2024-07-23 14:32
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PHI 硬X射线光电子能谱仪
型号: PHI GENESIS 900
产地:
品牌: ULVAC-PHI
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飞行时间二次离子质谱仪 / PHI nano TOF 3+/TOF-SIMS
型号: PHI nanoTOF 3+
产地:
品牌: ULVAC-PHI
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PHI 710俄歇电子能谱仪
型号: PHI 710
产地:
品牌: ULVAC-PHI
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原位XPS(常规X射线光电子能谱)结合HAXPES(硬X射线光电子能谱)技术,具备从表面至体相(梯度变化)无损深度分析的能力,为表/界面研究提供了重要的技术支持。
关键词:燃料电池、XPS-HAXPES、大面积SXI、Mosaic、深剖、StrataPHI、膜厚
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当用XPS仪器分析绝缘样品时,样品表面必须保持电中性,即样品表面无静电荷分布。假设样品表面分布有静电荷,就会导致光电子飞出的动能发生变化。通常表面荷电会导致光电子动能减小,即结合能向高端偏移。 为了很好的解决这个问题,ULVAC-PHI公司的XPS设备增加了双束中和枪的功能,中和枪为绝缘样品荷电区域提供了稳定的荷电补偿。