厚度测试

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厚度测试相关的耗材

  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bondedwafers 。硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
  • XRF测试薄膜【厚度3.6μ m】156#
    X射线荧光膜、土壤样品杯膜、mylar膜、XRF样品膜、迈拉膜、麦拉膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜--美国Chemplex 156#现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。品名:XRF样品膜Sample Film目录编号CAT.NO:156产品信息:Mylar膜(迈拉膜、麦拉膜),厚度3.6μm,直径63.5mm,500片/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。产品详细信息:SpectroCertified® Thin-Film Sampel SupportsMYLAR® POLYESTER FILMCAT. NO:156Gauge:0.00014”,3.6 μm;0.14mil,35,560ATypical Impurities,PPM:Ca, P, Sb, Fe, ZnChemplex® INDUSTRIES,INC.Contents:500Circles; Lot No:110777。现货供应:XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。
  • 卷轴厚度6.0 μ mROHS测试膜250#
    迈拉膜、麦拉膜、XRF样品膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X射线荧光膜、土壤样品杯膜、mylar膜--美国Chemplex 250#现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。品名:XRF样品膜Sample Film目录编号CAT.NO:250产品信息:Mylar膜(迈拉膜、麦拉膜),卷轴,厚度6.0 μm,宽7.6cm x 长91.4m,1卷/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。产品详细信息:SpectroCertified® Thin-Film Sampel SupportsMYLAR® POLYESTER FILMCAT. NO:250Gauge:0.00024”,6.0 μm;0.24mil,60,960ATypical Impurities,PPM:Ca, P, Sb, Fe, ZnChemplex® INDUSTRIES,INC.ROLL:3” x 300’ (7.6cm x 91.4m); Lot No:030975。现货供应:XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。

厚度测试相关的仪器

  • 薄膜厚度测试仪 薄片厚度测量仪 厚度测量仪 厚度仪 测厚仪 _______________ 产品详情 ______________ 薄膜厚度测试仪是用机械测量法测定塑料薄膜和薄片厚度的仪器,但不适用于压花的薄膜和薄片。 产品特点薄膜厚度测试仪外型美观,结构科学合理,使用可靠. 产品应用薄膜厚度测试仪主要用于塑料薄膜、薄片、纸张、纸板的厚度测试,还可扩展用于箔片、硅片、金属片的厚度测试. 技术标准薄膜厚度测试仪参照执行标准GB/T6672-2001《塑料薄膜和薄片厚度的测定—机械测量法》,该标准修改采用标准ISO4593—1993《塑料—薄膜和薄片—用机械扫描法测定厚度》. 产品参数测量范围:0~10mm分度值0.001mm;测头端部的力:(1)上测头的测量面为¢6mm平面,下测头为平面时,测头对试样施加的力为0.5~1.0N;(2)上测量面为(R15—R50)mm曲率半径,下测头为平面时,测头对试样施加的力为0.1~0.5N. 产品配置主机一台 济南恒品专业生产纸制品包装检测仪器,印刷包装检测仪器,塑料包装检测仪器,各种试验设备及产品。 其它产品:纸箱抗压试验机,纸张耐破度仪,电子压缩试验仪,电子拉力试验机,密封性测试试验机,试验机,捆绑机,打包机,厚度测定仪,白度色度测定仪,白度测定仪,可勃吸收性测定仪,可勃取样刀,层间结合强度测定仪,纸浆打浆度测定仪,定量取样刀,MIT耐折度测定仪,纸板挺度测定仪,纸板挺度测定仪,数控电动离心机,瓦楞纸板边压(粘合)试样取样刀,环压取样刀,平压取样器,边压导块,剥离试验架,环压盘,瓦楞原纸起楞器,纸张柔软度测定仪,纸板戳穿强度测定仪,纸张水分仪,单臂包装跌落试验台,双翼跌落试验机,纤维标准解离器型,胶带初性测试仪,持粘性测试仪,环形初粘性测试仪,电子剥离试验机.,胶粘剂拉伸剪切试验机,密封性测试仪,摩擦系数测定仪,透光率雾度测定仪,干燥箱,油墨印刷摩擦试验机,反压高温蒸煮锅,正压密封试验仪、瓶盖扭矩测定仪、热封试验仪。标准光源,光泽度仪等。
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  • 厚度测试仪 400-860-5168转4961
    PTT-03A厚度测试仪产品简介:产品特征:PTT-03A厚度测试仪是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器;适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。测头采用标准M2.5螺纹连接方式,可连接各种形式百分表,千分表表头进行测量;可拆卸螺纹连接配重块,可满足各种标准要求及非标压力定制;嵌入式高速微电脑芯片控制,简洁高效的人机交互界面,为用户提供舒适流畅的操作体验标准化,模块化,系列化的设计理念,可大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面7寸高清彩色液晶屏,实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片,有效保证测试准确性与实时性内置微型打印机,可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口,便于系统与电脑的外部连接和数据传输严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制 高精度测厚传感器,精度高重现性好可采用标准厚度计量工具标定、检验多种测试量程可选实时显示测量结果的最-大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断高精度薄膜厚度测试仪技术参数:测量范围 0~2mm(标准),0~6mm,0~12mm(可选)分辨率 0.1μm (1μm可选)测试速度 1~25次/min测量头平行度 ±0.2μm(机械调整,量块校验)精度 ±<0.3μm测量压力 17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张);其它测试可定制接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)约净重 30Kg
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  • 薄膜测厚仪 CHY-CA 纸张厚度测试仪 膜厚仪 厚度仪CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理,严格按照标准方法进行测量,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统,大液晶显示、PVC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择。◎ 系统自动进样,进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口,便于系统与电脑的外部连接和数据。薄膜测厚仪 CHY-CA 纸张厚度测试仪 膜厚仪 厚度仪测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理,截取一定尺寸的式样;通过控制面板按钮,调节测量头降落于式样之上;依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。 应用领域薄膜、薄片、隔膜:适用于薄膜、薄片、隔膜的厚度测试纸张、纸板:适用于纸张、纸板的厚度测试箔片、硅片:适用于箔片、硅片的厚度测试金属片:适用于金属片的厚度测试纺织材料:适用于纺织材料的厚度测试固体电绝缘体:适用于固体电绝缘体的厚度测试无纺布材料:适用于无纺布材料的厚度测试,如尿不湿、卫生巾片材的厚度测试量程扩展至5mm, 10mm:适用于无纺布材料的厚度测试,如尿不湿、卫生巾片材的厚度测试曲面测量头:满足特殊要求的厚度测试薄膜测厚仪 CHY-CA 纸张厚度测试仪 膜厚仪 厚度仪技术参数测试范围:0 ~ 2 mm(常规)、0 ~ 6 mm、10 mm(可选)分辨率:0.1 μm测量速度:10 次/min (可调)测量压力:17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张)接触面积:50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张)注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制进样步距:0 ~ 1000 mm进样速度:0.1 ~ 99.9 mm/s电源:AC 220V 50Hz外形尺寸:400mm (L)×310 mm (W)×460mm (H)净重:32 kg测试标准该仪器符合多项国家和国标标准:ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修,一年质保,终身提供。快速处理,1小时内响应问题,1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001:2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心,两条独立生产线,一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今,全球用户累计成交产品破万台,完善四大产品体系,50多种产品。
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厚度测试相关的方案

厚度测试相关的论坛

  • 镀层厚度测试

    大家能否分享一下镀层厚度测试的经验?诸位对用岛津的EDX720测镀层厚度的准确性方面都有什么感受?请不吝赐教!

厚度测试相关的资料

厚度测试相关的资讯

  • 高阻隔材料测试中厚度对渗透率的影响
    当天气变冷时,我们马上就知道多穿几层衣服会让我们更暖和。简单地说,如果你想要更多的保护,你就增加更多的厚度。同样的原理也适用于气体透过率测试。经验法则是,如果你将材料的厚度增加一倍,阻隔水平也会增加一倍,相应的透过率将减少一半。厚度对渗透率的影响有多大?很少有人去了解的是,较厚的样品渗透达到平衡所需的测试时间。典型的假设是,厚度加倍就需要测试时间加倍。这是不正确的。通常情况下,每次材料厚度增加一倍,渗透率达到平衡需要4倍的时间。下面是厚度1mil和5mil PET薄膜及其渗透率水平的比较。选择这些薄膜是因为它们在短时间内WVTR达到平衡。在此示例中,1mil PET薄膜的水蒸气透过率 (WVTR) 为10.1 g/(m2 x day)。达到该值95%所需的时间不到30分钟。5mil PET薄膜的WVTR为2.17 g/(m2 x day),需要近450分钟才能达到最终值的95%。我们通常看到,对于厚样品特别是在测量更高阻隔材料时,最后5%~10%的渗透率平衡可能需要相对较长的时间。通过测试得出结论当测试较厚材料的阻隔时,整体渗透率会成比例下降。材料厚度增加5倍,测得的WVTR从10.1 g/(m2 x day)下降至 2.17 g/(m2 x day)。 随着材料厚度的增加,需要更多的时间(超过5倍)来测试样品以达到平衡。如图所示,渗透率水平和达到平衡的时间都受到材料厚度的影响。当您优化测试条件(例如WVTR和CO2TR的流速)和测试持续时间以确保平衡值时,需要牢记这一点。适用于薄样品的标准测试设置可能会为厚样品产生不准确或过早的结果。
  • 岛津SPM石墨烯厚度测试——应对GB/T 40066—2021
    近期,国家标准化管理委员会发布了《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》,这一方面意味着石墨烯材料的产业化工作向前迈进了一步,另一方面也表明原子力显微镜开始逐步被标准化工作认可和接受。 为此,作为有着三十年原子力显微镜/扫描探针显微镜设计、开发、销售经验的岛津,按照新发布标准的流程进行了产品验证。结果表明,岛津的原子力显微镜/扫描探针显微镜产品完全符合标准的要求。 本次分析流程完全参照《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》附录A方法一实例进行。 01测试仪器:岛津SPM-9700HT02图像分析软件:WSxM 5.0 Develop 8.403图像处理过程经SPM-9700HT扫描获得的原始图像如下:利用WSxM软件Flatten功能处理后图像如下按标准利用软件的Profile功能选取不同位置三条轮廓线,轮廓线方向为SPM-9700HT快速扫描方向(X轴)。将3条轮廓线数据导出,利用EXCEL软件进行处理,分别拟合3条轮廓线的上台阶拟合直线和下台阶拟合直线。厚度计算:利用标准中的公式计算公式图片来源:《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》结论(1)、按照标准计算得知该片氧化石墨烯厚度为0.630±0.039nm,由此可推测这片氧化石墨烯为单层石墨烯。 (2)、岛津的原子力显微镜/扫描探针显微镜产品完全符合《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》的要求。
  • 扫描电镜测试法:我国首个光学功能薄膜微观结构厚度测试标准正式实施
    近日,由中国航天科技集团有限公司中国乐凯研究院起草的国家标准GB/T 42674-2023《光学功能薄膜 微结构厚度测试方法》正式实施。(文末附下载链接)该标准规定了通过扫描电子显微镜(SEM)检测光学功能薄膜横截面微结构厚度的方法,适用于微米、纳米级光学功能薄膜各功能层微观结构测试。这是我国首个覆盖光学功能薄膜全领域的微米-纳米级各功能层微观结构的测试标准。该标准的制定与实施,对于准确测定光学功能薄膜微结构厚度、规范行业测定方法、促进行业发展具有重要意义。GB/T 42674-2023《光学功能薄膜 微结构厚度测试方法》详细内容标准下载链接:https://www.instrument.com.cn/download/shtml/1198352.shtml
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