2016-04-22 11:56
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Ar-GCIB团簇离子尺寸测量配件作为优化GCIB溅射能力的有效工具,能够实现溅射损伤和溅射速率之间的平衡,为新型纳米材料和复杂混合样品的深度分析提供了强大工具。
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在Vol.47的电子报中,介绍了是专用型的三次聚集飞行时间(TRIFT)分析器,在设计理论上明显优于通用型的离子反射镜(Reflectron)如图1a。另外,由于几何结构上的原因,而通用型的离子反射镜(Reflectron)内部不允许添加任何光阑,无法屏蔽亚稳态离子;而三次聚集飞行时间(TRIFT)分析器,如图1b的ULVAC-PHI nanoTOF II,可以在三个静电分析仪(ESA)之间添加不同的光阑,实现亚稳态离子的抑制。