锂样品

作用：1、样品空白可以抵消加入测试试剂前由于样品自身存在的色度或浊度而引起的正误差。2、在使用样品空白对测试仪器进行调零后，只有样品与测试试剂发生反应而产生的色度被测定了。由于样品的背景色度和浊度往往各不相同，样品空白经常用来对仪器进行调零。如：显色反应，按照与显色反应相同的条件，取同样量的样品溶液，但不加显色剂作为空白溶液，这适宜于样品基体有色，显色剂无色也不与样品基体显色的情况。如，用硫氰酸盐测定钼时，通常以不加硫氰酸盐（其它操作不变）作空白，以消除Cr3+,Ni2+,Cu2+等有色离子的影响。样品空白与空白样品1、二者在取样上存在不同，一个是取纯水，另一个是取待测样品。2、二者所用的分析方法不同，一个采用参照分析法，在分析的过程中不加任何显色剂成分，另一个则完全靠分析方法操作。3、校正内容不同，一个是校正样品本身在某一波长下的吸光度，而另一个则校正试剂以及纯水中所含的待测成分与相应的干扰成分。工作中常见情况分析以空气中有毒物质检测为例：在工作场所空气中有毒物质检测过程中，样品空白经常出现的现象有以下几种:(1)采集的样品空白测定结果均与实验室空白(试剂空白) 基本一致；(2)采集的样品空白中，其中一个与实验室空白(试剂空白) 基本一致，其余的测定结果偏大；(3)采集的样品空白测定结果均较大。出现(2)、(3)现象时，如果空白测定结果明显偏大，甚至高于样品测定值，则空白样品可能已被污染。产生污染的原因(1)空气收集器未经质量验收，空气收集器的本底值较高，影响检测结果。如用于采集钠等金属元素的微孔滤膜中可能会含有微量的钠等金属，采样后，可能会出现样品空白的吸光度高于样品吸光度的现象，使得检测结果为负值。(2)空气收集器未清洗干净，使得样品空白值高于实验室空白。(3)采样过程不规范，导致样品空白值异常。(4)样品运输和保存不规范，导致样品被污染，样品空白值也较高。如，使用沾污的样品保存箱运输、保存样品，或者中途无意打开样品空白等，都会影响样品空白值。(5)样品预处理、测定步骤不规范，实验室环境交叉污染等同样会导致样品空白被污染。如何处理？样品空白值小于等于测定方法的检出限，说明样品在各个环节没有受到污染；若大于检出限，小于方法空白样，则修正样品测得值；若大于方法空白值，甚至大于样品值，说明样品被污染，检测结果应舍弃。样品空白值如何取舍？试剂空白值应小于所用测定方法检出限的1/2，样品空白也应小于或等于检出限。如果两个样品空白值差异比较小，可以取均值或者取较大的那一个。如果两个样品空白值差异较大，超出10%，就要分析原因，如果无法解释，则意味着本次采样失败，需要重新采样！样品空白的意义1、样品空白是由样品本身决定的，即使是无吸光值的蒸馏水，在实验的过程中如若不进行校正，那么分析的结果就会有误差，进而影响分析数据的准确性；2、减少分析过程中出现的误差；3、减少开支；4、简化分析操作过程。关于样品空白常见疑问解答1、原子荧光实验设置参数中的样品空白是什么？不加入样品，与样品一起加入同样的处理试剂和经过同样的消化、赶酸、定容步骤后得到的溶液即为样品空白，将该溶液所在位置设为样品空白，则样品的上机获得的荧光值均需减去该溶液的荧光值，得到真正的样品检测荧光值。2、实验中做的试剂空白和样品空白，两者有何异同？答：试剂空白是指由于测试试剂本身而带来的测试结果的微小的正误差。样品空白是指在某项测试程序中，使用某个样品的浓度作为仪器的零基准。样品空白可以抵消加入测试试剂前由于样品自身存在的色度或浊度而引起的正误差。一般情况下,试剂空白要求用高纯度的去离子水做。3、本人最近一段时间用原子吸收石墨炉法测铅时，发现样品空白很高，大概有0.05左右（原来的是0.01～0.02左右，换了试剂做还是这样），做了很多次都是这样，而且有两个样品空白，平行性很好，为什么样品出现负值？答：样品前处理用的试剂质量有问题，不知道你用的是微波消解、干法消解还是湿法消解？微波消解使用试剂量较小，出现上述问题的状况较少。干法消解还是湿法消解对试剂的要求较高，样品处理时反应剧烈，有损失，注意控制消解时的反应强度。

p style="text-indent: 2em "激光粒度仪在粉体、乳液、液体雾滴的测量中有着广泛的应用，样品池则是关键的零部件之一，对激光粒度仪的粒度检测能力有重要的影响。时随境迁，在如今的科研工作和工业生产中，测量亚微米颗粒的需求越来越多，提升亚微米颗粒的测量能力是激光粒度测试技术的重要研究方向。那么常见的激光粒度仪用样品池都有哪些种类？怎样的样品池最有助于激光粒度仪测量亚微米级颗粒呢？/pp style="text-indent: 2em "（1）传统样品池/pp style="text-indent: 2em "传统样品池由两块互相平行的平板玻璃组成，待测颗粒悬浮于两块玻璃之间。其结构如下图所示：/pp style="text-indent: 2em text-align: center "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/47b9ccda-c182-4fd4-9143-b0cf03ab95db.jpg" title="1.png"//pp/pp style="text-indent: 0em text-align: center "（传统样品池结构图）/pp style="text-indent: 2em "样品池垂直于入射光，由于悬浮介质多为液体，而液体的折射率大于空气，当散射角大于一定范围时，由于全反射的作用，散射光不能出射到空气中，从而限制了仪器对亚微米颗粒的测量能力。/pp style="text-indent: 2em "（2）梯形样品池/pp style="text-indent: 2em "用一块梯形玻璃代替了传统样品池右侧的平板玻璃，其结构如下图所示：/pp style="text-indent: 0em text-align: center "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/149ae414-cd61-4974-a297-86a864eb9da7.jpg" title="2.png"//pp/pp style="text-indent: 0em text-align: center "（梯形样品池结构图）/pp style="text-indent: 2em "这种样品池结构只需一束照明光，且小角度散射光从梯形玻璃的平面出射，大角度散射光则从玻璃的斜面出射，避免了全反射的发生。但是，从平面出射的小角度散射光与斜面出射的超大角度散射光在空间上部分叠加，相互干扰。/pp style="text-indent: 2em "（2）三角形样品池/pp style="text-indent: 2em "用一块三角形玻璃代替了传统样品池右侧的平板玻璃，其结构如下图所示：/pp style="text-indent: 0em text-align: center "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/be92b18a-dfa0-4afb-bc7e-9a99d307e6b9.jpg" title="3.png"//pp/pp style="text-indent: 0em text-align: center "（三角形样品池结构图）/pp style="text-indent: 2em "该方法突破全反射限制机理，与梯形样品池的散射机理相同，但是其玻璃厚度过大。/pp style="text-indent: 2em "（4）柱面镜样品池/pp style="text-indent: 2em "入射光沿着两块玻璃之间的狭缝入射，散射光则从玻璃出射。其结构如下图所示：/pp style="text-indent: 0em text-align: center "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/20702fb4-dc04-4cb8-b91c-786f9ad31bbb.jpg" title="4.png"//pp/pp style="text-indent: 0em text-align: center "（柱面镜样品池结构图）/pp style="text-indent: 2em "该方法使４５° ～１３５° 的散射光能够出射到空气中，胶合在右侧平板玻璃上的柱面镜对相同散射角的出射光起聚焦作用，但是这种方法在小角度散射光的接收方面存在一定困难。/pp style="text-indent: 2em "（5）环形样品池/pp style="text-indent: 2em "环形样品池的透明池壁和池内的液体柱组成一个透镜组。针孔的中心和主探测器的中心对于该透镜组互为物像关系。由于该透镜组在平行于纸面的方向具有聚焦能力，而在垂直于纸面的方向不具有聚焦能力，因此在该透镜组的前面增加一个平凸柱面透镜，以实现垂直于纸面方向光线的聚焦，从而使针孔以及探测器中心相对于平凸柱面透镜也呈物像关系。其结构如下图所示：/pp style="text-indent: 0em text-align: center "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/3aac82b4-aa81-4526-94be-fd5a39e400d0.jpg" title="5.png"//pp/pp style="text-indent: 0em text-align: center "（环形样品池结构图）/pp style="text-indent: 2em "环形样品池相比于传统样品池，具有更宽的散射角接收范围，理论上具有更小的测量下限与较高的小颗粒测量灵敏度。环形样品池法相比于其他扩展散射角的方法，理论上在０° ～１８０° 的范围内，散射光都能从池壁出射，巧妙地规避了传统方法中全反射的影响，不存在不同照明光束的数据拼接问题，也不存在不同出射面出射的散射光之间的相互干扰问题，且结构非常简单。与传统样品池测量结果的对比表明，环形样品池方法能够使仪器的测量下限接近静态光散射方法的理论极限。/pp style="text-indent: 2em "环形样品池在激光粒度仪亚微米颗粒的粒度检测中，具有独到的优势，基于环形测量池的激光粒度测试方法对亚微米颗粒具有测量下限低、测量精度高、分辨率高和可靠性高的特点，堪称是亚微米粒度检测中的“环形天使”，这样的样品池，你的激光粒度仪拥有了吗？/p

近年来，随着国家检测标准的日益严格，样品中待检物含量越来越低，这对样品前处理技术提出了更高的要求。作为样品检测中广泛存在的环节，样品前处理水平直接关系着实验室整体效率的提高，同时，前处理设备的自动化效率也直接影响着实验室的人力成本。 2019年3月22日，由 EWG1990仪器学习网联合广西分析测试协会以及全国分析测试协（学）会创新联盟、广东省分析测试协会举办的2019年广西样品前处理技术创新大会在南宁市凤凰宾馆举行。来自全国前处理领域研究专家，质检、食品、环监、疾控、高校、科研院所等超过400名用户参加，共同交流实验室前处理过程中遇到的相关问题及最前沿的前处理创新手段。弗尔德仪器作为本次大会独家冠名厂商助力本次大会，为参会人员带来了提升实验室效率的相关领域仪器与解决方案。 弗尔德仪器中国区总经理董亮先生作为特邀嘉宾做了样品前处理的精彩演讲。样品前处理技术设备的智能化的创新，样品前处理技术的研究方向的创新，样品前处理技术的人员管理创新等等，这些将成为实验室管理者和广大一线技术人员需要思考和待解决的问题。我国分析检测行业发展样品前处理技术设备的智能化创新，要发展样品前处理技术的研究方向的创新，要发展样品前处理技术的人员管理创新等方面，是需要分析检测行业的一线工作者、专家、以及厂商多交流、多实践、多应用，才能突破目前在我国前处理技术的发展瓶颈。董总希望弗尔德仪器的前处理产品及应用方案能为土壤、食品、药品等领域的科技工作者们提供更多的参考和帮助！追求客户极致体验的道路永无止境，面对行业提出的高要求、新挑战，我们会化压力为动力，用更为优质的产品和服务回报用户！ 弗尔德仪器展台带来了德国Retsch(莱驰)的研磨仪和筛分仪展示 成立于1915年的德国RETSCH（莱驰）公司是弗尔德仪器的核心品牌之一，是全球最大的实验室固体样品前处理暨研磨粉碎筛分设备的生产厂家，在商检、质检、高校、农业、生物、制药、化工、研究所等领域有广泛的客户基础。旗舰产品混合球磨仪MM400是实验室里的“多面手”，专门为干磨、湿磨和低温研磨少量样品而开发。在极短时间内高达30Hz的振动频率下快速、高效的研磨和均相化，粉体可达亚微米级。混合型球磨仪可以同时对两份0.2到20毫升的样品进行研磨，特殊设计的精确自动中心定位和安全锁紧装置，使得MM400非常适用于生物细胞破壁及DNA/RNA的提取。MM400的旋盖式的研磨罐尤其适用于湿磨，在液氮冷冻后样品变脆低温研磨的应用。 随着样品前处理技术的不断发展与成熟，“创新理念”已经成为其领域核心竞争力之一，“以客户的需求为中心，创新并满足当今实验室对样品前处理的自动化需求”的理念一直鞭策着弗尔德仪器不断前行，把复杂问题简单化，把繁琐的人工变为简单一站式，砥砺奋进，我们将是您最好的合作伙伴。