快离子导体薄膜

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快离子导体薄膜相关的耗材

  • 超快薄膜偏振片
    超快薄膜偏振片1.适用于钛:蓝宝石和镱掺杂激光器2.高达0.3 J / cm2 @ 200 fs @ 800nm损伤阈值3.优化分散S和P的最小色散超快薄膜偏振片采用薄膜涂层技术,可在近红外波长范围内实现zui佳性能。这些偏振器具有高损伤阈值,非常适用于高功率激光器,包括Ti:蓝宝石和掺镱激光源。透射偏振器可在偏振器的两侧具有偏振涂层,而反射偏振器由输入面上的偏振涂层和输出面上的抗反射涂层组成。订购信息消声系数对比度波长范围 (nm)透射率 (%)20:1Tp:Ts20:1750 - 850Tp85 / Ts#88-23560:1Rs:Rp60:1750 - 850-#88-23620:1Tp:Ts20:1980 - 1090Tp85 / Ts#88-23760:1Rs:Rp60:1980 - 1090-#88-238技术数据
  • 超快型薄膜偏振片
    超快型薄膜偏振片适用于Ti:Sapphire和掺镱激光器200 fs、800nm 下的损伤阈值高达 0.3 J/cm2经过优化,适合以最小分散分离 S 和 P通用规格有效孔径 CA(mm):22.86表面质量:20-10直径 (mm):25.40有效孔径 (%):90.00尺寸容差 (mm):+0.00/-0.10厚度 (mm):3.00厚度容差 (mm):±0.1平行度(弧分):入射角 (°):72 ±2Damage Threshold, Pulsed:Typical: 5 J/cm2@ 1064nm, 10ns表面平整度:λ/6传输波前,P-V (λ):构造 :Thin Film Dielectric基底:UV Grade Fused Silica超快薄膜偏光镜采用薄膜镀膜技术,能够在近红外 (NIR) 波长范围中提供最佳性能。超快薄膜偏光镜具有高损伤阈值,使其成为高功率激光器 — 包括Ti: Sapphire 和掺镱激光来源的理想之选。透射偏光镜的两面均镀有偏振膜,而放射偏光镜的入射面和出射面则分别镀有偏振膜和增透膜。产品信息类型DWL(nm)消光比对比度波长范围(nm)透射率(%)产品编码Linear Polarizer80020:1Tp:Ts20:1750 - 850Tp85 / Ts#88-235Linear Polarizer80060:1Rs:Rp60:1750 - 850-#88-236Linear Polarizer103020:1Tp:Ts20:1980 - 1090Tp85 / Ts#88-237Linear Polarizer103060:1Rs:Rp60:1980 - 1090-#88-238技术数据
  • 半导体激光模块
    半导体激光模块筱晓光子供应半导体激光模块,波长:405nm、445nm、635nm/638nm、650nm。该系列半导体激光器具有效率高、可靠性好、结构紧凑、寿命长、免维护的特点,广泛应用于:生物医疗、数据存储、材料检测、科学研究、OEM系统集成。ModelLDM-405LDM-445LDM-635/638LDM-650Wavelength405±5nm445±5nm635±5nm650±5nmSpatial modeNear TEM00Near TEM00MultimodeMultimodeOutput power10, 20, ..., 200mW100, 200, 500, 1000mW200, 500, 800mW250, 500, 900mWHigher power could be available upon requestOperation modeCW or ModulationBeam diameter (1/e2)4.0mm2x4mm4.0mm5.0mmBeam divergence0.5mrad2mrad1.5 or 3mradPower stabilityWarm up timeOperating temp.20-30℃Storage temp.10-50℃Lifetime10000 hours10000 hours5000 hours5000 hours

快离子导体薄膜相关的仪器

  • 薄膜无损检测系统/半导体无损检测系统姓名:田工(Allen)电话:(微信同号)邮箱:薄膜无损检测仪产品特点:系统使用获得专利的光声技术设计无损测量系统。源自 CNRS 和波尔多大学的技术转让,它依靠激光、材料和声波之间的相互作用实验超精密材料物性,薄膜厚度检测系统使用无接触,无损光学测量。运用激光产生100GHz以上超高频段超声波,以此检测获得材料诸如厚度,附着力,界面热阻,热导率等。产品尤其适测量从几纳米到几微米的薄层,无论是不透明的(金属、金属氧化物和陶瓷),还是半透明和透明的。 这种全光学无损检测技术(without contact, no damage, no water, no Xray)不受样品形状的影响。产品适用精度可以达 1nm to 30 microns , Z轴分辨率为亚纳米于此同时,系统提供附着力、热性能(纳米结构界面热阻)测量分析 多种材料适用性广泛的材料至关重要。我们的技术已证明其能够测量许多金属材料以及陶瓷和金属氧化物,并且不受外形因素的影响。 薄膜无损检测仪广泛的应用中发挥作用半导体行业半导体行业为我们周围遇到的大多数电子设备提供了基本组件。它的制造需要在硅晶片上进行多次薄膜沉积,。工业过程中厚度测量和界面表征都是确保质量的关键。尤其是半导体行业中多层/单层不透明薄膜沉积对于以上问题,我们针对提供:-高速控制检测-无损无接触测量-单层/多层测量显示行业今天,不同的技术竞争主导显示器的生产,而显示器在我们的日常使用中无处不在。事实上,由于未来 UHD-8K 标准以及新兴柔性显示器的制造工艺,这不断扩大的行业存在技术限制单个像素仍然是一堆薄层有机墨水、银、ITO… … 在这方面,控制薄层厚度的问题仍然存在。这些问题可能会导致产品出现质量缺陷。对此我们可提供:- 对此类层级样品的独特检查。- 提取厚度的可能性。- 非破坏性和非接触式厚度测量。薄层沉积无论是在航空工业还是医疗器械制造领域,技术涂层都可用于增强高附加值部件中的某些功能。这些涂层的厚度随后成为确保目标性能的关键因素。接触式破坏测量对于此领域会带来特定问题,且受限于待测样品形状因素、曲率等原因,很难控制样品特性。 对此我们可以提供:不改变样品形貌无损检测(Form factor postage)快速厚度测量在线测量控制 部分合作单位
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  • 该设备可以在某些衬底材料上实现外延生长工艺,实现分子自组装、超晶格、量子阱、一维纳米线等。可以进行第二代半导体和第三代半导体的工艺验证和外延片的生长制造。分子束外延薄膜生长设备MBE在薄膜外延生长时具有超高的真空环境,是在理想的环境下进行薄膜外延生长,它可以排除在薄膜生长时的各种干扰因素,得到理想的高精度薄膜。我公司设计制造的分子束外延薄膜生长实验设备,分实验型和生产型两种 ,配置合理,结构简单,操作方便,技术先进,性能可靠,用途多,实用性强,价格相对较低,可供各大学的实验室及科研机构作为分子束外延方面的教学实验、科学研究及工艺实验之用。生产型MBE可用于小批量外延片的制备。功能特点本项目于2005年在国内率先完成了成套MBE的全国产化研发设计和制造,做到自主可控。自主设计MBE超高真空外延生长室、工艺控制系统与软件、RHEED原位实时在线监控仪、直线型电子枪、高温束源炉、束源炉电源、高温样品台、膜厚仪(可计量外延生长的分子层数)等核心部件。可实现第二代半导体(如砷化镓等)和第三代半导体(如碳化硅和氮化镓)的外延生长。设备组成与主要技术指标设备的组成进样室该室用于样品的进出仓,并配置有多样片储存功能。样品库可放六片基片。预处理室该室用于样品在进入外延室之前进行真空等离子剥离式清洗和真空高温除气,及其他前期工艺处理。还用于对外延后的样片进行后工艺处理,如高温退火等等。外延室超高真空洁净真空室,实现分子束外延工艺。主要技术指标进样室极限真空:5.0×10^-5Pa样品装载数量:6片(φ2 英寸~φ4 英寸,带样品载具)预处理室极限真空:5×10^-7Pa样品台加热温度:室温~ 850℃±1℃(PID 控制)离子清洗源:Φ60;100 ~ 500eV外延室 极限真空 离子泵 2.0×10-8 Pa(冷阱辅助) 样品台加热温度 室温~ 1200℃±1℃(PID 控制) 样品自转速度 2 ~ 20 转 / 每分钟(无级可调) 气态离化源 1~3套(氮) 固态束源炉 3 ~ 8 套(根据用户需求配置) Rheed 1套*工艺室部分部件根据客户需求不同,所配置不同。实验型MBE设备组件超高真空直线型电子枪自主研发直线型电子枪,满足超高真空和束源炉法兰接口及安装尺寸的要求;可用于高温难融材料的加热蒸发。超高真空直线型电子枪高能衍射枪及电源束斑0.6mm,高压25kV。光斑在荧光屏上可衍射图像经CCD 相机采集后由计算机进行图像处理。生产型MBE工艺实现使用鹏城半导体自主研发的分子束外延设备生长的Bi2-xSbxTe3。
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  • 等离子薄膜溅射仪 400-860-5168转2205
    产品名称:等离子薄膜溅射仪 GSL-1100X-SPC-12产品简介:GSL-1100X-SPC-12型等离子薄膜溅射仪是为扫描电镜和电子探针等进行试样制备的设备,可进行真空蒸碳、真空镀膜和离子溅射,它也可以在高纯氩气的保护之下进行多种离子处理。用本设备处理的试样既可用于样品的外貌观察又可以进行成分分析,尤其是成分的定量分析更为适宜。本仪器装有分子泵,分子泵系统特别适用于对真空要求高、真空环境好的用户选用。 我公司供应的产品符合国家有关环保法律法规的规定(含采购商ISO14000环境体系要求),不会造成环境污染; 该产品符合采购商OHSMS18000职业安全健康管理体系标准的要求,不会对接触产品的人员健康造成损害!主要特点:抽速快,操作简便,真空度高,安全可靠技术参数:●试样处理室 (1)钟罩:内径250mm× 高度340mm (2)玻璃处理室: 玻璃罩 A:内径88mm× 高度140mm 玻璃罩 B:内径88mm× 高度57mm (3)试样台:直径40mm(最大) (4)试样旋转:电动 (5)挡板:电动 (6)蒸发加热器:可同时安装两个加热器 ●真空系统 (1)抽气系统:由分子泵、机械泵组成的高真空机组 (2)真空检测:热偶计、冷规 (3)常用真空度:1.3× 10-2 ~6× 10-3Pa (4)操作:手动 ●处理电源 (1)高压电源:DC3千伏10mA连续可变,用表指示。 (2)低压电源:AC10V100A连续可变,电流用表指示。 (3)电源要求:AC220V 50HZ 10A ●气体要求 氩气纯度99.9%(对样品有特殊要求时可使用) ●冷却要求 本系统采用F100/110F―普通轴承风冷涡轮分子泵,其冷却方式为风扇强制风冷和通水冷却两种,当工作环境低于32℃时,可采用风冷冷却,当工作环境温度高于32℃时,则必须采用水冷。重量:约150公斤 体积:L800mm× W560mm× H1340mm可选配件:氧化铝坩埚,石英坩埚,真空泵等具体信息请点击查看:
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快离子导体薄膜相关的方案

  • 天津兰力科:ZRNx快离子导体薄膜的制备及其Cr掺杂性能的研究
    全固态电致变色器件的实用化研究一直是该领域的研究热点。电致变色器件全固态化的关键是采用合适的快离子导体(有时亦称固体电解质)作为器件的离子传导层。目前,用于电致变色器件的快离子导体仍以固态聚合物电解质为主,然而,聚合物电解质存在易老化、机械强度差、工业化生产难度较大等缺点。无机快离子导体是最有希望用于全固态电致变色器件的离子导体材料。本实验室前期研究结果表明,在合适的工艺参数下制备的 ZrNx薄膜具有高的透过率、良好的热稳定性、耐磨性和化学稳定性,适合于作为电致变色器件的离子导体层。 到目前为止,制备离子导体薄膜最常用的方法有溶胶-凝胶法、真空蒸发法、化学气相沉积法和溅射沉积法等,其中磁控溅射以沉积速率高、基片温升低、膜层均匀性及附着力好、工艺参数易控制等优点而日益成为制备离子导体薄膜的理想工艺方法。 因此本文以纯锆靶及纯铬靶为靶材,采用反应磁控溅射工艺在 WO3/ITO/Glass基片上沉积 ZrNx薄膜和 ZrNx:Cr 薄膜,通过紫外-可见分光光度计、循环伏安法、交流阻抗法、X 射线衍射仪、热场发射扫描电镜以及扫描隧道显微镜等测试分析方法,研究了制备工艺参数以及 Cr 掺杂对 ZrNx薄膜离子导电性能和结构的影响 。研究结果表明:采用射频反应磁控溅射工艺制备的 ZrNx薄膜和 ZrNx:Cr 薄膜均为非晶态结构,溅射功率和氮气分量等工艺参数对薄膜的离子导电性能有较大影响,选择合适的氮分量和溅射功率有助于提高 ZrNx薄膜的离子导电性能,在本实验的条件下,原位沉积 ZrNx薄膜的可见光透过率大于 75%,ZrNx/WO3/ITO/Glass器件的光学调节范围最大可达 57%以上,在离子传导过程中表现出良好的离子导电性能。 掺杂后的 ZrNx:Cr 薄膜,晶态趋势大于未掺杂的 ZrNx薄膜,结构的变化导致ZrNx:Cr 薄 膜 的 离 子 传 导 性 能 有 所 下 降 , 电 化 学 窗 口 变 小 , 从 而 使ZrNx/WO3/ITO/Glass 器件的光学调节范围缩小。
  • 微波消解半导体薄膜材料
    半导体膜是指由半导体材料形成的薄膜。随着制备半导体薄膜的技术不同,在结构上可分为单晶,多晶和无定形薄膜。半导体材料是微电子和光电子器件的主要材料,特别是大规模集成电路芯片上元件的集成度越来越高,元件的尺寸越来越小,半导体薄膜是构成这类器件的基本材料 。我们选择一种半导体薄膜材料,探索最适合的消解参数,有利于后续对多种无机元素的快速准确测定。
  • 微波消解半导体薄膜材料
    半导体膜是指由半导体材料形成的薄膜。随着制备半导体薄膜的技术不同,在结构上可分为单晶,多晶和无定形薄膜。半导体材料是微电子和光电子器件的主要材料,特别是大规模集成电路芯片上元件的集成度越来越高,元件的尺寸越来越小,半导体薄膜是构成这类器件的基本材料 。我们选择一种半导体薄膜材料,探索最适合的消解参数,有利于后续对多种无机元素的快速准确测定。

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  • 半导体薄膜相关测试问题,求助!

    请问各位前辈,大神们,本人做的是半导体薄膜吸收层,为什么XRD检测我的样品和pdf卡片对照的一模一样,没有杂峰。但eds检测原子计量比不符合投料比呢,投料比为1:1.但是出来差别很大,这是什么原因呢?

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快离子导体薄膜相关的资讯

  • 打造半导体制造薄膜沉积设备领军企业 拓荆科技助力产业链发展
    目前的科创板上市公司中,大都是各自领域的“领跑者”,即将正式登陆科创板的拓荆科技股份有限公司(以下简称“拓荆科技”、“公司”)就是典型代表。  拓荆科技成立于2010年4月,是辽宁省及沈阳市重点培育的上市后备企业和中国半导体设备五强企业,主要从事高端半导体专用薄膜沉积设备的研发、生产以及技术服务,产品包括等离子体增强化学气相沉积(PECVD)设备、原子层沉积(ALD)设备和次常压化学气相沉积(SACVD)设备三个产品系列,是目前国内唯一一家产业化应用的集成电路PECVD、SACVD设备厂商。公司产品已广泛应用于中芯国际、华虹集团、长江存储、长鑫存储、厦门联芯、燕东微电子等国内晶圆厂14nm及以上制程集成电路制造产线,在不同种类芯片制造产线的多道工艺中得到商业化应用。同时已展开10nm及以下制程产品验证测试,在研产品已发往国际领先晶圆厂参与其先进制程工艺研发。  薄膜沉积设备技术门槛高,研发难度大。拓荆科技立足自主创新,先后承担多项国家重大科技专项课题,在半导体薄膜沉积设备领域积累了多项研发及产业化的核心技术,并达到国际先进水平。其中,公司先进的薄膜工艺设备设计技术、反应模块架构布局技术、半导体制造系统高产能平台技术等核心技术,不仅解决了半导体制造中纳米级厚度薄膜均匀一致性、薄膜表面颗粒数量少、快速成膜、设备产能稳定高速等关键难题,还在保证实现薄膜工艺性能的同时,提升客户产线产能,减少客户产线的生产成本。  拓荆科技的产品已基本全面实现了我国芯片制造产业在介质薄膜沉积设备领域摆脱对海外厂商的依赖,补强了我国在集成电路产业链关键环节的实力,为我国建立芯片体系贡献力量。  公司聚焦的半导体薄膜沉积设备与光刻机、刻蚀机共同构成芯片制造三大主设备。拓荆科技经过十多年的技术积累,已形成覆盖二十余种工艺型号的薄膜沉积设备产品,可以适配国内最先进的28/14nm逻辑芯片、19/17nm DRAM芯片和64/128层3D NAND FLASH晶圆制造产线,满足下游集成电路制造客户对于不同材料、不同芯片结构薄膜沉积工序的设备需求。其中,PECVD设备已全面覆盖逻辑电路、DRAM存储、FLASH闪存集成电路制造各技术节点产线多种通用介质材料薄膜沉积工序,并研发了LokⅠ、LokⅡ、ACHM、ADCⅠ等先进介质材料工艺,一举打破了薄膜沉积设备长时间被欧美和日本厂商垄断的局面。凭借长期技术研发和工艺积累,拓荆科技已经成为可与国际巨头直接竞争的半导体高端设备制造厂商。  作为注册制改革的“试验田”和定位于支持“硬科技”产业的融资板块,科创板成立近三年以来,基础制度不断完善,上市条件的包容度和适应性不断提升和增强,吸引了一大批硬科技企业选择到科创板发行融资,其中不乏大量尚未盈利、存在特殊股权结构的硬科技企业。在科创板这块“试验田”支持硬科技发展的示范引领作用下,拓荆科技选择到科创板发行股票上市获得融资支持,持续加大研发投入。  拓荆科技在科创板发行上市主要是为开展配适10nm以下制程的PECVD产品研发、开发Thermal ALD和大腔室PE ALD,以及升级SACVD设备,研发12英寸满足28nm以下制程工艺需要的SACVD设备募集社会资金,并借助募集资金开发中国台湾市场。在加强产品技术研发的同时,拓荆科技上市后,还将逐步培育和完善国内相关产业链,通过与国内供应商的深度合作与磨合,推动设备关键部件的开发及验证,提高设备零部件的国产化率以及产品品质。同时,公司还将利用国产设备厂商的综合优势,为客户提供定向的技术开发与服务,以此助力半导体产业链发展,保障产业链的技术先进性。
  • 总投资5亿元,首芯半导体薄膜沉积设备研发及生产项目封顶
    近日,江苏首芯半导体项目生产厂房主体结构封顶仪式举行。中电二公司消息显示,江苏首芯半导体薄膜沉积设备研发及生产项目位于无锡江阴高新区,为集半导体前道制程薄膜沉积高端设备研发、生产、销售为一体的总部基地,总投资5亿元,计划于2024年6月投产。2023年10月12日,江苏首芯半导体薄膜沉积设备项目在江阴高新区举行开工仪式。江苏首芯半导体科技有限公司成立于2023年2月,主营业务为薄膜沉积设备的研发、生产、销售与技术服务,主要产品为化学气相沉积、物理气相沉积、原子层沉积等薄膜沉积设备。该公司产品将被广泛应用于半导体、平板显示、新能源等领域。
  • 针对化合物半导体等市场,速普仪器展出薄膜应力检测方案
    2022年3月1-3日,由科技部、中国科学院指导,中国微米纳米技术学会、中国国际科学技术合作协会、国家第三代半导体技术创新中心(苏州)主办,苏州纳米科技发展有限公司承办的第十三届中国国际纳米技术产业博览会(CHInano 2023)在苏州国际博览中心举行。本届纳博会为期3天,聚焦第三代半导体、微纳制造、纳米新材料、纳米大健康等热门领域,众多厂商齐聚一堂,新技术、新产品、新成果集中亮相。展会期间,深圳市速普仪器有限公司(SuPro Instruments)展出了他们的薄膜应力仪。速普仪器与薄膜应力仪产品SuPro Instruments成立于2012年,位于深圳市南山高新科技园片区,公司致力于材料表面处理和真空薄膜领域提供敏捷+精益级制备、测量和控制仪器,帮助客户提高产品的研发和生产效率、品质和使用体验。据张小波介绍,本次纳博会速普仪器主推是的薄膜应力测量仪,主要是应用于MEMS、化合物半导体、microled等泛半导体市场。据了解,集成电路领域的薄膜应力产品目前仍以KLA的产品为主,市场规模是泛半导体市场的十倍。早期速普仪器为工业领域提纲应力测量解决方案,机缘巧合之下,下游半导体厂商寻找到速普仪器合作开发相关产品。而速普仪器也不负众望,成功通过了半年的验证期,最后成功进入其中,实现了泛半导体领域薄膜应力仪的国产突破。多年积累之下,速普仪器目前已占据相关市场30%的份额,打破了国外企业的市场垄断。目前相关产品已进入国内科研院所和一些重要的半导体企业。谈到未来的战略规划时候,张小波也表示未来速普仪器也将继续研发新产品,搭配其应力测量仪,为用户提供更完善的解决方案。
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