自准直仪原理

[font=宋体]在实际应用中，尽管光学计量仪器多种多样，但它们的光学原理却[color=blue]都基于四种基本原[/color][/font][font=宋体][color=blue]理[/color][/font][font=宋体]，它们是：[color=blue]望远光学原理、显微光学原理、投影光学原理、干涉光学原理。[/color][/font][font=宋体]基于应用不同的光学原理，光学计量仪器可分为[color=blue]：自准直类光学计量仪器、显微镜类光学计量仪器、投影类光学计量仪器、光干涉类光学计量仪器四大类。[/color][/font][font=宋体]望远系统主要性能是视角放大率，在观察时用来扩大眼睛对远处物体的视角，用以观察物体。在测量时常被用来产生平行光以进行各种用途的测量，应用此原理的光学计量仪器有：自准直光管、测角仪、立[/font]([font=宋体]卧[/font])[font=宋体]式光学计等。[/font][font=宋体]显微系统的主要性能是较高的放大率。它与放大镜相比，有较高的放大率和分辨本领。可清楚地观察和分辨微小物体和物体的细小部位。应用此原理的光学计量仪器有：工具显微镜、光学分度头、测长仪、测长机、双管显微镜等；[/font][font=宋体]投影系统的主要性能：是较高的、准确的横向放大率。[/font][font=宋体]被测量的形状复杂、细小的物体或物体表面缺陷等经强投射光或强反射光照射，再经投影物镜放大成像在影屏上后进行测量。应用此原理的光学计量仪器有：大、中、小型投影仪、专用的公差带投影仪等。[/font][font=宋体]光干涉系统主要性能是有很高的检测精度。它是以光波波长作：“尺子”，实现了对表面粗糙度、长度微小变化等几何量的高精度测量。应用此原理的光学计量仪器有平面平晶等厚干涉仪、接触式干涉仪、干涉显微镜等。[/font]

[b]职位名称：[/b]光学工程师[b]职位描述/要求：[/b]岗位职责：1、负责高端科学仪器中光路系统的设计和搭建；2、负责光学系统的原理验证和集成化设计、安装、调试；3、负责光学元件的选型、技术评估及测试；4、参与光学相关的机械结构设计；5、负责整理相关技术文档。任职要求：1、有搭建精密光机系统经验，熟悉常用的光学检测设备（ZYGO，分光光度计，自准直仪，焦距仪，光谱仪，光束质量分析仪，功率计等）；2、熟练使用Zemax等光学仿真，会使用Solidworks软件或其它三维制图软件完成元件和系统3D模型，并能出具加工图纸；3、具有扎实的物理光学和几何光学知识，能独立完成光学系统方案设计；4、具有光路集成化开发经验，有MEMS工艺经验者优先；5、有量子光学、量子信息、原子物理背景者优先；6、有显微镜方面的设计、调试经验者优先。[b]公司介绍：[/b] 国仪量子（合肥）技术有限公司是一家以量子精密测量为核心技术的高新技术企业，致力于为全球范围内高校、科研院所和企事业等单位提供核心关键器件、高端仪器装备、核心技术解决方案等产品和服务。公司源于中国科学技术大学中科院微观磁共振重点实验室，实验室在大型科学仪器、关键核心器件的研制领域深耕十余年，多项技术、产品突破国际封锁和禁运，并获得“中国科学十大进展”、“国家自然科学二等奖”、“中国分析测试协...[url=https://www.instrument.com.cn/job/user/job/position/73030]查看全部[/url]

标准物质在仪器校准中应用的一般原理 在使用仪器方法进行化学成分分析时，目标量即特定基体中特定(被)分析物的含量，通常不是直接测量得到的，而是通过测量仪器的响应并将其转换为(被)分析物的含量。为确定仪器的响应与(被)分析物含量之间的关系，就需在整个量程范围内，测定(被)分析物含量已知的 标准物质 (校准物质或样品)的仪器响应。然后，比较测得的响应与(被)分析物含量参考值(认定值)，导H{响应曲线的参数(如直线的斜率和截距)，包括这些参数的不确定度。通过使用这些数据，可以从测得的响应推算出未知样品中的(被)分析物含量，同时也可从所测响应的不确定度和响应曲线参数的不确定度推算出(被)分析物含量的不确定度。ISO 11095(使用标准物质的线性校准)给出了使用标准物质设计校准实验以及在校准曲线是直线的情况下对常见个案的校准数据评价的一般描述。 现代仪器分析方法具有低检测限、高专一性、高精密度以及自动进样等很多优点，但在大多数情况下，仪器的输出信号(峰面积、计数、毫伏等)与被分析物的测量值(克、摩尔等)之间的关系是来自于某种经验公式。一般情况下，还没有经过详细研究的物理或化学理论来精确地描述被分析物的量与信号强度之间存在的某种关系。因此，测试样品中的被分析物的量无法用物理的或化学的基本原理准确测得。大多数分析测试仪器基于实验观测，仪器信号与被分析物的量存在下列函数关系 信号强度一K×(被分析物的量)” 仪器信号强度与被分析物的量之间常常是线性关系，n=1。由于没有合适的物理或化学理论支撑这些分析测量仪器的基本操作，上述公式中的比例常数K通常是未知的。 在这种情况下，实际分析测量工作中就有必要通过被分析物含量准确已知的特殊样品(通常为有证标准物质或校准物质)来校准仪器的输出信号。通过比较用校准物质获得的信号与测试样品获得的信号，并由下列公式计算测量样品中被分析物的量 样品中被分析物的量一蒺器×校准物中被分析物的量 当分析仪器信号随被分析物的量呈线性变化(即n一1)时，可以用该公式计算样品中被分析物含量。显然，当校准物质或样品和测试样品的n和K值都相同时，用以上公式计算测试样品中被分析物量的有效性取决于，z和K的值。换句话说，分析仪器对被分析物和校准物质的响应的程度必须相同。只有这样才能进行有效的比较，否则校准物质所产生的的信号与测试样品所产生的信号不具有可比性。如果仍然采用上述方法计量被分析物的量，就会产生错误的分析测量结果。因此，我们必须确定仪器的校准条件能适用于要分析测试的样品，正确选择和使用适当的分析仪器校准用有证标准物质(CRM)。 通常由于大多数分析测量样品的基体与校准用标准物质的基体存在着很大的差异，因此，由校准过程导出的不确定度估算一般是不全面的。所以，还必须另外使用与被测样品基体相匹配校准样品来测定，并最终修正由于校准中基体不匹配所引起的偏差。原则上讲，基体匹配的标准物质已经用于校准实践，但实际上只是在一些特定的领域应用较多，如气体分析领域中使用。很多情况下，人们使用由纯物质制备而得的校准溶液进行来校准分析仪器，并且使用基体匹配的标准物质来研究考察基体效应引起的偏差。这种状况甚至使一些分析测量工作者产生了一种错误看法，他们认为基体标准物质不能用于校准，而只能用于质量控制。 校准是建立溯源性的最根本的过程。只有通过校准，才能在实践中获得对适当参考标准的溯源性。 本文参考了国家标准物质网资料中心的相关资料