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牛津仪器科技（上海）有限公司

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当前位置： 牛津仪器 > X射线能谱仪(EDS) > 牛津仪器X-MaxN大面积硅漂移探测器

牛津仪器X-MaxN大面积硅漂移探测器

品牌： 牛津仪器
产地： 英国
型号： X-MaxN
样本： 下载
报价： ¥20万 - 30万

核心参数

产地类别： 进口

能量分辨率： 150eV

峰背比： 200000:1

最大计数率： 2000000

探测器面积： 150mm2

产品介绍

X-MaxN 的晶体尺寸从适合于微米分析的20 mm2到纳米材料分析专用150 mm2的共四种可选。尤其是150 mm2探测器，分析速度至少是普通探测器的两倍。


总览

  • 探测器晶体尺寸可选，分别为150 mm2，80 mm2，50 mm2，20 mm2

  • 无论晶体面积或大或小，X-MaxN 的分辨率始终如一的好——并符合标准ISO15632:2012

  • 无论晶体尺寸如何，能谱仪外管尺寸及在电镜中的位置完全一致，确保相同条件下，计数率的增加只源于晶体尺寸的增加

  • 强大的低能端分析，所有晶体面积的能谱仪均保证由Be开始

  • 与上一代X-Max同，无论SEM或FIB均使用同一界面


无论晶体面积如何，优异的性能始终如一

  • 因其独特地外置型FET场效应管设计，X-MaxN 的分辨率完全不受晶体面积变化的影响始终如一，且保证全部具有优异的低能端检测性能

  • 探测器外管尺寸相同，意味着相同条件下，计数率仅与晶体面积有关

  • 保证所有晶体面积的能谱仪均具有优异的能量分辨率

  • 出众的低能端分析性能，保证所有尺寸的能谱仪皆可探测到Be元素


使用大面积能谱仪

  • 低束流下有足够的计数率

  • 尽可能高的实现图像的可视性及准确性

  • 无需为能谱分析改变SEM的条件

  • 在相同束流下，极大地提高计数率

  • 缩短采集时间

  • 统计性更高

  • 实现小束斑下的能谱分析

  • 提高能谱检测的空间分辨率

  • 尽可能体现高分辨电镜的优势

  • 晶体面积越大，X-射线计数效率越高

  • 相同条件下，晶体面积越大：以前需要几分钟完成的工作，现在仅需要几秒钟——面/线分布更易获得

  • 采集时间相同，可极大地提高分析精度及统计性

  • 大面积能谱仪——快速获得所有显微分析结果


优异的低能端分析性能

  • X-MaxN 为低能端元素的分析做了巨大的优化——无论何种尺寸，均前所未有的表现出优异的低能端分析性能

  • 所有尺寸的能谱仪均可保证检测到Be，可获得SiLI峰的面分布

  • 超大面积的能谱仪——均具有优异的低能端分析性能

  • 优异的空间分辨率
    高空间分辨率，X射线扩展区域更小

  • 大面积能谱仪可以在低加速电压及低束流下采集X-射线

  • 纳米尺度的特征可以更好的被检测到

  • 超大面积的能谱仪——使高级的纳米分析成为可能

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工商信息

企业名称

牛津仪器科技（上海）有限公司

企业信息已认证

企业类型

信用代码

310000400824735

成立日期

2017-03-29

注册资本

50

经营范围

精密仪器和设备的技术开发、技术服务、技术转让和技术咨询,精密仪器和设备的批发、进出口,佣金代理(拍卖除外),并提供维修服务和相关配套服务。【依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动】

联系方式

牛津仪器科技（上海）有限公司

公司地址

上海市徐汇区虹漕路461号虹钦园60号楼1楼

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