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公司简介
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核心参数
产地类别: 国产
TF200薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理,对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面,探头同位接收反射光线。TF200根据反射回来的干涉光,用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm,可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜,还可以测量n和k值。
白光干涉薄膜厚度测量仪
半导体(SiO2/SiNx、光刻胶、MEMS,SOI等)
LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亚酰胺ITO等)
LED (SiO2、光刻胶ITO等)
触摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率测试等)
汽车(防雾层、Hard Coating DLC等)
医学(聚对二甲苯涂层球囊/导尿管壁厚药膜等)
型号
TF200-VIS
TF200-EXR
TF200-DUV
TF200-XNIR
波长范围
380-1050nm
380-1700nm
190-1100nm
900-1700nm
厚度范围
50nm-40um
50nm-300um
1nm-30um
10um-3mm
准确度1
2nm
1nm
10nm
精度
0.2nm
3nm
入射角
90℃
样品材料
透明或半透明
测量模式
反射/透射
光斑尺寸2
2mm
是否能在线
是
扫描选择
XY可选
注:1.取决于材料0.4%或2nm之间取较大者。
2.可选微光斑附件。
企业名称
上海胤煌科技有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
成立日期
2018-06-27
注册资本
经营范围
从事智能科技领域内的技术开发、技术咨询、技术服务、技术转让,仪器仪表、机电设备、电子元器件、计算机、软件及辅助设备、文化办公用品、玻璃制品、化学试剂及助剂(除危险化学品、监控化学品、民用爆炸物品、易制毒化学品)的销售,自有设备租赁,从事货物及技术的进出口业务。【依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动】
公司地址
上海市浦东新区航川路18号1号楼203室
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公司名称: 上海胤煌科技有限公司
公司地址: 上海市浦东新区航川路18号1号楼203室 联系人: 市场部 邮编: 201317
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