布鲁克光学轮廓仪ContourX-200

布鲁克光学轮廓仪ContourX-200 三维光学轮廓仪

布鲁克光学轮廓仪ContourX-200完美融合了高级表征、可定 制选项和易用性，可提供一流的快速、准确和可重复的 非接触式三维表面计量方法。该设备作为可用于计量的小尺寸系统，配置了大视场的5百万像素摄像头和新型电动XY载物台，可提供高性能的的2D/3D高分辨率测量功能。 

布鲁克光学轮廓仪ContourX-200还配有业界最先进的操作和分析软件Vision64®。最新的VisionXpress™提供了更易于使用的 界面和简洁的功能，可访问多种预编程滤镜和分析工 具，用于精密加工的表面，薄膜，半导体，眼科，医疗设备，MEMS和摩擦学等领域的测量分析，可用于表面粗糙度，RDL先进封装工艺厚度等测试。

布鲁克光学轮廓仪ContourX-200具有无与伦比的Z轴分辨率和准确性， 提供了布鲁克专有的白光干涉仪（WLI）的所有业界公认的优点，却没有传统共聚焦显微镜等产品的局限。

最高性能表面计量 

• 与放大倍率无关的业界最好Z轴分辨率 

• 最大尺寸的标准视场 

• 稳定集成防震设计 

卓越的测量与分析功能 

• 易于使用的界面，可快速准确地获得结果 

• 自动化功能用于日常测量和分析 

• 最广泛的滤镜和分析工具选项，用于粗糙度和关键尺寸测量分析 

• 满足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等标准在内的定制化分析报告

无与伦比的一流计量设备 

基于超过四十年的专有WLI创新，布鲁克光学轮廓仪ContourX-200展现出定量计量所需的低噪声、高速、高精度的准确结果。通 过使用多个镜头和集成的特征识别功能，设备可以在各种视 野内以亚纳米垂直分辨率跟踪特征，从而提供不受放大倍数影响的结果，可用于各种不同行业中的质量控制和过程监控应用。 

布鲁克光学轮廓仪ContourX-200对于反射率从0.05％到100％的各种表面都非 常易于测量。 

最全面的分析能力 

 利用强大的VisionXpress和Vision64用户界面，布鲁克光学轮廓仪ContourX-200提供了上千种定制分析参数，以提高实验室和工厂车间的生产率。系统新摄像头提供了更大视野，新型电动XY平台提供 了更灵活定位能力，为各种样品和零件提供了更大的适用性和更高的测试通量。硬件和软件组合提供了对高可重复性和高通量计量学测量功能的便捷访问，超过了同类计量设备的能力。