TESCAN 应邀参加 2018 年广东电镜学术会议 — All In One 综合分析已成趋势！

2018年12月14日，广东省电镜学会在广州中山大学南校区召开了2018年度学会材料学科电镜学术和技术交流会。会议吸引了80余位相关领域专家和研究人员参与，涵盖主题报告12个，内容涉及原位电镜表征、低压扫透技术以及材料结构和性能分析的新技术和新方法等。

中山大学分析测试中心主任苏成勇教授为会议致辞，广东省电镜学会理事长赵文霞教授介绍了2018年度学会的工作。作为全球电子显微镜及聚焦离子束领域的技术引领者和创新者，TESCAN应邀出席此次会议，并向参会专家介绍了“TESCAN微分析综合解决方案”，受到广泛关注。

苏成勇教授为会议致辞

电子显微镜是材料微观分析的重要工具之一，一直被广泛地应用于材料、化工、生物医学、半导体与电子器件等领域，但随着电镜技术的发展以及生命科学、原位分析、学科交叉等的应用普及和拓展，科学家对于电子显微镜的综合分析能力要求越来越高。

在此次学术交流会上，TESCAN中国市场部经理顾群详细向参会专家介绍了TESCAN近年来在显微领域的技术突破和创新，尤其是TESCAN一直主推的“All-In-One”显微综合分析解决方案。

TESCAN中国市场部经理顾群分享All-In-One

顾群经理介绍到，“目前，电子显微镜的发展方向主要围绕三个方面：高分辨、原位和分析能力，而在电子光学发展越来越成熟的今天，如何提高电镜的原位观测和综合分析能力成为今后关注的重点。”

而TESCAN在产品设计之初就提出了“All In One ”的产品设计理念，在扫描电镜上结合EDS、EBSD等分析技术、FIB技术以及拉曼（Raman）、二次离子质谱（TOF-SIMS）等集成一体化技术，能够给用户提供一个非常全面的微观分析解决方案。

经过多年的深耕和积累，TESCAN已经在这方面取得了巨大成功。目前，在国际市场上，已经有越来越多的用户开始关注并倾向于选择具有卓越分析和扩展性能的“TESCAN扫描电镜平台”，从普通的钨灯丝到高端场发射，甚至双束FIB系统，TESCAN均能提供优异的综合分析性能。

而作为TESCAN微分析综合解决方案的代表产品——TESCAN RISE电镜拉曼一体化显微镜（SEM-Raman）和TESCAN 双束FIB-飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）系统已成为更多人青睐和选择的扫描电子显微镜平台。

TESCAN All-In-One 扫描电镜平台

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