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 冠乾科技(上海)有限公司,我们致力于为客户更精准地把握工艺过程,得到精确的检测结果而服务。公司英文名,Grant Technology,Grant是“授予”的意思,是让冠乾科技公司能够成为您心中的一个平台,是授予国际上最新最快的技术资讯,技术方法,解决方案为企业目标。l 工艺设备:真空镀膜机,离子束刻蚀机,ICP刻蚀机, IBE刻蚀机,纳米材料沉积等;l 元素分析:原子吸收,气相色谱,液相色谱,...
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SiC外延片测试方案

外延材料是实现器件制造的关键,主要技术指标有外延层厚度、晶格布局,材料结构,形貌以及物理性质,表面粗糙度和掺杂浓度等。本文介绍了关于以上指标的测试解决方案。

光电器件 2023-03-15

细胞外囊泡中结构和异质性表征检测方案(扫描探针)

布鲁克纳米红外光谱仪(nanoIR)采用光热诱导共振技术(AFM-IR)实现微小区域红外信号的采集。红外激光照射到样品上,样品吸收辐射光产生热膨胀,这种热膨胀引

其他 2022-08-18

有机半导体中电子分布表征检测方案(扫描探针)

本文描述了一种独特的、特定位点的n型掺杂机制,用两种有机半导体的单晶做实验,用特定位点的兴奋剂消除电子陷阱并增加背景电子浓度,使晶体拥有更优异的导电性。掺杂晶体

集成电路 2022-07-27

微电子元件、旋转轴等中物体振动检测方案(光学表面分析)

振动可以实时测量,更可以用数字方式测量,准确记录振幅和相位的数值数据,让研究者可以更好的研究物体振动,准确性大大提高。生成的动画能够使用户更好地理解对象的动态行

微电子元件、旋转轴等 2021-03-11

光学元件中光学元件面形分析检测方案(轮廓仪)

光学元件在各个领域都有广泛应用,对光学元件的表面加工精度提出越来越高的要求。如何检测光学元件的加工精度,从而用于优化加工方法,保证最终元器件的性能指标,是光学元

电子元器件产品 2021-03-08

聚合物、石墨烯和二维材料、电池材料中研究特性和纳米尺度表面结构检测方案(扫描探针)

基于核心成像模式(接触模式和轻敲模式),布鲁克提供的全套 AFM 模式,允许用户探测样品的电学、磁性或材料等特性。布鲁克创新的全新 PeakForce Tapp

聚合物、石墨烯和二维材料、电池材料 2021-02-20

球面,镜头中面形干涉仪校准检测方案

面形偏差surface form deviation,被测光学表面相对于参考光学表面的偏差。 峰谷值peak-to-valley (PV) value,面形偏

球面,镜头 2021-02-20

金属打印中3D打印检测方案(金属3D打印机)

粉末的安全性、流动性和体积密度,都会直接影响部件的成形结果。因此,SLM Solutions从2016年起就一直活跃于金属粉末制造领域,为客户提供理想的材料,使

2021-02-20

光学元件中表面测量检测方案(轮廓仪)

光学元件在各个领域都有广泛应用,对光学元件的表面加工精度提出越来越高的要求。如何检测光学元件的加工精度,从而用于优化加工方法,保证最终元器件的性能指标,是光学元

电子元器件产品 2020-12-08

生物芯片中生物芯片,MEMS结构,制样检测方案

生物芯片尺寸规格小,精度要求高,我们提供整套制样检测方案。一站式服务。还有专家团队可沟通。地处华中,交通便捷。如需详细信息,请联系我们。

生物芯片 2020-08-19
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