合金镀层

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合金镀层相关的耗材

  • MINITEST600-N 涂镀层测厚仪
    MINITEST600-N 涂镀层测厚仪一、 MiniTest 600涂层测厚仪产品名录 MiniTest 600 系列涂层测厚仪产品主要包括两种小类型:MiniTest 600B和MiniTest 600,每种小类都可分为F型、N型、FN型三种,因此600系列测厚仪共有6种机型供选择。600B型与600型的最大区别就是600B是基本型,没有统计功能。 涂层测厚仪MiniTest600型号选择 MiniTest 600BF3(铁基体基本型,无统计功能和接口) MiniTest 600BN2(非铁基体基本型,无统计功能和接口) MMiniTest 600BFN2(两用基本型,无统计功能和接口) MiniTest 600F3(铁基体统计型) MiniTest 600N2(非铁基体统计型) MiniTest 600FN3(两用统计型) 二、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量原理及应用 F型测头是根据磁感应原理设计的,主要测量钢铁基体上的非磁性涂镀层。例如:铝、铬、铜、锌、涂料、橡胶等,也适用于合金和硬质钢。 N型测头是根据电涡流原理设计的,主要测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。例如:铝、铜、铸锌件上的涂料、阳极氧化膜、陶瓷等。 FN型测头是同时利用磁感应原理和电涡流原理设计的,一个测头就可完成F型和N型两种测头所能完成的测量。 三、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量中的相关注意事项 测量前一定要在表面曲率半径、基体材料、厚度、测量面积都与被测样本相同的无涂层的底材上较零,才可以保证测量的精确性; 每次测量之间间隔几秒钟以保证读数的准确性; 喷砂、喷丸表面上的涂层也可以测量,但要严格按照说明书的校准步骤进行校准; 不要用力拽或折测头线,以免线断; 严禁测量表面有酸、碱溶液或潮湿的产品,以免损坏测头; 测量时测头轴线一定要垂直于被测工作表面; 每次测量应有大于3秒的时间间隔。 四、 MiniTest 600涂层测厚仪的技术参数 测量范围 F型 0-3000um N型 0-2000um FN型(两用型) 0-3000um(F),0-2000um(N) 允许误差 ± 2um或± 2-4%读数 最小曲率半径 5mm(凸)、25mm(凹) 最小测量面积 &Phi 20mm 最小基体厚度 0.5mm(F型)、50um(N型) 测量单位 Um-mils可选 显示 4位LED数字显示 校准方式 标准校准、一点校准、二点校准、基础校准(华丰公司内) 统计数据 平均值、标准偏差、读数个数、最大值、最小值 接口 RS-232(不适合B型) 电源 2节5号碱性电池 仪器尺寸 64mmX115mmX25mm 测头尺寸 &Phi 15mmX62mm 五、 MiniTest 600涂层测厚仪的标准配置 主机和指定型号的测头一体; 5号碱性电池两节; 零板和厚度标准箔; 中英德文操作手册各一本; 六、 MiniTest 600涂层测厚仪的可选配置 便携箱; 橡胶套; 打印机MiniPrint 4100; RS-232数据接口电缆; 精密支架 数码显示器背光照明。 七、MiniTest 600涂层测厚仪的符合标准 DIN 50981,50982; ASTM B499,E367,D1186,B530,G12 BS5411 DIN EN ISO 2178,2361 八、 MiniTest 600涂层测厚仪的关于校准 标准校准:适合平整光滑的表面和大致的测量。 一点校准:置零,不用标准箔。用于允许误差不超过4%的场合。 两点校准:置零,用一片标准箔。用于误差范围在2-4%之间的测量 特殊的基础校准:此校准只能在华丰公司进行。 九、 MiniTest 600涂层测厚仪的一般维修 如果出现E03、E04、E05则一般要换探头系统+PCB板; 如果主板不上电,在排除电池原因后一般要更换主板或更换键盘; 测值不稳定,可认为探头系统频率不稳定,一般要更换探头系统; 在显示系统不能正常显示时,可更换显示系统; 更换电缆时,一定要保证电缆长度不小于1m;
  • 无镀层石英电喷针(N)
    无镀层石英电喷针SilicaTips(N)5cm长,针尖无镀层,使用前需要切割。产品号管OD/ID (µ m)针尖ID (µ m)流速(nL/min)包装FS360-100-30-N-20360/10030300-1,00020FS360-100-30-N-5360/10030300-1,0005FS360-75-30-N-20360/7530300-1,00020FS360-75-30-N-5360/7530300-1,0005FS360-75-15-N-20360/7515200-50020FS360-75-15-N-5360/7515200-5005FS360-75-8-N-20360/75850-30020FS360-75-8-N-5360/75850-3005FS360-50-30-N-20360/5030300-1,00020FS360-50-30-N-5360/5030300-1,0005FS360-50-15-N-20360/5015150-40020FS360-50-15-N-5360/5015150-4005FS360-50-8-N-20360/50850-30020FS360-50-8-N-5360/50850-3005FS360-50-5-N-20360/50530-20020FS360-50-5-N-5360/50530-2005FS360-20-10-N-20360/2010100-40020FS360-20-10-N-5360/2010100-4005FS360-20-5-N-20360/20520-10020FS360-20-5-N-5360/20520-1005FS150-20-10-N-20150/2010100-40020FS150-20-10-N-5150/2010100-4005SilicaTip 套装工具:SilicaKit-360-N标准镀层,包括3个 FS360-20-5-N,3个 FS360-50-8-N和3个FS360-75-15-N
  • 标准镀层石英电喷针(CE)
    标准镀层石英电喷针SilicaTips® (CE)5cm长,针尖有镀层,使用前需要切割。产品号管OD/ID (µ m)针尖ID (µ m)流速(nL/min)包装FS360-100-30-CE-20360/10030300-1,00020FS360-100-30-CE-5360/10030300-1,0005FS360-75-30-CE-20360/7530300-1,00020FS360-75-30-CE-5360/7530300-1,0005FS360-75-15-CE-20360/7515200-50020FS360-75-15-CE-5360/7515200-5005FS360-75-8-CE-20360/75850-30020FS360-75-8-CE-5360/75850-3005FS360-50-30-CE-20360/5030300-1,00020FS360-50-30-CE-5360/5030300-1,0005FS360-50-15-CE-20360/5015150-40020FS360-50-15-CE-5360/5015150-4005FS360-50-8-CE-20360/50850-30020FS360-50-8-CE-5360/50850-3005FS360-50-5-CE-20360/50530-20020FS360-50-5-CE-5360/50530-2005FS360-20-10-CE-20360/2010100-40020FS360-20-10-CE-5360/2010100-4005FS360-20-5-CE-20360/20520-10020FS360-20-5-CE-5360/20520-1005FS150-20-10-CE-20150/2010100-40020FS150-20-10-CE-5150/2010100-4005SilicaTip 套装工具:SilicaKit-360-CE标准镀层,包括3个 FS360-20-5-CE,3个 FS360-50-8-CE和3个FS360-75-15-CE

合金镀层相关的仪器

  • 微束XRF涂层厚度和材料分析仪,方便快速进行质量控制和验证测试,在几秒内即可获得准确的数据。基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。精确的镀层和珠宝分析X-Strata920 是一款高精度台式 XRF 分析仪,具有多种选择,可容纳多种类型的样品。该分析仪非常适合测量各种基材上的镀层,是必须确定产品质量的电子产品、连接器、装饰品和珠宝分析的理想选择。X-Strata920 的优势在于其多功能性。您可以从多种配置中进行选择,包括五种基本配置以适应不同尺寸的样品、六种准直器尺寸用于优化分析不同尺寸的特征,以及有助于加快测量过程同时保持准确性的附加自动化功能。X-Strata920 易于使用,软件直观,可由非专业人员操作,并可轻松融入您的生产或质量保证部门。产品亮点X-Strata920 具有多种选项和多功能性,可容纳各种样品,每次都能提供精确的分析。适应性设计,可对各种产品进行可靠分析自动对焦和可选的程控台提高了准确性和速度直观的 SmartLink 软件使测量和导出数据变得容易多准直器设计为每个样品提供高准确性选择适合应用的比例计数器或硅漂移检测器 (SDD)符合行业规范,例如 IPC-4552A、ISO3497、ASTM B568 和 DIN50987简单的样品加载和快速分析可在几秒钟内提供结果强大的光学分析单层和多层镀层,包括合金层对比型号X-Strata920 (正比计数器)X-Strata920 (硅漂移探测器)元素范围Ti – UAi – U样品舱设计开槽式开槽式XY 轴样品台固定台、加深台、自动台固定台、加深台、自动台样品尺寸上限250(宽)x200(深)x50(高)mm250(宽)x200(深)x50(高)mm准直器数上限66滤光片数上限3 (secondary)n/a准直器尺寸下限0.01 x 0.25 mm (0.5 x 10 mil)0.01 x 0.25 mm (0.5 x 10 mil)样品台行程上限178 x 178 mm178 x 178 mmSmartLink 软件有有
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  • 苏州三值无损ROHS检测仪、合金分析仪、镀层厚度检测仪、厂家直销1.1. 技术性能及指标: 1.1.1. 元素分析范围从硫(S)到铀(U);1.1.2. 元素含量分析范围为2 PPm到99.99%;1.1.3. 测量时间:100-300秒;1.1.4. RoHS指令规定的有害元素(限Cd/Pb/Cr/Hg/Br)其检测限度达2PPM; 1.1.5. 能量分辨率为149±5电子伏特;1.1.6. 温度适应范围为15℃至30℃;1.1.7 电源:交流220V±5V;(建议配置交流净化稳压电源。)1.1.8 仪器尺寸:700*460*370mm,样品腔尺寸:500*320*100mm1.2.产品特点 1.2.1EDX6000E是专门针对ROHS、EN71等环保指令设计得一款产品。 1.2.2打破传统仪器直线的设计,采用流线体的整体化设计,仪器时尚大方。 1.2.3采用美国新型的Si-pin探测器,电致冷而非液氮制冷,体积小、数据分析准确且维护成本低。 1.2.4采用自主研发的SES信号处理系统,有效提高测量的灵敏度,让测量更精确。 1.2.5一键式自动测试,使用更简单,更方便,更人性化。 1.2.6七种光路校正准直系统,根据不同样品自动切换。 1.2.7多重防辐射泄露设计,辐射防护级别属于同类产品高级。 1.2.8先进的一体化散热设计,使整机散热性能得到极大提高,保证了核心部件的运行安全。 1.2.9独有的机芯温控技术,保证X射线源的安全可靠运行,有效延长其使用寿命,降低使用成本。 1.2.10多重仪器配件保护系统,并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更安全。 1.2.11ROHS专用测试软件,标准视窗设计,界面友好,操作方便。1.2.12本机采用USB2.0接口,有效地保证了数据准确高速有效的传输。2.苏州三值无损ROHS检测仪、合金分析仪、镀层厚度检测仪、厂家直销 2.1Si-pin电制冷半导体探测器:(新型探测器) 2.1.1. Si-pin电制冷半导体探测器;分辨率:149±5电子伏特 2.1.2. 放大电路模块:对样品特征X射线进行探测;把探测采集的信息,进一步放大。2.2 X射线激发装置: 2.2.1. 灯丝电流最大输出:1mA;2.2.2 .属于半损耗型部件,50W,空冷。2.3 高压发射装置:2.3.1. 电压最大输出: 50kV;2.3.2.最小5kv可控调节2.3.3.自带电压过载保护2.4 多道分析器: 2.4.1. 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件。2.4.2 .最大道数: 2048;2.4.3 包含信号增强处理2.5光路过滤模块2.5.1 降低X射线光路发送过程中的干扰,保证探测器接收信号准确。2.5.2 将准直器与滤光处整合;2.6 准直器自动切换模块2.6.1多达7种选择,口径分别为8-1#, 8-2#, 8-3#, 8-4#,6#, 4#, 2#。2.7 滤光片自动切换模块苏州三值无损ROHS检测仪、合金分析仪、镀层厚度检测仪、厂家直销 2.7.1五种滤光片的自由选择和切换。 2.8 准直器和滤光片的自由组合模块 2.8.1 多达几十种的准直器和滤光片的自由组合。苏州三值(3V)无损ROHS检测仪、合金分析仪、镀层厚度检测仪仪器
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  • X射线荧光镀层测厚仪,涂层镀层测厚仪X射线荧光镀层测厚及材料分析仪系列测量方向产品型号应用范围检测器射线管基本滤片准值器数量/尺寸(mm)C型开槽从下往上XUL一款适合电镀厂测量镀层厚度的性价比高的仪器,它配备了一个固定的准值器和滤,射线管出射点稍大,非常适合测量点在1mm以上的应用。对于测量典型电镀层厚度的应用,如Cr/Ni/Cu等,非常合适。PC标准11(Φ0.3)是XULM多用途的镀层厚度测量仪。无论是薄的还是厚的镀层(如50nm Au或100um Sn)都通过选择好的高压滤片组合很好的测量。微聚焦管可以达到在很短的测量距离内小到100um的测量点大小。高达数kcps的计数率可以被比例接收器接收到。PC微聚焦34(0.05*0.05-Φ0.3)是XAN110/120专门为分析金合金开发的划算的仪器。比较XAN而言,只有一个固定的准直器和固定的滤片,特别适合贵金属分析。XAN 110配备比例接收器,适于几种合金元素的简单分析。XAN120配备了半导体接收器,更可以应用于多元素的复杂分析。PC(XAN 110)PC(XAN 120)标准11(Φ0.3XAN110)1(Φ1XAN120)否XAN分析专用仪器,测量方赂从下到上。用途广泛。测量室全封闭,可以使作大准直器分析,高计数康可也可被硅漂移探测器处理。激发和辐射检测方式与XDV-SDD相同。它是金合金分析和塑料中有害物质衡量分析的理想仪器。PINSDD微聚焦3/64(Φ0.2-Φ2)否从上往下测量XDL适合镀层厚度测量的耐用仪器,即使大测量距离也可以测量(DCM,范围0-80mm)配备一个固定的准值器和固定的滤片。适合测量点在1mm以上的应用;跟XUL类似。可选 用自动测量的可编程工作台。PC标准11(Φ0.3)是XDLM比XDL适用面更广,配备微聚焦管,4个可切换的准直器和3个基本滤片。测量头与XULM想似;适合于测量小的结构如接插件触点或印刷线路板,也可以测量大的工作(DCM,范围0-80mm)PC微聚焦34(0.05*0.05-Φ0.3)是XDAL与XDLM类似但配备了半导体接收器。这样就可能可以分析元素和测量超薄层(基于良好的信噪比)。比较适合测量结构较大的样品。PIN微聚焦34(Φ0.1-Φ0.6)是XDC-SDD适合于全部应用的高端机型。根据测量点大小和光谱组成,激发方式灵活多样。配备了硅漂移接收器,即使强度高达100kcps的信号也可以在不损失分辨率的情况下处理。SDD微聚焦64(Φ0.1-Φ0.3)否SDV-U专用微观分析的测量仪器。根据X射线光学部件的不同,可以分析小到100um或更小的结构。强度很高所以精度也非常好。即使很薄的镀层,测量不确定性小于1nm也是可能的。仅适于测量表面平整或接近平整的样品。SDD微聚焦4多毛细管系统是XDV-Vacuum具备综合测量能力的通用高端机型。与XDV-XDD相当。但可外配备了可抽真空的测量室,这样就使得分析从原子序数Z=11(Na)开始的轻元素成为可能。高精度的马达驱动的XYZ平台和视频摄像头可以精确定位样品位置和测量细小部件。SDD微聚焦64(Φ0.1-Φ3)否在线测量X-RAY 4000用于生产过程中薄膜,金属带或穿孔带的连续测量。测量头可以装配与样品传送方向的直角的位置。操作方便,启动迅速。数据接口可集成到质量管理或控制系统X-RAY54000用于生产线上连续测量的法兰式测量头。测量带状物,薄膜或玻璃的金属元素。在空气和真空都可以测量。提供水冷版本仪器。 X射线荧光镀层测厚仪,涂层镀层测厚仪用途:由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统,因而应用广泛 在电子和半导体产业里,测量触点上薄金,铂和镍层厚度或痕量分析。在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中,精确分析贵金属合金组分。在质量管控和来料检验中,需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中,光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中,则需要测量大批量部件的厚度。对于电子产品的生产者和采购者,检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》(ROHS指令)也是十分关键的。在玩具工业中,也需要有可靠的有害物质检测手段对于以上测量应用,菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光变仪都能完美胜任。 X射线荧光镀层测厚仪,涂层镀层测厚仪用途领域:1、钟表,首饰,眼镜 2、汽车及紧固件 3、卫浴五金4、连接器5、化学药水6、通信7、半导体封装测试8、电子元器件 9、PCB(线路板)
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  • 【求购】铝合金镀层的吸光度测定

    我用PE公司的lamda900测的铝合金镀层的吸光度,硫酸钡作参比,用积分球法直接测定镀层的漫反射,由仪器转化得到吸光度,但是A值大于1,请各位指教;还有就是有关资料还提到以硫酸钡为参比标准,以优级平面镜为工作标准,是什么意思啊?

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  • 日立分析仪器推出全新FT160 XRF镀层分析仪:针对微电子纳米级镀层
    p style="text-indent: 2em "strongspan style="text-indent: 2em "仪器信息网讯/span/strongspan style="text-indent: 2em " 2月25日,日立高新技术公司(TSE:8036)的全资子公司日立分析仪器(HitachiHigh-Tech Analytical Science)推出strongspan style="text-indent: 2em color: rgb(0, 112, 192) "新型FT160XRF光谱仪/span/strong,该分析仪提供三种基座配置选择方案用于纳米级镀层分析。日立分析仪器主要致力于分析和测量仪器的制造和销售。/span/pp style="text-align: center"img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 451px height: 301px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/c29354c7-1547-456d-ac6a-6c7087db5a33.jpg" title="日立新品.png" alt="日立新品.png" width="451" height="301" border="0" vspace="0"//pp style="text-align: center "span style="color: rgb(0, 176, 240) text-indent: 0em "FT/spanspan style="color: rgb(0, 176, 240) text-indent: 0em "160 XRF镀层分析仪/span/pp style="text-indent: 2em "随着新型FT160系列在日本率先推出,日立分析仪器目前已在中国、北美、欧洲、中东和非洲销售FT160系列镀层分析仪并提供相关服务。/pp style="text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 112, 192) "日立推出的该款最新一代镀层分析仪旨在应对测量小型部件上的超薄镀层所带来的挑战。/spanFT160是一种台式EDXRF(能量色散x射线荧光)分析仪,配有强大的软件和硬件,能实现高样品处理量,且任何操作员均能获取高质量结果。由于FT160系列专为在生产质量控制中发挥关键作用而设计,span style="color: rgb(0, 112, 192) "因此其可在半导体、电路板和电子元件市场中被广泛应用/span。/pp style="text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 112, 192) "strong▋/strong/spanstrong测量纳米级的镀层/strong/pp style="text-indent: 2em "FT160配置高端部件,可以提供精细结构上的超薄镀层的元素分析。毛细管聚焦光学镜能聚焦直径小于30μm的X射线束,从而在样品上集中更大强度且其可测量的部件尺寸小于传统准直器可测量的部件尺寸。高灵敏度、高分辨率日立分析仪器硅漂移探测器(SDD)充分利用光学系统测量微电子和半导体上的纳米级镀层。高精度样品台和具备数字变焦功能的高清摄像头可快速定位样件,以提高样品处理量。/pp style="text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 112, 192) "日立分析仪器产品经理Matt Kreiner表示/span:“在之前产品的成功基础上所推出的FT160能提供重新设计的照明布置以提高零件的可视性并便于定位,且新的配置选择方案可确保特定应用的最佳性能并为繁忙的测试实验室提供新的紧凑型基座配置要素。该产品系列硬件和分析能力的不断发展使我们的客户更容易在快速发展的微电子领域控制生产。FT160是对我们镀层仪器综合系列的补充,这归功于日立45多年的XRF镀层分析仪的开发经验。”/pp style="text-indent: 2em "FT160系列现已允许订购。可通过点击文末a href="https://www.instrument.com.cn/netshow/SH104100/product.htm" target="_blank" style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 176, 240) "日立分析仪器厂商展位/span/a联系日立分析仪器。/pp style="text-align: left text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 112, 192) "strong▋/strong/spanstrong关于日立分析仪器/strong/pp style="text-align: left text-indent: 2em "img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 354px height: 80px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/db00c146-e659-42ad-b762-773a6727b57f.jpg" title="00.png" alt="00.png" width="354" height="80" border="0" vspace="0"//pp style="text-align: left text-indent: 2em "日立分析仪器是日立高新技术集团于2017年7月创立的全球性公司。其总部位于英国牛津,其在芬兰、德国和中国从事研发和装配业务并在全球多个国家开展销售和支持业务。其产品系列包括:/pp style="text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 112, 192) "□/span FT160、FT110和X-Strata微焦斑XRF光谱仪,能测量单层和多层镀层(包括合金层)的镀层厚度,可成为质量控制或过程控制程序以及研究实验室的专用分析仪。/pp style="text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 112, 192) "□/span EA1000、EA6000和HM1000 RoHS(有害物质限制指令)分析仪适用于RoHS 1和RoHS 2测试,使用便捷,能够很好适应限制指令的变化。/pp style="text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 112, 192) "□/span DSC7000X、DSC7020、NEXT STA、STA7000、TMA7100、TMA7300和DMA7100系列热分析仪已经过优化,可检测最小反应并使其可视化,同时具有坚固耐用、可靠且易于使用的特点。/pp style="text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 112, 192) "□/span EA8000 x射线颗粒污染物分析仪用于锂离子电池生产中快速有效的质量控制。/pp style="text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 112, 192) "□/span Lab-X5000和X-Supreme8000台式XRF光谱仪可为石油、木材处理、水泥、矿物、采矿和塑料等多种行业提供质量保证和过程控制服务。/pp style="text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 112, 192) "□/span OE750、PMI-MASTER、FOUNDRY-MASTER和TEST-MASTER系列分析仪被世界各地的行业用于进行快速和精确的金属分析。该仪器采用直读光谱分析技术,可测定所有重要元素,能提供低检测限和高精度,包括钢中的碳和几乎所有金属中所有技术相关的主要和痕量元素。/pp style="text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 112, 192) "□/span X-MET8000手持式光谱仪被成千上万的企业用于通过XRF精密技术进行简单、快速和无损的合金分析、废金属分拣和金属牌号筛选。/pp style="text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 112, 192) "□/span 采用LIBS激光技术的Vulcan手持式光谱仪只需一秒即可识别金属合金,是世界上分析速度最快的分析仪之一。这对需要处理大量金属的企业而言非常有利。/ppbr//p
  • 朗铎科技|电力行业镀层检测解决方案
    高压隔离开关在我国电力系统中被广泛应用,主要用于检修高压电线、断路器等电气设备时,在无负荷情况下切换高压线,隔断电网,安全的进行检修,保证电力设备和电力人员的安全。导电触头是高压隔离开关的关键部件,承担转接、隔离、接通和分断等任务,其工作状态的好坏,直接影响到整个电力系统的运行。触头作为高压开关的重要部件,容易受到侵蚀破坏,触头镀膜质量下降问题最为常见。因此,一套科学有效的触头镀膜检测方法是保障高压电器设备安全运行的前提。x射线荧光光谱分析法是镀银层厚度检测的一种非常有效的分析方法,具有分析迅速、样品前处理简单、可分析元素种类多,可分析的浓度范围广,可以同时进行多元素分析,谱线简单,光谱干扰少等优点。赛默飞世尔尼通便携式x射线荧光镀层检测仪相比台式分析仪器在金属表面处理工艺中有着无可比拟的优势,它无需切割样品,无需花费较长的时间来等待检测结果,可以在数秒内准确,无损的得到多层镀层厚度,对提高电镀效率和过程效率很有帮助,避免镀层过厚或过薄。另外,赛默飞世尔尼通便携式x射线荧光镀层检测仪不受分析样品的大小、形状限制,对于大的、不规则形状样品和小直径的丝状、管状样品同样适用。切割样品放到台式分析仪测试的做法将成为历史。技术进步和对用户需求的持续关注,使赛默飞世尔尼通便携式x射线荧光镀层检测仪成为在工业现场进行镀层厚度分析的首选,它可以携带至任何工作现场并获得实验室级精度的分析数据。除了优越的合金牌号鉴定及合金成分分析功能,赛默飞世尔尼通便携式x射线荧光镀层检测仪还提供了镀层测厚和涂层测重的无损检测方案,提高了工作效率和经济效益。高压隔离开关触头的镀银层质量是影响其电接触性和可靠性的重要因素,镀层不合格会导致触头早期失效,造成电网运行故障。建议在开关触头验收阶段或者投入使用之前,采用赛默飞世尔尼通便携式x射线荧光镀层检测仪对高压开关触头镀银层进行成分和厚度检测,保证入网产品符合国家电网公司相应规范要求。赛默飞世尔尼通便携式x射线荧光镀层检测仪实测数据ag/ni/cu镀层1镀层2测试次数ni(μm)ag(μm)14.7344.4324.7514.40934.754.40444.7554.40754.7114.38464.7564.40674.7484.42284.714.40894.7364.411104.714.414平均值4.7364.41标准值4.724.42赛默飞世尔尼通便携式x射线荧光镀层检测仪产品特点【灵活性】可利用已知样品轻松校正【在线分析】提升生产过程效率【无损分析】样品无需切割【测厚准确】防止镀层过厚或过薄【特殊构造】采用坚韧的lexan塑料密封外充,重量轻,坚固耐用;密封式一体化设计,防尘、防水、防腐蚀,可在任何地方安全使用【通讯功能】蓝牙、usb多种仪器连接方式【可测试元素多】可检测mg-pb之间的多达25种元素【激发源功率高】可检测镀层厚度为0.4-100um(无限厚度视镀层元素不同)【计算方法领先】基本参数法加经验系数法结合【检测方法领先】提高了较涡电流/磁感应检测方法对基体变化/样品形状比较敏感的技术准确性【多种单位可选】可测试二十余种基体下单/双层镀层样品厚度并可转换成多种单位
  • 镀层检测技术在质量控制过程中的灵活运用
    汽车的历史新闻:  近几年,汽车的质量问题屡见不鲜。时下的汽车安全问题,一直是汽车行业消费最关注的话题之一。那么,如今的汽车质量是否能跟上其日新月异的发展节奏呢?本次我们讨论的话题是,汽车电器中电器接插件方面的质量问题与其对应方法。在金属镀厚的过程中,主要有以下几种因素会影响其镀层质量: 镀前处理:生产实践证明造成镀层质量事故多数是由于金属制品的镀前处理不当或欠缺所致。镀前处理的每道工序都会直接问影响到镀层质量。电镀溶液:镀液的性质、各组成成分的含量以及附加盐、添加剂的含量等都会影响镀层质量。基体金属:镀层金属与基体金属的结合是否良好,与基体金属的化学性质有密切关系。如基体金属的电位负于镀层金属的电位,或对易于钝化的基体或中间层,若不采取适当的措施,难以获得结合牢固的镀层。电镀过程:电流密度、镀液温度、送电方式、移动和搅拌的速度等,也会直接影响镀层质量。析氢反应:在宁波电镀过程中大多数镀液的阴极反应都伴随着氢气的析出。当析出的氢气黏附在阴极表面上时会产生针孔或麻点;当一部分被还原的氢原子渗入基体金属或镀层中,会使基体金属及镀层的韧性下降而变脆,叫氢脆。氢脆对高强度钢及弹性零件产生的危害尤其严重。镀后处理:镀后对镀件的清洗、钝化、除氢、抛光、保管方法等都会继续影响镀层质量。电源问题:近年来除采用一般的直流电外,根据实际需要广泛采用换向电镀的方法,使用周期换向电流,还有脉冲电源提供的脉冲电流等都会对镀层质量产生影响。   那么,成品镀件的质量究竟该如何管控呢?  镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对镀层厚度有了明确要求。目前镀层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β 射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。  X射线和β 射线法是无接触无损测量,测量范围较小,X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β 射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。  随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用X射线镀层测厚仪 向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,是工业和科研使用最广泛的测厚仪器。  金属表面处理技术广泛应用于电子行业,而电镀处理更是其主要的表现形式,电镀效果也将直接影响电子设备的性能发挥,汽车电子行业也不例外,其中汽车电子连接器端子的电镀将会影响汽车电子设备的导电和信号传输等方面的性能发挥。 目前在汽车电子连接器端子中较为常见的是Sn/Ni/CuZn、Au/Ni/CuZn、Sn/Ni/CuSn、Au/Ni/CuSn等镀层结构,日立FT110系列产品能够有效地对应Sn/Ni/CuZn、Au/Ni/CuZn、Sn/Ni/CuSn、Au/Ni/CuSn结构的膜厚测量,使用日立FT110对Sn/Ni/CuZn、Au/Ni/CuZn结构的测量来讨论电镀工艺在质量管理上的重要性。解决方案请见: http://www.instrument.com.cn/netshow/SH100718/s544330.htm
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