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Semilab WT-2000 半导体多功能测试仪
WT-2000 Multifunction Wafer Mapping Systems
WT-2000 提供349nm，904nm，1064nm，1550nm等不同激发光，适合Si，SiC, GaAs, CdZnTe, InGaAs 等各种材料电学参数测试。
测试选项：
u-PCD 技术做少子寿命扫描测试
表面光电压(SPV)做扩散长度面扫描测试
光诱导电流(LBIC)测试材料缺陷分布
测试特定金属杂质和沾污：Fe
涡流法测试电阻率
4探针测试电阻率
保修期: 免费保修一年，保外提供收费服务
是否可延长保修期: 否
现场技术咨询: 有
免费培训: 保修期内免费提供培训，保修期外提供收费培训服务
免费仪器保养: 保修期内提供免费上门提供保养，保修期外提供收费上门保养
保内维修承诺: 免费保修
报修承诺: 24小时服务
