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北京艾飞拓科技有限公司（IONTOF中国代表处）
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解决方案
应用案例——半导体材料行业（1）
应用领域
电子/电气检测样品
检测项目
痕量金属检测痕量金属的检测和定量是半导体工业中的一个重要分析任务。
TOF-SIMS能够以同位素灵敏度检测所有元素（即使是轻质元素）。
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应用案例——半导体材料行业（5）
应用领域
电子/电气检测样品
检测项目
OLED - 有机发光显示器OLED技术用于便携式设备，如手机，便携式音乐播放器，汽车收音机等。
目前最突出的技术问题之一是有机材料的有限寿命，研究不同有机层的化学成分是非常重要的。
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应用案例——半导体材料行业（4）
应用领域
电子/电气检测样品
其他检测项目
尺寸测量在半导体工业中，例如扩散阻挡层和高k栅介质层等超薄膜的制备越来越多地采用原子层沉积（ALD）技术。
通过测量能量损失，可以计算得到亚纳米精度的薄膜最小和最大厚度。通过分析渐增沉积循环次数时的深度信号变化，可以确定薄膜的生长模式。
共1台
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应用案例——半导体材料行业（2）
应用领域
电子/电气检测样品
检测项目
超浅层离子注入的深度剖析超浅层深度分析的典型应用领域是SIMS在半导体行业应用的经典课题。
该技术可以平行检测所有质量，并且在低能量溅射下具有优异的灵敏度，非常适用于筛查和区分。
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联系方式：
公司名称： 北京艾飞拓科技有限公司
公司地址： 西直门金贸大厦B1109 联系人： 高先生 邮编： 100044 联系电话： 400-860-5168转5050
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