产品系列
晶体管图示仪
半导体分立器件测试筛选系统
静态参数测试仪(包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等)
动态参数测试仪(包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等)
环境老化测试(包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等)
热特性测试(包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等)
可测试 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件
企业名称
西安天光测控技术有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
成立日期
2018-05-03
注册资本
经营范围
工业电气产品及电力电子测控设备的研发、销售;功率半导体器件的开发设计;电力电子技术的技术转让;货物与技术的进出口经营(国家限制、禁止和须经审批进出口的货物和技术除外)。(依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动)
西安天光测控技术有限公司
公司地址
西咸新区
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