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少子寿命测量仪BCT-400
BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅(锭或块)的少子寿命.
因为少子寿命作为衡量生长和缺陷含量的的最敏感的技术参数,这个工具直接获得长硅的质量参数。
作为最易于使用的测量工具--BLS,只需要有直径150mm大小的平面。如果只是测量平面样品的话,请选择BCT-400。
Sinton Instruments其他半导体检测仪BCT400的工作原理介绍
其他半导体检测仪BCT400的使用方法?
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