DAGE Explorer one X光检查机

DAGE Explorer one X光检查机

X射线检测系统

Nordson 的产品范围广泛，专注于为电子和半导体行业提供先进的工艺、测试和检测解决方案。无论您是需要Nordson MARCH的等离子处理技术制备PCB，还是需要Nordson SONOSCAN的声学检测设备来检查封装级分层，我们均能为PCBA和封装级电子器件生产提供先进的技术解决方案。

对耐用性和可靠性日益增长的需求，以及对微小器件的持续使用意味着确保产品的高品质比以往都要更加重要。Explorer™ one X射线检测系统可在产品出厂前提供产品质量的证明。能有效减少现场的高成本和由此引发的对企业声誉和未来业务的相关损害。

Explorer™ one 可通过高清晰的X射线图像让您快速了解产品质量。良好的图像质量使其能够快速轻松地定位和鉴定潜在缺陷，并快速做出合格/不合格判断。

专门设计用于电子器件的检测

能查看小至2μm的产品特性，这种高清细节的检测功能与只是检测键合是否存在有着很大的区别。

专为Explorer one 开发的AspireFP® one 平板探测器经过优化，能在电子样品中实现高对比度。

快速检查高混合电子产品。Explorer™ one 能够通过很少的培训使操作员和临时用户快速轻松地执行质量检验，从而大限度地提高产量。

Explorer™ one 可快速完成生产PCB检测，Quadra 5和7具有出色的放大倍率和功率，可用于PCB、封装和晶圆级检测以及故障分析。

规格参数

X射线管：       QuadraNT®免换灯丝透射管

特征分辨率：   2 μm

输出功率：      10 W

电压：            30 - 90 kV

探测器：         AspireFP™平板探测器

分辨率：         1.4 MP

帧率：            10 fps

数字图像处理:  16 bit

检测

斜角视图:         2 × 60° - 无需旋转样品

检测区:            300 x 300 mm (12” x 12”)

放大倍率:         高达400倍

显示器:            单，22寸，宽屏扩展图形阵列，分辨率为 1920 x 1080

操作:               鼠标指向并单击

软件

导航:               导航图显示了活动区域、多区域比较分区屏幕、360°特征轨道

图象增强:         图像平均、曝光控制、反差滤光镜、实时增强滤镜

测量:               尺寸测量、空洞分析、电镀穿孔吃锡量、焊盘分析、BGA和QFN测量

全自动:            自动检测配方、条形码阅读器（可选），用于样品跟踪、组件位置覆盖

安全特性:         防碰撞，X射线低剂量模式

平台:               Windows® 10

安装

尺寸（宽x深x高）:       1.05 x 1.30 x 1.38 m (41.3” x 51.2” 54.3”)        

重量:                          750千克 (1650磅)    

功率:                          单相220-230 Vac，50/60 Hz，16 A 

气源:                          无要求

X射线安全性:              < 1 μSv/小时