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核心参数
产地类别： 进口
PHI X-tool是一款操作简单，同时具备高效高能的XPS。其秉承PHI-XPS独有的扫描聚焦X-ray系统，可通过单色化石英晶体叫X-ray直接聚焦至20μm。和传统的XPS相比，不采用光阑进行选区，极大的提高了XPS在200μm以下空间尺度的灵敏度。同时，不需要增加磁透镜，即可得到卓越的灵敏度及优秀的信噪比，即使磁性样品，也可轻松应对。
1. 卓越的操作性
PHI X-tool软件支持直观的触摸屏操作，所有XPS测定过程都可在触摸屏上完成。用户可以自由选择手动操作模式和自动操作模式（自动定性、定量、分析及完成报告），操作者无论是否具有丰富的XPS操作经验，均能轻松应对。
2. 自动参数设定、自动完成报告
PHI X-tool具备自动对焦功能（Auto-Z），使分析位置处于X射线的焦平面上，得到最优的分析条件。其可实现中和参数的自动匹配，无论样品的导电性如何，均可轻松应对。
l 自动定性：实现谱峰自动识别
l 自动定量：自动选定谱峰定量范围
l 自动曲线拟合：可自动实现预定条件的曲线拟合
l 自动生成实验报告
3. 多方式样品观察
在XPS分析中，样品观察，特别是微区定位至关重要。PHI X-tool可通过以下三种方式进行样品观察：a. 进样室高空间分辨率图像；b. 实时CCD成像；c. 二次电子像（SXI）。利用这几种方法观察样品，不论样品大小，表面形貌如何均可轻松确定测试位置。
4. 详细的条件设定和直观的操作
结合材料和目的，可详细设定分析的条件。通过内置元素周期表，可设定各光电子峰和俄歇峰。通过更改通过能、步长、积分时间设定窄谱扫描参数。对每个样品可设置习惯的文件名和样品名称。
5. 快速化学成像
采用扫描X射线和高灵敏度检测器及非扫描模式，可实现快速成像分析。每个点都可以直接调取全部的谱数据。化学态成像的空间分辨率、灵敏度、能量分辨率与仪器主指标一致。
6. 采用PHI独有的最先进硬件设计
l 微聚焦扫描X-ray源；
l 双束中和系统，低能离子束及低能电子束自动配合；
l 浮动离子枪，离子加速电压条件范围可达0~5kV
用户单位
采购时间
采购数量
华南理工大学
2013/12/19
1
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简单高效的XPS分析-从大面积到微区分析的自动队列功能演示
高德英特携ULVAC-PHI部分中国用户成功举办了第一次网络研讨会。此次研讨会主要讨论如何在XPS分析中，充分利用PHI在X-Ray独特的聚焦扫描设计，有效行使从大面积分析到微区分析功能，并演示了如何利用仪器的自动化设计，完成自动队列分析。可实现大量样品高效并且高质量的完成XPS分析。
石油/化工
2014/06/24
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光电子能谱仪（XPS）的自动双束中和功能
当用XPS仪器分析绝缘样品时，样品表面必须保持电中性，即样品表面无静电荷分布。假设样品表面分布有静电荷，就会导致光电子飞出的动能发生变化。通常表面荷电会导致光电子动能减小，即结合能向高端偏移。 为了很好的解决这个问题，ULVAC-PHI公司的XPS设备增加了双束中和枪的功能，中和枪为绝缘样品荷电区域提供了稳定的荷电补偿。
1259KB
2016/04/22
光电子能谱仪（XPS）的精準样品定位
样品自制备后到放入分析室，确定分析位置需要经过几个步骤，各个步骤的精确定位以及样品导航，在ULVAC-PHI的XPS光電子能譜儀儀器上均经过精心设计，以满足用户不同层次的需求。本文将分别以PHI Quantera II（简称QII） 与PHI-5000 VersaProbeII (简称VP II)样品导航和定位为例，深入介绍ULVAC-PHI的XPS在该方面的设计理念及实际操作。
0KB
2016/03/24
半球形能量分析器－固定减速比模式
作为通用的能量分析器，半球形能量分析器（SCA/CHA）见图1，既可以用于光电子能谱仪（XPS），也可以用于俄歇电子能谱仪（AES）。考虑到俄歇电子发射效率低，为了将俄歇电子从背景信号中分离出来，提高俄歇电子检测灵敏度，SCA/CHA用于俄歇电子能谱仪时，首要的是提高俄歇电子传输效率，而不是提高谱仪的能量分辨率。本文将着重介绍SCA/CHA在俄歇电子分析中的应用。
1338KB
2015/06/01
分析仪器中常用的能量分析器 带电粒子能量分析器
粒子能量分析器就是根据粒子不同的能量，将其分开的装置，常用的粒子能量分析器，主要是静电场型能量分析器。常用的静电能量分析器有以下几种，即同轴筒镜能量分析器（CMA）（如图1），扇形能量分析器（如图2），和半球形能量分析器（SCA/CHA）（如图3）。它们均可以将不同动能的带电粒子分散开，即按照粒子能量高低排列成一系列的谱线。
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2015/05/04
XPS深度剖析数据处理LLS&TFA
PHI MultiPak 是电子谱分析中，功能最强大的数据后处理软件之一，支持谱峰识别、化学态信息提取、定量分析，同时也集成了大量的标准图谱数据库。PHI MultiPak同时还整合了强大高级算法工具，可以进行数据集合的批处理，方便的将数值结果导出为其它格式。 PHI MultiPak用户界面如图1所示。本期电子报就如何使用MultiPak对深度剖析数据进行处理，即如何使用最小二乘法（LLS）和目标因子法（TFA）处理XPS深度剖析数据，做详细的介绍。
587KB
2014/11/28
XPS中的全元素深度剖析
深度剖析可以用来表征特定元素沿着样品深度方向上浓度的变化，拓展XPS在材料分析中的应用，而往往在做深度剖析时，需要预先知道一些样品的信息，及样品的膜层结构，同时也要知道每一层所含有的元素和大概的膜层厚度，以便于深度分析时，设定分析条件。 但是，当样品信息未知的情况下，是否可以确定样品中所含元素，纵深方向上的分布信息呢？对XPS而言，完全没有问题，可以采用全元素深度分析。图1展示了XPS全元素深度分析的图谱。
4170KB
2014/11/28
XPS深度剖析概述
在材料分析表征领域，除了要获得样品表面的成分外，人们还希望了解样品在纵深方向上，不同成分是如何分布，以全面掌握样品的各种信息；X-光电子能谱仪 (X-ray Photoelectron Spectroscopy 简称XPS)，作为一种常规样品表面成分表征手段，除了可以提供样品表面的成分和元素的化学状态，还可以配合溅射离子枪，对样品进行逐层剥离，获取样品在深度方向的成分和化学态信息。最常规的是Ar离子枪，目前，ULVAC-PHI除了提供高性能Ar离子枪外，还可以根据用户特殊的应用需求，提供C60离子枪（10kV，20kV两种）、和气体团簇离子枪Ar-2500 （GCIB）供用户选择。
3185KB
2014/11/28
XPS定性与定量分析概述
X-光电子能谱仪 (X-ray Photoelectron Spectroscopy 简称XPS)，又称化学分析用电子谱(ESCA)，是一种常规的表面表征手段，除了可以表征材料的组成成分外，还可以表征各组成成分所处的化学状态，还有可定量的表征每种化学状态的相对含量；因而XPS广泛地应用于材料研究的各个领域。
5481KB
2014/11/28
新一代智能光电子能谱仪 - X-tool
PHI X –Tool 是ULVAC-PHI公司最新推出的智能X-射线光电子能谱仪的产品；PHI X-Tool继承了PHI独有的、专利设计的扫描微聚焦X射线源，并采用了高收集效率的静电分析器和输入透镜系统，实现了微小区域的高灵敏度的分析，并且运用扫描型X射线在样品表面扫描，且利用扫描和输入透镜的信号同步设计，以及DEM（Dynamic Emittance matching）匹配，亦在大面积时候，同样有高得灵敏度和分辨率，同时可以快速进行面分析，线扫描。
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2014/11/28
表面分析技术在玻璃及陶瓷类材料上的应用
上期电子报中，我们已介绍了有机材料所需要的表面分析测量应用。本期我们将玻璃与陶瓷类材料所需要的测量（ESCA、D-SIMS、TOF-SIMS），做一综合性的整理。
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2014/06/24
ULVAC-PHI最新的表面分析技术与应用
1. 高德科创与高德电子报简介 2. 俄歇电子能谱仪（AES）-高能量分辨率的纳米俄歇电子能谱仪 3. X射线光电子能谱仪配合C60离子枪在有机膜材料上的应用 4. 飞行时间二次离子质谱仪-三维离子影像
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2014/06/19
企业名称
爱发科费恩斯（南京）仪器有限公司
企业信息已认证
企业类型
有限责任公司(外国法人独资)
信用代码
91320115MAD1W8P23K
成立日期
2023-10-31
注册资本
500万人民币
经营范围
一般项目:实验分析仪器销售;仪器仪表销售;普通机械设备安装服务;机械设备销售;机械设备研发;电子、机械设备维护(不含特种设备);机械电气设备销售;货物进出口;电子产品销售;电子专用设备销售;新材料技术研发;技术服务、技术开发、技术咨询、技术交流、技术转让、技术推广;技术进出口;进出口代理;销售代理;专用设备修理;通用设备修理;仪器仪表修理;电气设备修理;泵及真空设备销售;业务培训(不含教育培训、职业技能培训等需取得许可的培训)(除依法须经批准的项目外,凭营业执照依法自主开展经营活动)
爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司
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江苏省南京市江宁区殷富街402号临港同策同心园1-108
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