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冠乾科技（上海）有限公司
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解决方案
Optonor激光测量物体振动解决方案
应用领域
电子/电气检测样品
检测项目
物体振动振动可以实时测量，更可以用数字方式测量，准确记录振幅和相位的数值数据，让研究者可以更好的研究物体振动，准确性大大提高。生成的动画能够使用户更好地理解对象的动态行为，可以用全场扫描法对频谱进行分析。
共1台
三维光学轮廓仪在光学领域的解决方案
应用领域
电子/电气检测样品
电子元器件产品检测项目
光学元件面形分析光学元件在各个领域都有广泛应用，对光学元件的表面加工精度提出越来越高的要求。如何检测光学元件的加工精度，从而用于优化加工方法，保证最终元器件的性能指标，是光学元件加工领域的关键问题之一。
光学元件的加工精度包括表面质量和面型精度，这些参数会影响其对光信号的传播，进而影响最终器件的性能。此外，各种新型光学元件也需要检测其表面轮廓，比如非球面，衍射光学元件，微透镜阵列等。除了最终光学元件的加工精度以外，各种光学元件加工工艺也需要检测中间过程的三维形貌以保证最终产品的精度，包括注塑、模压的模具，光学图案转印时的掩膜版，刻蚀过程的图案深度、宽度等。
共1台
高分辨率AFM的技术应用
应用领域
电子/电气检测样品
检测项目
研究特性和纳米尺度表面结构基于核心成像模式（接触模式和轻敲模式），布鲁克提供的全套 AFM 模式，允许用户探测样品的电学、磁性或材料等特性。布鲁克创新的全新 PeakForce Tapping技术代表了一种新的核心成像模式，该模式已整合到多种测量模式中，能同时提供形貌、电学和机力学性能数据。
共2台
布鲁克三维光学轮廓仪在光学领域的一些应用
应用领域
电子/电气检测样品
电子元器件产品检测项目
表面测量光学元件在各个领域都有广泛应用，对光学元件的表面加工精度提出越来越高的要求。如何检测光学元件的加工精度，从而用于优化加工方法，保证最终元器件的性能指标，是光学元件加工领域的关键问题之一。
共2台
薄膜材料的纳米力学测试解决方案
应用领域
电子/电气检测样品
电子元器件产品检测项目
弹性模量布鲁克TI系列纳米材料机械性能，压痕，划痕，摩擦磨损具有高精度，结合原位AFM功能，可获得精准数据，排除环境因素，底材因素。
共1台
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