2018/01/08 16:59
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产品配置单:
牛津仪器C-Swift EBSD探测器
型号: C-Swift
产地: 英国
品牌: 牛津仪器
¥50万 - 100万
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电镜专用自动清洁度分析系统---牛津仪器AZtecFeature
型号: AZtecFeature
产地: 英国
品牌: 牛津仪器
¥20万 - 30万
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电镜专用微区成分分析---牛津仪器Ultim Max能谱仪
型号: Ultim Max
产地: 英国
品牌: 牛津仪器
¥60万 - 100万
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方案详情:
Development and testing of semiconductor devices requires extensive knowledge of local structure and elemental
composition. With feature sizes of <5 nm, it is often necessary to perform imaging and EDS analysis in a S / TEM.
Once in the TEM, there are still many difficulties to be overcome to acquire accurate elemental maps. Elemental
analysis of semiconductors is typically difficult due to strong overlaps of X-ray lines between commonly used elements
and low concentrations of dopants. Not only are concentrations of dopants small but their X-ray lines often overlap
with other materials used in semiconductor processing. This brief shows how AZtecTEM solves these overlaps to
achieve an accurate elemental analysis.
TEM Semiconductor Mapping in the TEM
Solving peak overlaps in real-time
Application Brief
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一文了解 EDS 能谱技术发展历程
能谱仪 Energy Dispersive Spectrometer 通常使用 EDS 作为缩写,是 SEM、TEM、FIB、EPMA 等设备的重要附件,按照微束分析国家标准术语, EDS 能谱仪是同时记录所有 X 射线谱的谱仪,是一种测量X射线强度与 X 射线能量函数关系的设备。
其他
2022/11/07
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2022/11/07
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在锂离子电池清洁度检测需求的驱动下,基于SEM-EDS 功能、用于锂离子电池清洁度检测的自动分析工具—— AZtecBattery 应运而生。
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2022/08/08