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赛默飞世尔科技电子显微镜

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解决方案

浑然一体的ChemiSEM技术:集成式扫描电镜成像与 X 射线能谱解决方案

应用领域

其他

检测样品

其他

检测项目

检测样品元素组成
ChemiSEM技术结合了扫描电镜 (SEM) 和与 X 射线能谱 (EDS),可简化对金属、陶瓷、电池、涂层、水泥和软材料等多种材料的复杂分析。

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赛默飞(原FEI)Apreo场发射扫描电子显微镜

Apreo

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小束斑+特色SnapMap快照成像功能分析SnOx成分半导体器件

应用领域

半导体

检测样品

光电器件

检测项目

近几年来,随着国内科技产业的不断升级,对微电子器件的需求日益增加。特别是高科技产品的快速发展,比如智能手机、电脑、无人机、新能源汽车、智能机器人等,对高性能微电子器件的需求更是呈指数级增长,这使得微电子器件自然而然就成为人们研究的热点材料。在微电子器件的研究中,通常需要对微电子器件表面进行各种加工、改性处理,来使其具有不同的性能。由于X射线光电子能谱仪(XPS)是一种表面分析技术,随着商业化XPS设备的普及,其在微电子器件研究中的应用越来越广泛,逐渐成为微电子器件研究中不可或缺的分析手段。

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Nexsa G2 X 射线光电子能谱仪

Nexsa G2

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XPS在半导体材料的应用

应用领域

半导体

检测样品

光电器件

检测项目

XPS 一般用于分析材料表面、薄膜材料和一些界面材料的元素信息。该技术无需外部校准便可得到量化的结果,很少需要或无需样品制备。XPS的应用十分广泛,包含教学研究、工业研发和第三方实验室的质量监测和控制等等。

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Nexsa G2 X 射线光电子能谱仪

Nexsa G2

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使用自动化颗粒工作流程,进行金属中的析出相分析

应用领域

钢铁/金属

检测样品

钢材

检测项目

理化分析
利用传统的TEM 方法可以对析出相的化学成分进行手动分析,或在没有化学信息的情况下进行单独粒子成像。此外,因为析出相在整个样品中成分很可能不均一,还可以在TEM 上使用X 射线能量色散光谱(EDS),来确定各析出相的成分。问题在于这种分析方法既费时又繁琐,而且 TEM 操作员每天只能收集几十个粒子的成分信息。 但是,借助 APW 能让整个过程变得自动化,无需人员值守,从而为研究人员腾出了更多时间来执行更关键的任务。一天内就可轻松收集和表征成千上万个数据点,在某些情况下,仅需一小时即可生成在统计上相关的数据集。 通过显著减少花在表征上的时间, 这种加速分析流程促进了合金和热处理工艺的更快开发。

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Spectra S/TEM 扫描透射电子显微镜

Spectra S/TEM

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腐蚀钢板表面的失效分析

应用领域

钢铁/金属

检测样品

钢材

检测项目

理化分析
酸洗是一种非常重要的钢材表面处理方式,尤其用于确保钢材表面均匀、无污渍、无氧化物。酸洗工艺需要使用酸性溶液,还要进行适当清洗,以防钢材表面形成酸污染。 在本篇应用说明中,为研究污染产生的根本原因,我们分析了酸洗钢被污染的表面。使用Axia ChemiSEM研究了缺陷处的形貌特征和化学组成,在1分钟内得到元素面分布图,表面显微特征基于成分着色,从而快速发现表面污染物中富含氯化物,说明在清洗步骤完成后,钢材表面接触到了酸洗液滴。

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赛默飞Axia ChemiSEM 钨灯丝扫描电镜

Axia ChemiSEM

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使用自动化颗粒工作流程,进行催化剂表征

应用领域

石油/化工

检测样品

催化剂

检测项目

理化分析
透射电子显微镜(TEM)非常适合用于纳米颗粒表征,因为使用TEM可以获得大量的纳米级高质量数据。Thermo Scientific™ 自动化颗粒工作流程(APW)是用于 Thermo Scientific TEM 仪器图像采集和实时数据分析的工作流程。APW 将我们独特的硬件和软件整合到一个用于纳米颗粒表征的优化解决方案中,其包含的软件和硬件组成了简化的自动化过程,可控制数据采集和处理。 APW 提供全自动和无需人员值守的 TEM 和扫描透射电子显微镜(STEM)成像以及X 射线能量色散谱(EDS),为您提供有关催化纳米颗粒的微观结构和化学组成的统计学相关信息。使用APW 不需要 TEM 专业知识,即使是新手也能获取这些重要信息。APW 还可以实现快速样品周转,通过快速可靠地筛选新材料来降低单次测量成本并革新产品开发。催化推动行业发展,APW 则使您能够通过快速而简便的纳米颗粒分析,开发出更高效的催化剂。

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Talos 透射电镜

Talos

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应用分享丨评估电池材料中的异物的工作流程

应用领域

能源/新能源

检测样品

锂电池

检测项目

电池材料
为确保电池质量和性能,全面评估电池材料中的异物至关重要。凭借Thermo Scientic Axia ChemiSEM,首先利用大尺度SEM-EDS面分析,快速、简便地识别电极中的异物;接着利用EDS定量分析,细致的分析每种异物的分布情况;最后再进行能谱点分析,精确定量异物中的每种元素的含量。 Axia ChemiSEM将扫描电镜成像(SEM)与X射线能谱分析(EDS)合二为一,形成集成化方案,可以迅速发现问题、分析问题并给出准确结果。Axia ChemiSEM实时能谱分析技术结合自动对中功能,可以实现电池电极的高效表征,让用户体验更加流畅。使用Axia ChemiSEM,电池制造商可以针对污染物,实现进行快速、简单的SEM-EDS分析,从而提高研究效率,减少制造过程中的异物含量,并提高电池性能。

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赛默飞Axia ChemiSEM 钨灯丝扫描电镜

Axia ChemiSEM

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应用分享丨高强度钢弯曲失效机理研究

应用领域

钢铁/金属

检测样品

钢材

检测项目

机械性能
我们采用了一种快速、高效的方法来确定一种高强度钢弯曲试验失效的根本原因。 全新ChemiSEM技术将感兴趣区域的形貌特征与成分信息集成在一起,同时提供SEM图像和元素定量结果。系统在采集灰阶图像的同时,后台同步采集元素信息,然后再将元素显示出来,展示元素分布情况。利用ChemiSEM技术,我们发现,在该高强度钢样品内部存在内生的炼钢夹杂物,其中的非金属夹杂物团簇在热轧过程中形成条状缺陷,从而导致了弯曲失效发生。

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赛默飞Axia ChemiSEM 钨灯丝扫描电镜

Axia ChemiSEM

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锂离子电池的多尺度三维成像方案

应用领域

能源/新能源

检测样品

锂电池

检测项目

多尺度三维成像
由 于 锂 电 池 结 构 具 有 三 维 多尺 度 的 特 性 ,因 此 要 在 多尺 度 上了解 锂离子 电池 的 结 构,即实 现 从电 芯 水平(毫 米尺 度)到 电 极材料 颗粒水平(纳米尺 度)的三维 结构表征,非常具有挑战。在此技术 文件 中,我 们 提 出了多尺 度 三 维 成像与 分析 的 工作流 程,可用于定 量 分析锂离子电池的结构-性 能 关 联 性。

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赛默飞(原FEI)Apreo场发射扫描电子显微镜

Apreo

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增材制造材料表征

应用领域

材料

检测样品

3D打印材料

检测项目

理化分析
从粉末到打印制件的多尺度表征 满足您在增材制造研发及失效分析方面所有化学及结构分析需求的首选供应商。

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Prisma E SEM

Prisma E SEM

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高分子材料的高分辨率三维成像-应用指南

应用领域

石油/化工

检测样品

其他

检测项目

理化分析
要想认识高分子材料的微观结构和性能,获得其高分辨率三维成像至关重要。Thermo Scientific Apreo VolumeScope的一大亮点,就是在其SEM的真空室内设置了一个超薄切片机,在对材料试样进行自动化连续切片的同时完成高分辨率电镜原位成像,即SBF-SEM。后续的SEM图像重构则会生成相应的高分辨率三维数据集,以便进行进一步的分析。 我们以滤膜和共混物为例,提供这两种高分子材料的数据采集示例。

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赛默飞(原FEI)Apreo场发射扫描电子显微镜

Apreo

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冷冻电子断层扫描 cryo-ET精选参考指南

应用领域

生物产业

检测样品

其他

检测项目

cryo-ET精选参考指南
FEI 公司是包括冷冻电镜 (cryo-EM) 在内的高性能透射、扫描电镜和 聚焦离子束显微镜领域的领导者,其在 2016 年成为 Thermo Fisher 的一部分。我们领先的电镜工作流程提供微米,纳米和皮米尺度的图 像和信息。

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Krios G4冷冻透射电子显微镜(cryo-TEM)

Krios G4 Cryo-TEM

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碳纤维复合材料电子显微镜表征的解决方案

应用领域

电子/电气

检测样品

其他

检测项目

表面形貌
作为科学服务领域的世界领导者,赛默飞世尔科技提供成套的微观表征技术解决方案,实现对微纳米级结构的粒度、形状、成分的高精度分析,还能对多种尺寸的材料进行二维及三维的多尺度、高精度分析检测。该解决方案主要包含扫描电镜、镓离子双束电镜、Xe等离子双束电镜、透射电镜, HeliScan μCT(多功能计算机断层扫描系统)等部分。

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赛默飞(原FEI) Scios DualBeam 双束电子显微镜

Scios

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地球科学(油气/地质/矿业)分析应用解决方案

应用领域

地矿

检测样品

检测项目

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赛默飞拥有超过 60 年的显微镜创新、应用和行业领先能力,向客户提供先进的数字岩石分析解决方案。在矿石表征、冶金测试和矿物加工等领域能提供多种先进分析仪器和地质矿产分析解决方案。

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Helios DualBeam™扫描电子显微镜

Helios DualBeam™

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用于电池材料分析的电镜解决方案

应用领域

能源/新能源

检测样品

锂电池

检测项目

表面形貌
赛默飞世尔科技为锂电行业的正负极、隔膜材料和电解液的表征、合浆和涂覆的过程控制,以及原位充放电过程分析提供了综合解决方案。我们提供成套的微观表征技术解决方案,实现对微纳米级结构的粒度、形状、成分的高精度分析,还能对多种尺寸的材料进行二维及三维的多尺度、高精度分析检测。该解决方案主要包含Thermo Scientific™ HeliScan µCT(多功能计算机断层扫描系统)、扫描电镜、镓离子双束电镜、Xe等离子双束电镜、透射电镜等。

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赛默飞(原FEI) Scios DualBeam 双束电子显微镜

Scios

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公司地址: 上海市浦东新区张江高科技园区金科路2517号中国芯科技园A栋(赛默飞世尔科技) 联系人: 张小姐 邮编: 201203 联系电话: 400-633-0963

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