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请问各位前辈,大神们,本人做的是半导体薄膜吸收层,为什么XRD检测我的样品和pdf卡片对照的一模一样,没有杂峰。但eds检测原子计量比不符合投料比呢,投料比为1:1.但是出来差别很大,这是什么原因呢?
测固体薄膜得紫外-可见,如何测半导体带隙?公式我也知道,可切线点如何选取呀
[em0709] [img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=67861]陶瓷、半导体材料薄膜样品的制备方法[/url]