T3Ster热阻测试仪
产品概述
T3Ster热阻测试仪 是Mentor Graphics公司研发制造的先进的热瞬态测试仪,用于测试IC、LED、散热器、热管等电子器件的热特性。T3Ster基于JEDEC JESD51-1标准先进的静态测试方法,通过改变电子器件的输入功率,使得器件产生温度变化,在变化过程中,T3Ster测试出芯片的瞬态温度响应曲线,仅在几分钟之内即可分析得到关于该电子器件的全面的热特性。配合专为LED产业开发的选配件TERALED可以实现LED器件和组件的光热一体化测量。
计算机控制接口 | USB接口,满足数据传输提取方便的要求 |
测试时间 | 以分钟为单位计 |
结温测试分辨率 | 0.01℃ |
*大加热时间 | 不限 |
*小测试延迟时间 | 1us(用户可根据需要在软件中调节1us~10000s不限) |
RC网络模型级数 | 2-100个 |
加热电流源 | -2A~2A |
加热电压源 | -10V~10V |
测试电流源(4路) | -25mA~25mA |
*小测试延迟时间(tMD) | 1μs | *小采样时间间隔(ts) | 1μs |
每倍频采样点数 | 400个(典型值) | *大采样点数 | 65000个 |
测量通道 | 2个(*大可扩展至8个) | ||
电压变化测量档位 | 400mv/200mv/100mv/50mv | ||
电压测量分辨率 | 12μV(以50mV量程计算) |
计算机控制接口 | COM | 恒温槽尺寸 | 52*52*10 mm3 |
温度控制范围 | 5 - 90 oC | 温度控制精度 | ± 0.2 oC |
温度过载保护 | 95 oC | 散热功率 | 8W |
型号 | 温度范围(℃) | 温度稳定性(℃) | 加热功率(KW) | 制冷功率 20℃(KW) | 油槽尺寸 (W×L/D cm) |
F25-HE | -28~200 | ±0.01 | 2 | 0.26 | 12×14/14 |
F32-HE | -35~200 | ±0.01 | 2 | 0.45 | 18×12/15 |
F34-HE | -30~150 | ±0.01 | 2 | 0.45 | 24×30/15 |
高电流模式 | ||
单通道 | ||
38A/40V | 50A/30V | 200A/7V |
测试电流:0~200mA | 测试电流:0~200mA | 测试电流:0~500mA |
栅极电压源:15V | ||
双通道 | ||
38A/40V | 50A/30V [1] | |
三通道 | ||
200A/7V [2] |
高电压模式 | ||
单通道 | ||
10A/100V | 10A/150V | 10A/280V |
测试电流:0~200mA | 测试电流:0~200mA | 测试电流:0~200mA |
双通道 | ||
10A/150V | 10A/280V |
企业名称
西安天光测控技术有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
成立日期
2018-05-03
注册资本
经营范围
工业电气产品及电力电子测控设备的研发、销售;功率半导体器件的开发设计;电力电子技术的技术转让;货物与技术的进出口经营(国家限制、禁止和须经审批进出口的货物和技术除外)。(依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动)
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西咸新区
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