2024/07/08 10:59
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产品配置单:
赛默飞(原FEI)Apreo场发射扫描电子显微镜
型号: Apreo
产地: 捷克
品牌: 赛默飞
¥300万 - 400万
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方案详情:
更优的用户体验
ChemiSEM通过一个软件系统同时进行SEM和EDS分析,大大减少了新用户学习时间,使得分析更加顺畅,延长了机器的有效机时,在同样的时间里分析更多的样品。
强大的分析性能
ChemiSEM技术可实时自动处理原始信号,生成定量图。对数据进行解卷积,避免出现和峰和重叠峰,并去除背景;全新功能ChemiPhase可以利用实验数据中所有具有统计学意义的谱图对每个独特的相位进行系统性的识别,而不依赖于对样品的预先假设;不仅如此,ChemiSEM技术通过持续监测样本位置,可自动校正样本漂移。
可靠的数据质量
ChemiSEM 技术提供了智能、全自动化的自动 ID 优化、数字峰值拟合和矩阵校正程序,使各类用户都能获得可靠的结果。随着数据的累积,一系列统计验证程序将持续自动对数据进行建模和优化,让用户安心使用。
多样的搭配机器
ChemiSEM技术将来可搭载 Thermo Scientific™ Axia™、Apreo™ 2 和 Quattro™ 扫描电镜,满足不同类型用户的需求。
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小束斑+特色SnapMap快照成像功能分析SnOx成分半导体器件
近几年来,随着国内科技产业的不断升级,对微电子器件的需求日益增加。特别是高科技产品的快速发展,比如智能手机、电脑、无人机、新能源汽车、智能机器人等,对高性能微电子器件的需求更是呈指数级增长,这使得微电子器件自然而然就成为人们研究的热点材料。在微电子器件的研究中,通常需要对微电子器件表面进行各种加工、改性处理,来使其具有不同的性能。由于X射线光电子能谱仪(XPS)是一种表面分析技术,随着商业化XPS设备的普及,其在微电子器件研究中的应用越来越广泛,逐渐成为微电子器件研究中不可或缺的分析手段。
半导体
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XPS在半导体材料的应用
XPS 一般用于分析材料表面、薄膜材料和一些界面材料的元素信息。该技术无需外部校准便可得到量化的结果,很少需要或无需样品制备。XPS的应用十分广泛,包含教学研究、工业研发和第三方实验室的质量监测和控制等等。
半导体
2023/03/01
使用自动化颗粒工作流程,进行金属中的析出相分析
利用传统的TEM 方法可以对析出相的化学成分进行手动分析,或在没有化学信息的情况下进行单独粒子成像。此外,因为析出相在整个样品中成分很可能不均一,还可以在TEM 上使用X 射线能量色散光谱(EDS),来确定各析出相的成分。问题在于这种分析方法既费时又繁琐,而且 TEM 操作员每天只能收集几十个粒子的成分信息。 但是,借助 APW 能让整个过程变得自动化,无需人员值守,从而为研究人员腾出了更多时间来执行更关键的任务。一天内就可轻松收集和表征成千上万个数据点,在某些情况下,仅需一小时即可生成在统计上相关的数据集。 通过显著减少花在表征上的时间, 这种加速分析流程促进了合金和热处理工艺的更快开发。
钢铁/金属
2021/04/26
腐蚀钢板表面的失效分析
酸洗是一种非常重要的钢材表面处理方式,尤其用于确保钢材表面均匀、无污渍、无氧化物。酸洗工艺需要使用酸性溶液,还要进行适当清洗,以防钢材表面形成酸污染。 在本篇应用说明中,为研究污染产生的根本原因,我们分析了酸洗钢被污染的表面。使用Axia ChemiSEM研究了缺陷处的形貌特征和化学组成,在1分钟内得到元素面分布图,表面显微特征基于成分着色,从而快速发现表面污染物中富含氯化物,说明在清洗步骤完成后,钢材表面接触到了酸洗液滴。
钢铁/金属
2021/04/26