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核心参数
产地类别： 进口
FR-uProbe是涂层表征应用的解决方案，要求光斑尺寸小至极小微米，例如微图案表面，具有不规则表面的样品，其表现出高水平的散射光和许多其它。使用FR-uProbe，在UV / Vis / NIR上的局部薄膜厚度，光学常数，反射率，透射率和吸光度测量只需点击即可。
白光反射光谱（WLRS）测量在一定波长范围内从薄膜或多层叠堆反射的光量，入射光垂直于（垂直于）样品表面。
通过来自界面的干涉产生的测量的反射光谱用于确定自支撑和支撑（在透明或部分/全反射基板上）薄膜堆叠的厚度，光学常数（n和k）等。
应用
o大学和研究实验室
o半导体（氧化物，氮化物，硅，抗蚀剂等）
o MEMS器件（光刻胶，硅膜等）
o LED
o数据存储
o阳极氧化
o弯曲基板上的硬/软涂层
o聚合物涂料，粘合剂等
o生物医学（聚对二甲苯，气球壁厚等）
特征
o 单击分析（无需初始猜测）
o 动态测量
o 集成USB摄像头
o 保存视频进行演示
o 350+不相同的材料
o 3年免费软件更新
o 在Windows 7/8/10上运行
白光干涉测厚FFR-uProbe的工作原理介绍
白光干涉测厚FFR-uProbe的使用方法?
FFR-uProbe多少钱一台?
白光干涉测厚FFR-uProbe可以检测什么？
白光干涉测厚FFR-uProbe使用的注意事项？
FFR-uProbe的说明书有吗？
白光干涉测厚FFR-uProbe的操作规程有吗？
白光干涉测厚FFR-uProbe报价含票含运吗？
FFR-uProbe有现货吗？
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MC方案：光刻胶溶解的实时监测
为了优化半导体和光子器件的图形制作工艺，对光刻胶溶解过程的表征进行了不断的研究。溶出度的实时监测可为此类表征提供必要的信息。在本应用中，通过使用FR-Pro VIS/NIR和FR液体附件，对标准显影剂（AZ726MIF）中的抗蚀剂（AR-N7520.18）薄膜的溶解过程进行实时监控。
电子/电气
2020/03/09
MC方案：测量厚膜的厚度均匀性
WLRS被引入用于测量厚透明膜情况下的膜厚度和均匀性。 所有测量均使用FR-Basic进行，调谐后可在400-1000nm光谱范围内进行。 样品是通过旋涂涂覆有热SiO2和SU-8膜的Si晶片。 对于参考测量，使用标准的硅晶片。
电子/电气
2020/03/09
企业名称
迈可诺技术有限公司
企业信息已认证
企业类型
民营
信用代码
39982968-000-11-23-9
成立日期
2008-02-21
注册资本
139万
经营范围
通讯电子产品、机械自动化产品、半导体产品、计算机信息技术产品研发、销售及技术服务
迈可诺技术有限公司
公司地址
武汉市洪山区
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