SiC外延片测试方案
外延材料是实现器件制造的关键,主要技术指标有外延层厚度、晶格布局,材料结构,形貌以及物理性质,表面粗糙度和掺杂浓度等。本文介绍了关于以上指标的测试解决方案。
细胞外囊泡中结构和异质性表征检测方案(扫描探针)
布鲁克纳米红外光谱仪(nanoIR)采用光热诱导共振技术(AFM-IR)实现微小区域红外信号的采集。红外激光照射到样品上,样品吸收辐射光产生热膨胀,这种热膨胀引
有机半导体中电子分布表征检测方案(扫描探针)
本文描述了一种独特的、特定位点的n型掺杂机制,用两种有机半导体的单晶做实验,用特定位点的兴奋剂消除电子陷阱并增加背景电子浓度,使晶体拥有更优异的导电性。掺杂晶体
微电子元件、旋转轴等中物体振动检测方案(光学表面分析)
振动可以实时测量,更可以用数字方式测量,准确记录振幅和相位的数值数据,让研究者可以更好的研究物体振动,准确性大大提高。生成的动画能够使用户更好地理解对象的动态行
光学元件中光学元件面形分析检测方案(轮廓仪)
光学元件在各个领域都有广泛应用,对光学元件的表面加工精度提出越来越高的要求。如何检测光学元件的加工精度,从而用于优化加工方法,保证最终元器件的性能指标,是光学元
聚合物、石墨烯和二维材料、电池材料中研究特性和纳米尺度表面结构检测方案(扫描探针)
基于核心成像模式(接触模式和轻敲模式),布鲁克提供的全套 AFM 模式,允许用户探测样品的电学、磁性或材料等特性。布鲁克创新的全新 PeakForce Tapp
球面,镜头中面形干涉仪校准检测方案
面形偏差surface form deviation,被测光学表面相对于参考光学表面的偏差。 峰谷值peak-to-valley (PV) value,面形偏
金属打印中3D打印检测方案(金属3D打印机)
粉末的安全性、流动性和体积密度,都会直接影响部件的成形结果。因此,SLM Solutions从2016年起就一直活跃于金属粉末制造领域,为客户提供理想的材料,使
光学元件中表面测量检测方案(轮廓仪)
光学元件在各个领域都有广泛应用,对光学元件的表面加工精度提出越来越高的要求。如何检测光学元件的加工精度,从而用于优化加工方法,保证最终元器件的性能指标,是光学元
生物芯片中生物芯片,MEMS结构,制样检测方案
生物芯片尺寸规格小,精度要求高,我们提供整套制样检测方案。一站式服务。还有专家团队可沟通。地处华中,交通便捷。如需详细信息,请联系我们。