核心参数
仪器种类: 全谱直读
产地类别: 进口
检出限: 0
重复性: 0
稳定性: 0
波长范围: 0
光学分辨率: 0
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使用配备高级阀系统的 Agilent 5110 垂直观测 (RV) ICP-OES 提高测定油类样品中金属的分析效率
利用垂直观测等离子体 ICP-OES 测定油品中的金属是一种行之有效的技术,对于采用 ASTM 标准测试方法 D5185-13 的实验室而言尤其如此。该方法指定了 ICP-OES 作为已使用及未使用的润滑油和基础油中 22 种元素的快速测定方法以及废油中磨损金属(如 Fe、Cu 和 Al)的快速筛查方法。分析人员使用此测试监测设备的磨损状况,指示添加剂包的混合效率,或用于基础油中金属含量测定以 进行质量保证。 Agilent 5110 垂直观测 (RV) ICP-OES 具有高稳定性、高分析速度和较低运行成本。在本研究中,5110 RV 配有 Agilent SPS 4 样品前处理系统和全面集成的 Agilent AVS 6 高级阀系统,后者简化了工作流程并大大提高了分析效率,且不影响准确度、精密度、稳定性和重现性。5110 RV 运行速度更快,减少了分析每个样品所需的氩气,从而大大节省了高通量分析实验室的成本。
石油/化工
2018/07/09
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ICP-OES 电子书下载—如何避免浪费时间的重复测量
很多原因都可能导致您不得不二次测量样品。测量过程中可能发生样品混淆或其他问题。您可能只有在 QC 溶液分析失败或者检查结果并注意到异常时才会发现问题。无论出于何种原因,重新测量样品都非常费时、令人倍感压力且成本高昂。 必须重新测量样品的原因通常分为两类:仪器相关问题和样品相关问题。样品相关问题包括从样品消解和前处理到样品基质问题和样品混淆的各种问题。 本文介绍了如何避免其中最常见的问题及如何应对,从而节省时间。
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2022/08/11
ICP-OES 电子书下载—如何避免浪费时间的重复测量
很多原因都可能导致您不得不二次测量样品。测量过程中可能发生样 品混淆或其他问题。您可能只有在 QC 溶液分析失败或者检查结果并 注意到异常时才会发现问题。无论出于何种原因,重新测量样品都非 常费时、令人倍感压力且成本高昂。 必须重新测量样品的原因通常分为两类:仪器相关问题和样品相关问题。样品相关问题包括从样品消解和前处理到样品基质问题和 样品混淆的各种问题。 本文介绍了如何避免其中最常见的问题及如何应对,从而节省时间。
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2020/02/12
【安捷伦】更新您的 ICP Expert 软件
Agilent ICP Expert 软件 7.4 版带来各种新功能,可显著提高分析效率,让您的工作更轻松。
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2020/01/13
USP <232>/<233> 和 ICH Q3D 元素杂质分析: 安捷伦 ICP-OES 解决方案
USP 通则章节 <233>(元素杂质 — 流程)建议使用 ICP-OES 或 ICP-MS 测定药品及成分中元素杂质的含 量。安捷伦 ICP-OES 仪器可耐受所有常见的酸和有机溶 剂基质以及其他复杂基质,如固体样品溶解后制得 的基质。这些样品无需高倍数稀释即可直接进行测 定。安捷伦 ICP-OES 系统还具有稳定的垂直等离子体,可确保对所有分析物均获得优异的稳定性与高灵敏度。
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2020/01/13
用于工作流程法规认证的安捷伦资源——测定制药材料中的元素杂质
安捷伦可助您成功建立合规而有效的元素杂质测试能力,并致力于遵循质量管理体系、产品生命周期文档以及用于软件开发的产品验证申明的法规认证要求。
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2020/01/13
【安捷伦】简化药物的元素杂质分析的 QC 过程(适用于 ICP-OES)
美国药典 (USP) 和人用药品技术要求国际协调会议 (ICH) 公布了定量测定药品和药物成分中各种元素杂质的程序。这些程序将 ICP-MS 和 ICP-OES 作为推荐分析技术。 用于 5100 和 5110 ICP-OES 仪器的 Agilent ICP Expert 软件能够帮助客户满足 USP 和 ICH 程序的法规要求。
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2020/01/13
【安捷伦】ICP-OES 的自动稀释功能
安捷伦的 ICP-OES 仪器与 ESI prepFAST™ 自动稀释系统相结合,可自动执 行大量繁琐的样液处理过程。还能自动配制校准曲线、稀释样品和补偿内标抑制。
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2020/01/13
【安捷伦】ICP-OES 的智能冲洗功能
安捷伦的智能冲洗软件功能会监测所指定元素波长在冲洗期间内的强度,当这 些强度达到用户指定阈值时,便自动结束冲洗。也就是说,冲洗时长随每个样 品而变化。这样一来,显著提高了样品通量,结果也同样准确。
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2020/01/13
【安捷伦】ICP-OES 的 IntelliQuant 功能
Agilent IntelliQuant 是一种软件功能,能够计算样品中多达 70 种元素的近似浓度(半定量)。只需将样品测定过程延长数秒钟,无需校准。
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2020/01/13
【安捷伦】ICP-OES 远离背景和干扰困扰
安捷伦提供两种不同的 ICP-OES 背景校正算法:拟合背景校正 (FBC),用于准确、快速地校正简单和复杂的背景;快速自动曲线拟合技术 (FACT),用于校正高度复杂的背景。
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2020/01/13
利用 Agilent ICP-MS MassHunter 和 OpenLAB 服务器符合法规认证指南的要求
美国药典 (USP) 和人用药品技术要求国际协调会议 (ICH) 已发布了测试药品和药物成分中无机(元素)杂质的新标准:USP 通则章节 <232>(元素杂质 — 限值)和 <233>(元素杂质 — 流程)和 ICH-Q3D 已在 2017 年 2 月定稿,并将于 2018 年 1 月 1 日起执行。指南中规定 了 24 种元素的每日最大剂量限。 ICP-OES 和 ICP-MS 是元素杂质分析的参考仪器技术。ICP-MS 技术更 适合用于注射或吸入给药的药品和材料分析,因为这类样品所需的检测限更低。
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2020/01/13
电感耦合等离子体发射光谱仪 (ICP-OES)应用电子手册
ICP-OES 应用电子手册包含仪器工作原理,检测方法,环境、食品与农业、地化与采矿和能源化工等领域的应用。
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2019/11/14
安捷伦 SPS 4 自动进样器 创新、稳定、高效
SPS 4 是适用于原子光谱应用的新一代高性能自动进样器。专为满足需要快速、大容量(高达 360 个样品或 768 孔微量滴定板)、可靠自动进样器的高通量实验室需求而设计,同时体积小巧、运行安静、易于使用且价格合理。SPS 4 适用于 ICP-MS 超痕量分析,其耐用性与稳定性可轻松满足 FAAS、MP-AES 与 ICP-OES 用户的需求。 SPS 4 以两根刚性柱之间支撑机械部件的创新型移液吊架设计为基础,具有更高的准确度和精度,快速、易于操作且耐腐蚀,此外占地面积比其他同类自动进样器小近 40%。 SPS 4 通过可选的集成式防护罩组件提供最大的样品完整性同时保护您的实验室环境不受有害样品蒸气的影响,这一切均可在不占用额外工作台空间的前提下实现。此外,电源开关、蠕动泵以及所有电气和通信端口均处于防护罩组件之外,以便轻松操作并避免腐蚀。
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2016/10/17
安捷伦科技(中国)有限公司
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