

查看电话

沟通底价

提交后，商家将派代表为您专人服务

点击提交代表您同意《用户服务协议》《隐私政策》且同意关注厂商展位

联系方式：

公司名称：冠乾科技（上海）有限公司

公司地址：浦东新区秀浦路800号50号楼1502室联系人：乔小姐邮编： 201315 联系电话： 400-860-5168转4149

主营产品：

椭偏仪测振仪探针扫描透射电子显微镜

友情链接：

公司网页

仪器信息网APP

展位手机站

SiC外延片测试方案

纳米红外光谱探测细胞外囊泡的结构和异质性

指定位点的化学掺杂在有机半导体晶体表面的电子分布表征解决方案

Optonor激光测量物体振动解决方案

三维光学轮廓仪在光学领域的解决方案

高分辨率AFM的技术应用

JJF17392019数字式激光球面干涉仪校准规范

各种金属牌号3D打印技术应用

布鲁克三维光学轮廓仪在光学领域的一些应用

生物芯片制样检测方案

平面平晶计量新规程JJG28-2019

布鲁克公司发布完整的扫描电化学显微镜解决方案

薄膜材料的纳米力学测试解决方案

UMT摩擦磨损测试PVD涂层CrN的摩擦学性能