两种探头

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两种探头相关的耗材

  • Jenway微量电导率探头/电导电极
    Jenway微量电导率探头/电导电极Jenway的微体积探头设计用于测量小容器中的溶液。轴直径为4mm（027 815）和6mm（027 816），可分别精确地读取小至150μl和200μl的样品量。4mm探头的作用范围为120mm，6mm探头的作用范围为180mm，因此非常适合在试管和小型容器中使用。两种探头均由玻璃制成，并具有7针DIN连接器，因此可以与Jenway的任何台式电导率仪一起使用。请查看数据表以获取更多信息。Jenway微量电导率探头/电导电极货号描述K Value适用仪表027 815Glass bodied 4mm diameter, 120mm reach probeK= 1台式027 816Glass bodied 6mm diameter, 180mm reach probeK= 1台式更多其他电导率探头信息
    供应商： 上海默西科学仪器有限公司
    品牌： Jenway
    价格： 面议
  • PIKE FlexIR 中红外空芯光纤探头
    PIKE公司的FlexIR红外光纤探头标配高灵敏度MCT检测器，采用空芯光纤覆盖全部中红外谱区，是红外光谱远距离分析、无法放入红外样品腔的大样品分析、反应监测的有力工具。1米或2米长度空芯光纤，相比于传统的多晶卤化银光纤具有坚固耐用，高通量的特点，避免了多晶卤化银光纤易碎的缺点空芯光纤覆盖全部中红外区域，而传统的红外光纤同时需要氯化银光纤和硫化物光纤才能满足可配置ATR、镜面反射或漫反射三种探头，适合各种应用场合高温\高压哈氏合金ATR探头，耐温150℃，耐压8.3MPa(1204psi)，用于化学反应在线监测标准MCT检测器，可选DTGS检测器兼容绝大部分商品化红外光谱仪
    供应商： 北京博德恒悦科贸有限公司
    品牌： PIKE
    价格： 面议
  • 透射浸入式探头光纤束
    透射浸入式探头光纤束特性Y型跳线光纤束和探头jian端，用于透射浸入式探头实时测量吸光率和透射率波长范围400-900 nm光纤束的Y型节点处具有可调夹具光源端照亮样品样品分支带有?1/4英寸探头光谱仪端接收从样品发出的反射光加强型不锈钢套管和消应力套管SMA905接头，刻有光纤配置探头jian端长度各异，范围在2 mm-20 mm(单独出售)需要一根光纤束和一个探头jian端Thorlabs的透射浸入式探头光纤束极其适合在液态样品中测量透射率和吸光率。与基于比色皿的装置不同，探头jian端浸入样品中；液体可以自由流入探头jian端的开口里面。这种方式可以直接测量样品，非常适合需要实时测量的应用，比如，监测化学反应或水质测试(详情请看应用标签)。完整的透射浸入式探头需要购买一根光纤束和一个探头jian端。我们分叉跳线的铝制Y型节点十分耐用，包含一个可调光纤夹具，可以使用8-32 锁定螺丝固定。示意图展现了穿过光纤束和探头jian端的光路(红色表示)。?1/4英寸探头和探头jian端由316不锈钢制造，安装了高质量的透镜和反射镜，以便将探头jian端进入液体时，zui大程度地减少透射损耗。如右图所示，光纤束中的光在光纤束的样品端被准直。不同长度的透射浸入式探头jian端可以安装在探头端。在探头jian端里，光会穿过样品两次；一次是在光从光纤束射出时，再次是经反射镜的反射光射入探头jian端的一端时。光路越长，测量的灵敏度越高，但总透射损耗也会增加。样品发出的透射光和散射光由光纤束外面的六根光纤收集，并引导至光纤束的光谱仪端。这种连接光谱仪与光源的方式显著减少了光束射出并重新射入光纤时受到的阻挡。光谱仪端可以旋转，以便达到光纤束与光谱仪之间的zui佳对准位置，zui后再拧紧SMA接头。TP22透射浸入式探头光纤束的波长范围为400-900 nm，带有两个SMA905终端的分支。它们兼容Thorlabs的CCD光谱仪等大多数光谱仪，以及大多数光源，包括Thorlabs的宽带光纤耦合光源。每个SMA905终端的分支刻有光纤配置；光源端具有单根光纤，而光谱仪端具有由六根光纤和一根暗纤构成的圆形光纤束。暗纤不会总是处于相同的位置，但Thorlabs保证，暗纤永远不会处于中心位置。Y型节点处的滑动夹具可以通过拧紧8-32螺丝而锁定。探头支架Thorlabs提供探头支架和夹臂(下方有售)，可在浸入样品介质时夹住样品端的探头。这些可调组件可在测量时固定光纤。夹臂可以垂直或以45°夹持探头。常见的透射浸入式探头装置使用了Thorlabs的TP22透射浸入式光纤束和探头jian端、CCD光谱仪和宽带光纤耦合光源。注意：光纤束光谱仪端中暗纤的位置随机，但不会处于光纤束的中心位置。应用使用透射浸入式探头测量吸收光谱利用比尔定律，通过光被样品吸收的量，就可以确定吸收光谱的浓度。一般会通过将样品放置在比色皿内，使用台式光谱仪进行测量。在样品不方便提取或取样的情况下，就可以使用透射浸入式探头，让用户进行实时测量。探头jian端相当于便携式比色皿，一边引导光通过样品，一边让样品自由地流过样品开口。透射浸入式探头非常适合需要实时测量的应用，比如化学加工或环境监测。透射光和散射光都由光谱仪测量，这就意味着，这种方法比台式测量法的动态范围要低。仔细挑选探头jian端和吸收波长，有助于优化测量效果。为了展示透射浸入式探头在这些应用中的使用方法，右图曲线显示了四种不同食用色素的吸收光谱，这些样品以相同浓度与水混合，经测量所得。将SLS201L宽带光源连接到光源分支，将CCS200光谱仪连接到光谱仪分支。将长度为5 mm的TPT205探头jian端连接到样品分支。与预计效果一样，在视觉可以观察到的颜色区域，每个光谱体现出较低的吸光率。通过在不同已知食用色素浓度下进行样品测量，可让用户制作出校准曲线，以便确定未知样品的浓度。损伤阀值激光诱导的光纤损伤以下教程详述了无终端(裸露的)、有终端光纤以及其他基于激光光源的光纤元件的损伤机制，包括空气-玻璃界面(自由空间耦合或使用接头时)的损伤机制和光纤玻璃内的损伤机制。诸如裸纤、光纤跳线或熔接耦合器等光纤元件可能受到多种潜在的损伤(比如，接头、光纤端面和装置本身)。光纤适用的zui大功率始终受到这些损伤机制的zui小值的限制。虽然可以使用比例关系和一般规则估算损伤阈值，但是，光纤的jue对损伤阈值在很大程度上取决于应用和特定用户。用户可以以此教程为指南，估算zui大程度降低损伤风险的安全功率水平。如果遵守了所有恰当的制备和适用性指导，用户应该能够在指定的zui大功率水平以下操作光纤元件；如果有元件并未指定zui大功率，用户应该遵守下面描述的"实际安全水平"该，以安全操作相关元件。可能降低功率适用能力并给光纤元件造成损伤的因素包括，但不限于，光纤耦合时未对准、光纤端面受到污染或光纤本身有瑕疵。Quick LinksDamage at the Air / Glass InterfaceIntrinsic Damage ThresholdPreparation and Handling of Optical Fibers空气/玻璃界面有几种潜在的损伤机制。自由空间耦合或使用光学接头匹配两根光纤时，光会入射到这个界面。如果光的强度很高，就会降低功率的适用性，并给光纤造成yong久性损伤。而对于使用环氧树脂将接头与光纤固定的终端光纤而言，高强度的光产生的热量会使环氧树脂熔化，进而在光路中的光纤表面留下残留物。损伤的光纤端面未损伤的光纤端面多模(MM)光纤的有效面积由纤芯直径确定，一般要远大于SM光纤的MFD值。如要获得zui佳耦合效果，Thorlabs建议光束的光斑大小聚焦到纤芯直径的70 - 80%。由于多模光纤的有效面积较大，降低了光纤端面的功率密度，因此，较高的光功率(一般上千瓦的数量级)可以无损伤地耦合到多模光纤中。Estimated Optical Power Densities on Air / GlassInterfaceaTypeTheoretical DamageThresholdbPractical SafeLevelcCW(Average Power)~1 MW/cm2~250 kW/cm210 ns Pulsed(Peak Power)~5 GW/cm2~1 GW/cm2所有值针对无终端(裸露)的石英光纤，适用于自由空间耦合到洁净的光纤端面。这是可以入射到光纤端面且没有损伤风险的zui大功率密度估算值。用户在高功率下工作前，必须验证系统中光纤元件的性能与可靠性，因其与系统有着紧密的关系。这是在大多数工作条件下，入射到光纤端面且不会损伤光纤的安全功率密度估算值。插芯/接头终端相关的损伤机制有终端接头的光纤要考虑更多的功率适用条件。光纤一般通过环氧树脂粘合到陶瓷或不锈钢插芯中。光通过接头耦合到光纤时，没有进入纤芯并在光纤中传播的光会散射到光纤的外层，再进入插芯中，而环氧树脂用来将光纤固定在插芯中。如果光足够强，就可以熔化环氧树脂，使其气化，并在接头表面留下残渣。这样，光纤端面就出现了局部吸收点，造成耦合效率降低，散射增加，进而出现损伤。与环氧树脂相关的损伤取决于波长，出于以下几个原因。一般而言，短波长的光比长波长的光散射更强。由于短波长单模光纤的MFD较小，且产生更多的散射光，则耦合时的偏移也更大。为了zui大程度地减小熔化环氧树脂的风险，可以在光纤端面附近的光纤与插芯之间构建无环氧树脂的气隙光纤接头。我们的高功率多模光纤跳线就使用了这种设计特点的接头。曲线图展现了带终端的单模石英光纤的大概功率适用水平。每条线展示了考虑具体损伤机制估算的功率水平。zui大功率适用性受到所有相关损伤机制的zui低功率水平限制(由实线表示)。确定具有多种损伤机制的功率适用性光纤跳线或组件可能受到多种途径的损伤(比如，光纤跳线)，而光纤适用的zui大功率始终受到与该光纤组件相关的zui低损伤阈值的限制。例如，右边曲线图展现了由于光纤端面损伤和光学接头造成的损伤而导致单模光纤跳线功率适用性受到限制的估算值。有终端的光纤在给定波长下适用的总功率受到在任一给定波长下，两种限制之中的较小值限制(由实线表示)。在488 nm左右工作的单模光纤主要受到光纤端面损伤的限制(蓝色实线)，而在1550 nm下工作的光纤受到接头造成的损伤的限制(红色实线)。对于多模光纤，有效模场由纤芯直径确定，一般要远大于SM光纤的有效模场。因此，其光纤端面上的功率密度更低，较高的光功率(一般上千瓦的数量级)可以无损伤地耦合到光纤中(图中未显示)。而插芯/接头终端的损伤限制保持不变，这样，多模光纤的zui大适用功率就会受到插芯和接头终端的限制。请注意，曲线上的值只是在合理的操作和对准步骤几乎不可能造成损伤的情况下粗略估算的功率水平值。值得注意的是，光纤经常在超过上述功率水平的条件下使用。不过，这样的应用一般需要专业用户，并在使用之前以较低的功率进行测试，尽量降低损伤风险。但即使如此，如果在较高的功率水平下使用，则这些光纤元件应该被看作实验室消耗品。光纤内的损伤阈值除了空气玻璃界面的损伤机制外，光纤本身的损伤机制也会限制光纤使用的功率水平。这些限制会影响所有的光纤组件，因为它们存在于光纤本身。光纤内的两种损伤包括弯曲损耗和光暗化损伤。弯曲损耗光在纤芯内传播入射到纤芯包层界面的角度大于临界角会使其无法全反射，光在某个区域就会射出光纤，这时候就会产生弯曲损耗。射出光纤的光一般功率密度较高，会烧坏光纤涂覆层和周围的松套管。有一种叫做双包层的特种光纤，允许光纤包层(第二层)也和纤芯一样用作波导，从而降低弯折损伤的风险。通过使包层/涂覆层界面的临界角高于纤芯/包层界面的临界角，射出纤芯的光就会被限制在包层内。这些光会在几厘米或者几米的距离而不是光纤内的某个局部点漏出，从而zui大限度地降低损伤。Thorlabs生产并销售0.22 NA双包层多模光纤，它们能将适用功率提升百万瓦的范围。光暗化光纤内的第二种损伤机制称为光暗化或负感现象，一般发生在紫外或短波长可见光，尤其是掺锗纤芯的光纤。在这些波长下工作的光纤随着曝光时间增加，衰减也会增加。引起光暗化的原因大部分未可知，但可以采取一些列措施来缓解。例如，研究发现，羟基离子(OH)含量非常低的光纤可以抵抗光暗化，其它掺杂物比如氟，也能减少光暗化。即使采取了上述措施，所有光纤在用于紫外光或短波长光时还是会有光暗化产生，因此用于这些波长下的光纤应该被看成消耗品。制备和处理光纤通用清洁和操作指南建议将这些通用清洁和操作指南用于所有的光纤产品。而对于具体的产品，用户还是应该根据辅助文献或手册中给出的具体指南操作。只有遵守了所有恰当的清洁和操作步骤，损伤阈值的计算才会适用。安装或集成光纤(有终端的光纤或裸纤)前应该关掉所有光源，以避免聚焦的光束入射在接头或光纤的脆弱部分而造成损伤。光纤适用的功率直接与光纤/接头端面的质量相关。将光纤连接到光学系统前，一定要检查光纤的末端。端面应该是干净的，没有污垢和其它可能导致耦合光散射的污染物。另外，如果是裸纤，使用前应该剪切，用户应该检查光纤末端，确保切面质量良好。如果将光纤熔接到光学系统，用户首先应该在低功率下验证熔接的质量良好，然后在高功率下使用。熔接质量差，会增加光在熔接界面的散射，从而成为光纤损伤的来源。对准系统和优化耦合时，用户应该使用低功率；这样可以zui大程度地减少光纤其他部分(非纤芯)的曝光。如果高功率光束聚焦在包层、涂覆层或接头，有可能产生散射光造成的损伤。高功率下使用光纤的注意事项一般而言，光纤和光纤元件应该要在安全功率水平限制之内工作，但在理想的条件下(ji佳的光学对准和非常干净的光纤端面)，光纤元件适用的功率可能会增大。用户首先必须在他们的系统内验证光纤的性能和稳定性，然后再提高输入或输出功率，遵守所有所需的安全和操作指导。以下事项是一些有用的建议，有助于考虑在光纤或组件中增大光学功率。要防止光纤损伤光耦合进光纤的对准步骤也是重要的。在对准过程中，在取得zui佳耦合前，光很容易就聚焦到光纤某部位而不是纤芯。如果高功率光束聚焦在包层或光纤其它部位时，会发生散射引起损伤使用光纤熔接机将光纤组件熔接到系统中，可以增大适用的功率，因为它可以zui大程度地减少空气/光纤界面损伤的可能性。用户应该遵守所有恰当的指导来制备，并进行高质量的光纤熔接。熔接质量差可能导致散射，或在熔接界面局部形成高热区域，从而损伤光纤。连接光纤或组件之后，应该在低功率下使用光源测试并对准系统。然后将系统功率缓慢增加到所希望的输出功率，同时周期性地验证所有组件对准良好，耦合效率相对光学耦合功率没有变化。由于剧烈弯曲光纤造成的弯曲损耗可能使光从受到应力的区域漏出。在高功率下工作时，大量的光从很小的区域(受到应力的区域)逃出，从而在局部形成产生高热量，进而损伤光纤。请在操作过程中不要破坏或突然弯曲光纤，以尽可能地减少弯曲损耗。用户应该针对给定的应用选择合适的光纤。例如，大模场光纤可以良好地代替标准的单模光纤在高功率应用中使用，因为前者可以提供更佳的光束质量，更大的MFD，且可以降低空气/光纤界面的功率密度。阶跃折射率石英单模光纤一般不用于紫外光或高峰值功率脉冲应用，因为这些应用与高空间功率密度相关。定制光纤束Thorlabs乐于给您供应定制的带随机或确定光纤配置的直光纤束和扇出光纤束。有下表列出了我们当前能生产的一些光纤束。我们正在扩展生产能力，所以如果此处没有您所要求的光纤束也可以联系我们。一些定制光纤束的要求将超出我们的一般的生产工艺技术范围。所以我们不能保证能够制造出的光纤束配置符合您的特殊应用要求。但是，我们的工程师也非常乐于与您一起确定Thorlabs是否能够生产符合您需要的光纤束。如需报价，请提供给我们您的光纤束配置图。样品光纤束接头配置定制1转4束扇出型光缆定制带SMA905接头的石英光纤束Custom Bundle CapabilitiesBundle ConfigurationStraightaFan Out (2 or More Legs)a,bFiber TypesSingle ModeStandard (320 to 2100 nm), Ultra-High NA (960 to 1600 nm),Dispersion Compensating (1500 to 1625 nm), Photosensitive (980 to 1600 nm)Multimode0.10 NA Step Index (280 to 750 nm), 0.22 NA Step Index (190 to 2500 nm),0.39 NA Step Index (300 to 2200 nm), Multimode Graded Index (750 to 1450 nm),Multimode ZrF4 (285 nm to 4.5 μm)Tubing OptionscThorlabs' Stock Furcation Tubing, Stainless Steel Tubing or Black Heat Shrink TubingConnectorsSMA905 (?2 mm Max Cored), FC/PC (?800 μm Max Cored),?1/4" Probe, or Flat-Cleaved Unterminated FiberLength Tolerancee±0.14 mActive Area GeometryfRound or LinearAngle PolishingOn Special Request. Available for up to ?105 μm Core on Single Fiber End.Please Inquire for More Information.在一束20根光纤中，一般zui多有一根是暗纤，即一束中95%的光纤都是完好的。对于每支中不止一根光纤的光纤束，有5-10%的光纤是暗纤。这些光纤束不适合要求均匀功率分布的应用。套管的选择会被光纤类型、光纤数量和长度所限制。一般来说，在定制光纤束中会使用不止一种套管，尤其是分叉光纤束。它代表公共端光纤的zui大纤芯直径。分离端光纤的纤芯直径算入了公共端纤芯直径。光纤束的长度公差≤2 m。我们不能保证在分叉光纤束公共端处光纤或几何结构之间的距离。我们的光缆工程师可以协助设计符合您应用的光纤束。请提供您定制光纤束的图纸，我们可以更快地给您报价。透射浸入式探头光纤束-需要一根Item #HydroxylContentWavelength Rangea(Click for Plot)FiberItem #SourceLegSampleLegbSpectrometerLegFiberCore DiameterFiberCladding DiameterNAcMinimum Bend RadiusShort TermdLong TermeTP22High OH400 - 900 nmFG200UEASMA9051 Fiber?1/4" ProbeSMA9056 Fibers200 ± 4 μm220 ± 2 μm0.22 ± 0.0219 mm53 mm光纤束和探头(下方提供)内置的光学元件指明了波长范围和衰减曲线。样品分支的末端可以用蘸有丙酮或甲醇的擦镜纸清洁。光纤束的数值孔径与单根光纤的数值孔径相同受到不锈钢套管限制。受到光纤限制。产品型号公英制通用TP22透射浸入式探头，?200 μm，高羟基，400 - 900 nm，SMA905转?1/4英寸探头，2 m透射浸入式探头jian端-需要一个带开口的探头jian端，用于在液体样品中测量透射率或吸光率长度为2 mm、5 mm、10 mm或20 mm探头jian端有宽带反射镜，镀-E02介质膜这些透射浸入式探头jian端可以安装到上方出售的透射浸入式探头光纤束。探头jian端有一个样品开口，可在测量时让液体样品自由流入测量区域。每个jian端末端有一面反射镜(前表面镀有-E02介质膜)，可以反射从探头光纤束射出的光。反射镜表面上的保护膜可让其浸入液体中。使用丙酮和超声清洗机可以清洗探头jian端，以便重复使用。请注意，安装介质膜反射镜的端盖用环氧树脂粘在探头的外壳上，不应拆除。jian端的长度有2 mm、5 mm、10 mm或20 mm可选。长度越长，探头jian端中光与样品介质相互作用的长度就越长；因此，使用较长的探头jian端，有助于提高信噪比，以便用于低吸光率的样品。相反，较短的探头jian端比较适合处理高吸光率的样品。一般而言，长度越长，探头的透射损耗也越大(请看上表中的波长范围曲线图)。因此，根据实验选择合适的光源和探头长度，对于优化测量效果十分关键。Item #TPT202TPT205TPT210TPT220Wavelength Range (Click for Plot)400 - 900 nmLength (Distance from Probe Lens to Mirror)2 mm5 mm10 mm20 mmOptical Path Length4 mm10 mm20 mm40 mmMirror Coating-E02Mirror Reflectance (Click for Plot)aRavg99% (400 - 900 nm)b波长为505 nm时测量。入射角为0°，波长为400-900 nm时，-E02介质膜会满足规定的反射率，波长越长，入射角越大，性能越低。产品型号公英制通用TPT202透射浸入式探头jian端，长度2 mmTPT205透射浸入式探头jian端，长度5 mmTPT210透射浸入式探头jian端，长度10 mmTPT220透射浸入式探头jian端，长度20 mm可调探头支架可以牢固地夹持样品分支上的?1/4英寸光学探头可以相对于样本以90°或45°定位探头可以调节高度的夹臂，zui高可以容纳55 mm(2.16英寸)的样品?6英寸(?152.4 mm)的底座，可以网格和同心圆更换用的夹臂组件单独出售Thorlabs的RPS可调探头支架可以夹持?1/4英寸光纤束探头，当相对于样品呈45°时，可以进行漫反射测量，当相对于样品呈90°时，可以进行反射测量。每个支架包含可调夹臂(单独出售)、刻有公制高度刻度的?1/2英寸光学接杆，以及刻有同心圆和网格图样的?6英寸(?152.4 mm)底座。使用TS25H手拧螺丝可将样品分支上的?1/4英寸探头固定在RPA夹臂上。利用TS25H手拧螺丝可以调节夹臂的高度。夹臂有一个装有弹簧、可伸缩的Delrin™ jian端。装有弹簧的jian端具有足够的作用力，可在zui后的定位调节完成时固定夹臂，以便精确调节高度。使用RPS支架时，使用内附的光学接杆可容纳zui高为55 mm(2.16英寸)的样品。对于更高的样品，可以使用更长的英制或公制?1/2英寸接杆(请看右图)轻松替换内附的接杆。使用底座下面的M6带帽螺丝可以将接杆固定到底座，也可以使用3/16英寸或5 mm球头起子将其拆下。如果用英制?1/2英寸接杆替代原接杆，就需要SH25S063 1/4"-20带帽螺丝。更换用的RPA接杆夹臂单独出售。通过将这些夹臂固定在?1/2英寸接杆上，也可以在自定义光机械装置中将其用来安装?1/4英寸探头。RPS带有TR8接杆，可以安装透射浸入式探头。产品型号公英制通用RPS可调光纤探头支架，用于?1/4英寸探头RPA更换用的夹臂，可调光纤探头支架，用于?1/4英寸探头
    供应商： 江阴韵翔光电技术有限公司
    品牌： Thorlabs
    价格： 0
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两种探头相关的仪器

  • 布鲁克超低温探头 400-889-7796
    仪器简介：2001年，布鲁克公司磁共振中国部骄傲地宣布,中国第一台超低温探头日前已经在北京微量化学研究所安装成功,通过用户的签字验收,并投入正常的工作。从那时起到现在，布鲁克公司已经在国内安装成功了3台超低温探头，第4台（中科院北京生物物理所）也准备安装。创造了中国核磁又一项第一布鲁克发展了世界上独一无二的高场超低温探头。超低温探头通过降低前放和探头线圈温度，线圈的功效得到了极大的改善，前置放大器和探头线圈的温度噪声大大降低，提高了S/N信噪比。比较传统的探头，超低温探头S/N信噪比可以提高四倍，实验时间可以减少16倍或者样品浓度减少4倍。超低温附件包括： 超低温探头 超低温平台 液氦压缩机 氦气瓶以及传输管线等附件 超低温探头主要特性：有效的提高S/N信噪比（同样适合有 一定盐份的样品）杰出的射频均匀性脉冲宽度窄死时间短具有线性功率特性强大的水峰抑制能力梯度场特性二维实验中极佳的稳定性超低温探头包括双频探头或三共振 　　 探头所有的探头配备2H锁电路，可以带 Z梯度场超低温平台的主要作用是为超低温探头的操作需要提供超低温冷却单元。其优势是： 使用简单 只须一个按钮控制，可无人连续操作 成为AVANCE系列NMR标准附件。 标准的超低温耦合器连接所有布鲁克超低温探头。超低温平台带有超低温冷却单元，超低温控制器和氦气压缩机。超低温冷却单元的冷却系统中心是一个Gifford McMahon超低温冷却器，由氦气压缩机提供氦气增压驱动。通过传输软管进行闭合的氦气流动来冷却超低温探头。氦气只有在最初加灌时才有消耗，以后将循环使用没有损耗。超低温控制器在整个使用过程中由专门的电路监视和控制整个系统，具有自动错误处理和安全关闭功能。氦气压缩机有水冷却和空气冷却两种，可以安装在核磁实验室外面，通过超低温控制器远程控制。
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    厂商： 布鲁克磁共振事业部（Bruker Magnetic Resonance）
    品牌： 布鲁克/Bruker
    型号： CryoProbe
    价格： 面议
  • 哈希H系列测定仪和非玻璃探头 400-668-7609
    技术参数：电源：4-AA电池 电池的使用寿命：最多可连续使用20小时，且可以提前10小时发出电池电量低的预警 语言：英语 显示：带LED背景灯照明的LCD，可同时显示pH和温度。 IP等级：IP67 数据内存：可存储999个数据（仅适用于H160G和H170G）。 数据存储：符合GLP（仅适用于H160G和H170G）。可通过SmartLogger II查看最近10次详细的校准信息（仅适用于H160G和H170G）。具有日志记录功能，间隔可在1-1999秒之间选择。具有日志记录功能，间隔可在1-1999秒之间选择。自动的存储模式，可日志记录模式中可以激活。数据可以存储、调用和删除的。 校准：多达5点的校准（适用于pH, 电导率和ISE）。 缓冲液识别：用户可选：1.68, 4.01, 6.86, 7.00, 9.18, 10.01, 12.45 温度补偿：关闭，自动及手动补偿三种选择（取决于具体的参数）。 ISE：量程：0.0ppm &ndash 1999 ppt（自动选择量程） 分辨率：0.1ppm；0.1ppt 质保期：：3年 尺寸：9× 20× 5 cm 重量：450g, 仅测定仪主要特点：持久耐用的设计 哈希公司的H系列测定仪可以采用两种技术进行测量，分别是ISFET(离子选择电极场效应晶体管）以及玻璃的pH电极。在电化学产品线中，ISFET不锈钢探头是真正意义上打不碎的传感器，与传统的易碎的玻璃电极相比，该传感器具有更优异的性能。H系列测定仪可以在非常恶劣的环境中使用，可实现数年可靠的服务。 ISFET技术 ISFET传感器技术，就是在硅片衬底上选择性沉积几层专有的覆盖层。最后一层只吸附氢离子。在传感器表面上或靠近传感器表面的氢离子的数量将会引起电场效应，该效应可被检测，测量值表示为pH。 存储和维护简单 与传统的电极不同，ISFET传感器可以在干燥的环境中存储，无需使用存储溶液。若要清洗传感器，只需使用牙刷和清洁剂即可。相比之下，传统玻璃电极很难清洗电极的缝隙，而且还需要额外的样品制备。ISFET传感器使用完之后，只需重新盖好传感器的保护帽即可。 可受限制和苛刻的的环境中使用 H系列测定仪具有台式和便携式两种型号，所以可以同时满足实验室和野外分析的需求。所有的测定仪都可以对pH值的读数进行自动的温度补偿。非玻璃的pH探头使用既方便，同时还很坚固耐用，在食品和饮料、教学实验室、环境科研、农业和石化等行业都有优异的性能。探头型号包括了标准型，微型，以及容易插入食品和清洗的刺穿型。 便携式测定仪 坚固的便携式测定仪具有一个可LED照明的超大LCD显示屏，可以测量pH值（ISFET或玻璃）、mV、温度、电导率、总溶解固体、盐度和氧化还原电位（ORP）。它们都具有防水的外壳，且防护等级为IP67。G型的测定仪还具有蓝牙功能，可实现远程控制和数据传输，且符合GLP的特征，如日期和时间标签，校准数据调用，有密码保护的设置，ISE功能以及额外的数据存储。更详细的信息，请参考技术参数表。 台式测定仪 实验室的台式测定仪既可以使用交流电源供电，也可以使用电池供电，符合人类工程学的设计，可测量pH值（ISFET或玻璃）、mV、温度、氧化还原电位（ORP）、离子选择电极（ISE）、电导率、总溶解固体、盐度和溶解氧。所有的台式测定仪都符合GLP的特征，具有一个参考电极输入端，防护等级为IP42，同样也可以选配具有蓝牙功能的型号。 探头的设计 无论便携式还是台式的测定仪，都可以连接相同的探头。但是，不同测定仪的连接点会有所不同。便携式测定仪使用的是具有防水功能的8针ISFET连接头，而台式测定仪使用的是RJ-45连接头。ISFET pH 探头的货号和型号中，都编有&ldquo W&rdquo 以示区别，表示具有防水连接头的便携式测定仪。 ISFET pH 通用型探头：对于大多数的应用都适用，尤其是在普通的实验室，环境，教学实验室以及需要耐用型探头的应用领域，可替代传统的玻璃电极。 微型探头：若要测量试管、烧瓶中的样品，或者小体积样品（如培养皿），或者需要长度比较长的探头的时候，微型探头是最佳的选择。这种探头与TRIS缓冲液兼容。 刺穿型探头：非常适用于鱼肉、鸡肉和火鸡肉等需要刺入测量的样品。在芝士面团、软乳酪、蔬菜和水果等食品检测方面的应用也非常理想。 MNR管探头：这种超长的微型探头可以伸入到某些工业中使用的标准5mmNMR管的底部。标准的微型探头仍然不够长的时候，这种探头非常适合。 可刺穿的重型探头：PH57-SS（PHW57-SS防水型）：常用于奶酪制造业、牛肉和猪肉工业（绝大部分是牛肉）中的腰肉和肋肉pH测量。重型握柄更利于刺入肌肉组织中。传感器稍微凹陷于探头的外壳，以防止刺入时引起损坏。 电导率 通用型探头：适合于常规的应用。它是一个4极电极，采用牛眼设计，具有温度补偿功能，环氧树脂的外壳和防水的连接头。 纯净水/饮用水探头：专为低离子强度（LIS）的应用而设计，它是一个4极电极，具有温度补偿功能，玻璃外壳，确保测量精确，且连接头是防水的。 盐水/苦咸水探头：专为含盐量高的应用而设计，例如回用水、河口以及水产养殖业。它是一个4极电极，具有温度补偿功能，环氧树脂外壳和防水的连接头。 溶解氧 溶解氧探头：标准的Galvanic法溶解氧电极，配有容易更换的螺旋帽更换膜以及电解液补充液。 氧化还原电位（ORP）探头 标准的 ORP探头：独特的环形圈设计，带BNC连接头。
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    厂商： 哈希公司（HACH）
    品牌： 哈希/hach
    型号： H系列
    价格： 1万 - 1.5万元
  • 德图 191-T4 温度数据记录仪配备两个可弯曲柔性探头 400-860-5168转0310
    两个长且可弯曲的探头对液体和表面进行精确的温度测量并分析热渗透耐用、坚固、可靠的密封（包括更换电池后）秒速级电池更换可节约时间并提高效率通过多功能箱同时编程并读取多台 HACCP 数据记录仪testo 191-T4 HACCP 温度数据记录仪用于监测巴氏消毒、灭菌和冷冻干燥过程，配备两个可弯曲柔性探头，可对角落进行测量。专用于食品生产的数据记录仪特别适于液体或表面，比如：冷冻干燥设备的面板温度监测。详情产品描述巴氏消毒、灭菌和冷冻干燥过程是食品生产中的中心过程，用来提升食品的保质期。这些过程对所用的测量技术提出了最高要求。我们可靠而结实的 HACCP 温度数据记录仪可帮助您有效监测这些过程。 testo 191-T4 HACCP 温度数据记录仪的作用高精确度：精确的 HACCP 数据记录仪，配有两个可弯曲柔性温度探头（长度 775 mm，? 1.5 mm），测量值存储器的每个通道可存 30,000 个测量值。 两个长、可弯曲的探头：适于灭菌应用，液体或冷冻干燥设备的表面。与冷冻干燥探头支架（请单独订购）配合使用，可以精确测量冷冻干燥机的占用空间温度。 窄外型：直径 20 mm 的记录仪在狭窄物体或环境中可以得到最佳使用。 坚固且耐用：高质量的材料和创新的加工使 HACCP 数据记录仪特别坚固耐用。凭借被密封锁死在一个独立不锈钢外壳中的测量技术，HACCP 数据记录仪令人信服地证明了它的可靠性和最大坚固性。 秒速级电池更换：实用的旋转螺纹设计，使电池可以直观、安全且无需使用工具即可在 HACCP 数据记录仪上拧开并更换。 可靠密封：更换电池后，HACCP 数据记录仪仍保持 100％ 密封。电池外壳涂有耐高温聚醚醚酮 (PEEK)。 灵活高度：HACCP 数据记录仪的大小可以通过两种不同的电池类型来改变。使用小电池，记录仪的尺寸特别紧凑。对于低温测量，例如在冷冻设备中，适合使用大电池（包含在供货范围内）。 数据记录仪的编程、读取和评估使用中特别实用：多功能箱（两种不同尺寸可供订购）除了保存作用外还可同时对至多 8 个数据记录仪平行编程和读取。由此，您不需要额外的读数单元，而且还可以节省时间。使用专门开发的 testo 191 专业版软件（请单独订购），您可以在 PC 上对数据记录仪进行编程、读取并评估测量数据。清晰的软件结构可以直观地指导您逐步完成整个过程。在关键点，它会在输入时发出警告提示。因此，该软件可使即使是没有经验的用户也能够容易地执行测量过程。产品包含1 x testo 191-T4 HACCP 数据记录仪，包括长效电池，长距离适配器，用于testo 191编程及读取单元，螺纹延长，出厂报告。技术数据Pt1000测量范围-50 ~ +140 °C测量精度±0.2 °C (-50 ~ -40 °C)±0.1 °C (-40 ~ 140 °C)分辨率0.01 °C响应时间 t??t90 = 6 s技术参数尺寸20 x 72 mm (? x 高度)操作温度-50 ~ +140 °C外壳不锈钢，聚醚醚酮塑料防护等级IP68探针套管长度775 mm探针套管末端长度25 mm探头杆直径1.5 mm探头头部直径3 mm通道2授权CE电池类型1/2 AA lithium电池使用时间2,500 操作小时 (测量周期为10秒， 在 +121 °C时)存储量30,000 测量值(管道)存放温度-20 ~ +50 °C
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    厂商： 德图仪器国际贸易（上海）有限公司
    品牌： 德图/Testo
    型号： 0572 1914
    价格： 2万 - 5万元
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  • 示波器电流探头可分为无源和有源两类，它们的区别是什么？

    示波器电流探头可分为无源和有源两类，它们的区别是什么？

    示波器电流探头是根据法拉第原理设计的用于测量导线中干扰电流信号的磁环，本质上是一个匝数为1的变压器。电流探头用来测量流过导线的电流量。示波器电流探头可分为无源和有源两种，区别是：无源探头的缺点是不能测量直流型号，低频截止频率通常在100Hz以上，优点是成本低。无源交流探头按嵌头结构可分为分芯型和实心型两种。分芯的嵌头可以手动开启和关闭，优点是探头可以很容易地夹在电流测量导线上。当测量完成后，钳口可以打开，探头可以移动到另一根导线上。[img=,690,517]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/08/202208221634395832_5106_5787068_3.jpg!w690x517.jpg[/img]有源探头按常见的钳口形式分为两种：一种是嵌入式结构，另一种是柔性结构。嵌入式结构电流探头一般是由强磁性材料制成的磁芯，这种流过的电流很大，磁芯容易产生磁饱和，因此无法准确测量。柔性探头是采用空芯交流电流传感器，所以在大电流不饱和的情况下，所以柔性探头一般用来测量大电流，而只能测量交流。PinTech品致，全球示波器探头品牌，示波器探头技术标准倡导者，专业提供差分探头，电流探头，示波器探头，柔性探头，高压放大器，功率放大器，数字万用表，示波器等耐压测试仪，高压测试棒。

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  • 奥林巴斯A36探头新品发布，助力洞悉更深层缺陷
    在检测过程中，针对于大壁厚（如200mm）的焊缝检测，往往对于检测设备有着更高层次的要求。为了更好的面对在检测时遇到的各种复杂情况及调整，基于A26 DLA 探头成功的应用实践基础上，Evident在近期发布了全新A36双晶64晶片线性探头。全新A36双晶64晶片线性探头的推出，将在大壁厚情形下，协助塑造更为优质的焊缝检测解决方案。更强穿透力A36双晶64晶片线性探头通过将通道数量加倍，进而将其提升了一个档次，从而产生双 64 通道的线性配置。双晶64晶片线阵一发一收探头具有高阵元数的配置，搭配使用 OmniScan&trade X3 64相控阵探伤仪，非常适合检测大壁厚的高衰减材料焊缝检测。OmniScan&trade MXU 软件现在提供不同类型的聚焦选项，即通过电子方式实现工件中不同深度区域聚焦。在相控阵模式下，有助于将焦点位置设定在焊缝内最相关的区域。与OmniScan&trade 搭配使用，如虎添翼在使用A36双晶64晶片线性探头时，搭配OmniScan&trade X3相控阵探伤仪，在根据检测工艺要求的前提下，除了可以创建相控阵（PA）聚焦法则外，也可以设置全聚焦（TFM）模式和相位相干成像（PCI）组。在扫查计划菜单中，亦可以设置平板、管棒材等各种几何形状的工件。A36双晶64晶片线性探头提供 2.25MHz、4MHz 和 5 MHz 三种频率，SA36 楔块提供聚焦深度40 毫米和 200 毫米两种规格，且支持外径8.625英寸至平面的工件类型检测。
    时间： 2023-11-17
    作者： 仪景通光学科技
  • 质构仪在乳制品质地分析中的应用及探头选择
    呈固体块状的均质样品乳制品中的塑性粘性固体有人造黄油、黄油、奶油干酪、乳清干酪、乳化干酪等产品，此类产品关键物性特点是硬度即延展性、融化性与温度相关性、加工过程中的硬度变化、内聚性等。而蜡质和绵软弹性固体样品则主要是意大利干酪、荷兰干酪、羊乳酪、白乳酪、软质乳酪等，通过质构仪可分析其硬度、表面粘附性、成熟度、货架期、水分丧失引起的表面结构变化等。典型实例 1：奶油的铺展性分析（挤压/挤出实验） 该探头专业用于检测黄油、人造黄油的铺展性、蜡质性的特殊探头，通过实验可得到样品的硬度、粘附性、柔软度等指标。实验结果解读：如图所示为不同状态下黄油的测试曲线。曲线的正向峰值反映了黄油样品的硬度，可见 Dry 的黄油由于含水量少，故而在质地上较为坚硬，而 Wet 的黄油则硬度最小，Good 的黄油硬度处于二者之间，硬度的大小也反映了反映了产品的柔软度，硬度小则柔软度高，反之则柔软度差。从图中可见，太干或太湿的黄油在硬度上都会与“Good”产品存在明显的差异。典型案例 2：传统与素食奶酪产品的质地分析（穿刺实验）实验结果解读：用小直径的柱形探头做奶酪的穿刺实验，穿刺实验主要比较的是破裂力（正向峰值前面出现的小的峰）、硬度（正向峰值）、穿刺做功（正峰面积）、粘附力和粘附性。通过质构仪分析可见，素食产品在硬度和表面粘性上均小于传统奶酪，素食产品的内部均一性要优于传统产品（穿刺过程中力量基本不发生变化），而传统产的内部随着挤压的进行力量在缓慢的增大，可见其均一性不如素食产品，即脂肪含量的不同使得素食产品含水量较少且更脆，可见素食产品还需要在硬度、表面粘性、含水量等方便进行优化与改良。典型实例 3：黄油的硬度检测分析实验结果解读：人造黄油改善了黄油脂肪含量高的问题，为了使人造黄油在口感和质地上与黄油更加的接近，生产商需要了解二者在质地和口感上存在的差异具体表现在哪里。切线切割探头可以反应切割黄油时的平均力量（最大峰值），以及挤压做功（正峰面积），通过力量与做功的比较发现，人造黄油切割力与做功都远小于天然黄油，由此可见在质地上人造黄油更为柔软。
    时间： 2020-12-22
    作者： 盈盛恒泰
  • 扫描电镜的探头新解——安徽大学林中清32载经验谈（6）
    p style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em "【作者按】形貌衬度、Z衬度、晶粒取向衬度、二次电子衬度、边缘效应、电位衬度等是形成扫描电镜表面形貌像的几个重要衬度信息。对这些衬度信息的接收离不开探头。本文将就扫描电镜两种主要探头的构造、工作原理及其接收的样品信息进行详细探讨。/span/ph1 label="标题居中" style="font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px "span style="font-size: 18px color: rgb(0, 176, 240) "一、二次电子探头/span/h1p style="text-align: justify text-indent: 2em "目前教科书的观点认为：二次电子探头接收的样品表面信息主要是二次电子。真实情况是否如此呢？/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 176, 240) "strong1.1二次电子图像所拥有的特性/strong/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "A) 二次电子能量很低（低于50ev），从样品表面溢出的深度浅，在样品中的扩散范围小。适合用于表现样品表面形貌像的极细小细节（小于10nm）。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/3edeb286-6abb-4bf7-8b3a-008c9ab1551f.jpg" title="1.png" alt="1.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em "B)二次电子能量低，在样品表面的溢出量容易受到静电场（荷电）的影响，出现图像局部或全部异常变亮、磨平、变暗并伴随图像畸变的现象，即样品图像的荷电现象。/span/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/fb564107-ab21-4b67-9812-18699dec50be.jpg" title="2.png" alt="2.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "C)二次电子的产额受平面斜率影响较大，边缘处产额最高，形成所谓的二次电子衬度及边缘效应。这些衬度信息会形成信息的假象，也有助于分辨某些特殊的样品信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 0em "span style="text-indent: 2em "/span/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/51c0d3a0-49ba-412e-96ee-f789a068425d.jpg" title="3.png" alt="3.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em "D) 二次电子图像的Z衬度一般表现较差。/span/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/9d2c7e97-f6a9-4de1-b054-9b8e5101f0f5.jpg" title="4.png" alt="4.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 176, 240) "strong1.2二次电子探头的组成及工作原理/strong/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "二次电子能量弱（低于50ev），要想获取二次电子信息就必须采用高灵敏探头。利用敏感度极强的荧光材料接收弱信号，再以光电倍增管对弱信号做百万倍的放大，将能量极弱的二次电子信息转化为能被电子线路处理的电子信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "这种设计是目前解决这一难题的最佳方案。二次电子探头的基本构造正是以这个思路为基础来设计。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.2.1 Everhart-Thornley探测器的结构组成/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "由金属网收集极、闪烁体、光导管、光电倍增管和前置放大电路组成的探测器被称为Everhart-Thornley探测器。一直以来都是各厂家用于接收二次电子的主流探测器。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/2f6dd144-afab-427d-99c2-96f6565bc641.jpg" title="5.png" alt="5.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.2.2 Everhart-Thornley探测器的工作原理/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "位于探头最前端的收集极是由金属网构成，其上加有200V的正偏压以捕获更多的二次电子。进入收集极的二次电子由加载在闪烁体金属铝膜上的10KV电压加速在闪烁体上产生一定数量的光子。由闪烁体产生的光子经过光导管的全反射进入光电倍增管阴极，在阴极上转换成电子。这些电子由打拿极的不断倍增，经阳极输出高增益低噪音的电信号。该信号由紧贴阳极的前置放大器放大后，从探测器输出。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "探测器本身无法将到达探测器的高能量背散射电子从低能量的二次电子中分离，但通过改变收集极偏压可以将低能量的二次电子给阻绝在探头外面。其接收的信息特性完全取决于到达探头的信息组成，如果信息中二次电子含量大则图像偏向于二次电子的图像特性，如果背散射电子含量大则结果偏向于背散射电子的图像特性。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "将探头的收集极变成负偏压，则我们可以获得偏向于背散射电子的图像。但是图像信号衰减较多，图像质量较差。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="color: rgb(0, 176, 240) "1.3二次电子探头的位置与成像特性/span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "高分辨场发射扫描电镜中，二次电子探头（ET探头）往往被置于仪器的两个位置：镜筒及样品仓。虽然各电镜厂家探头的具体位置有差异，但其结构是基本一致。探头位置不同，获取的图像性质差异也非常大。下面就以日立冷场电镜S-4800二次电子探头的位置设计为例来加以说明。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.3.1 S-4800二次电子探头的位置设计/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "在冷场扫描电镜S-4800中标配了两个二次电子探头。这两个探头的结构和性能完全一致，仅仅在电镜中安装的位置有所差异。一个位于样品仓，另一个位于物镜的上方。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "如下图所示：/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/6b4fc92d-a161-48eb-938a-cdc27b8be3a5.jpg" title="6.png" alt="6.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.3.2 上、下探头的工作过程及获取图像的特性/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 176, 240) "1.3.2.1上探头接收的样品信息/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "扫描电镜EXB系统的结构是在物镜磁场（B）上方正对着上探头设计一个电场（E）。该电场的作用是将物镜磁场吸上来的背散射电子、二次电子混合信息中能量较弱的二次电子分离出来，推向上探头。这个过程如同碾米机进行米、糠分离时吹风机的作用一样。故上探头获取信息是较为纯正的二次电子。背散射电子也可以通过位于物镜内的电极板转换成二次电子被上探头接收，通过调节电极板上加载的电压来选择到达上探头的信息特性。这种间接接收的背散射电子有其一定的特点，但损耗大，大部分情况下信号量不足。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "下面组图为上探头接收的四种信息特性。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " /pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/312e9fc9-364e-47b7-aa0f-f4a6759f8a69.jpg" title="7.png" alt="7.png"//pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/6ccf7e3c-4ea6-4df7-a35f-702c3461675e.jpg" title="8.png" alt="8.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 176, 240) "1.3.2.2上探头的工作过程/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "高能电子束轰击样品产生各种电子信息被物镜磁场吸收送往物镜上方。工作距离越小被物镜俘获的样品电子信息越多，其中二次电子和背散射电子是呈现扫描电镜表面形貌信息的主要信号源，将被拿出来单独讨论。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "二次电子和背散射电子混合信息被物镜磁场送到位于物镜上方的电场，能量弱的二次电子受电场影响从混合信息中被分离出来并推送到位于物镜上方的上探头，背散射电子由于能量较强，电场对其影响较小，将穿过电场轰击位于电场上方的电极板，产生间接二次电子也会被上探头接收到，但其含量较小不是主要信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "位于物镜中的电极板通过调整加载电压来选择进入物镜的信息类型。低角度（LA）背散射电子可由电极板转换成二次电子被上探头接收，形成所谓间接的LA背散射电子像。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "电极板加载+50V电压，将吸收低角度的二次电子和背散射电子，抑制低角度电子信息进入镜筒（U）。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "电极板加载0V，将由其转化成二次电子的低角度背散射电子和低角度二次电子信息都送入镜筒。上探头接收的是各种角度二次电子和低角度背散射电子的混合信息。其混合比例将随着电极板电压的降低，背散射信息逐渐增多（U，LA0）。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "-150V时，二次电子被全部压制，此时上探头接收到的是纯的低角度背散射电子所激发的二次电子信息（U，LA100）。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "位于镜筒内的能量过滤器，会将二次电子以及低角度背散射电子所形成的二次电子给抑制，此时上探头或顶探头接收的是高角度背散射电子信息（U，HA）。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "图像特性：Z衬度充分，其他都不足。由于高角度背散射电子产额少，对样品及束流的要求都较高。目前在束流较低的冷场扫描电镜中取消这个功能，只在束流较高的regulus8200系列冷场电镜中保留顶探头设计。但适用的样品并不多。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/54aea59e-1225-4703-a62d-324fa54bf35c.jpg" title="9.png" alt="9.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 176, 240) "1.3.2.3下探头的位置及其图像特性/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 下探头位于场发射扫描电镜样品仓位置。示意图如下：/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/17380253-5429-4944-af61-5caa22457c69.jpg" title="11.png" alt="11.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "下探头位于样品仓中，因此也称样品仓探头。它与样品之间没有任何阻碍物，激发出来的样品信息可以不受影响的到达该探头。下探头本身不能对到达探头的背散射电子信号加以甄别，其图像特性取决于到达探头的信息特征。二次电子居多，就偏向二次电子的图像特性；背散射电子居多，则偏向于背散射电子的图像特性。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 样品仓探头接收的样品信息以低角度信息为主，背散射电子含量占主导。对样品信息的接收效果取决于探头与样品之间形成的固体角，样品的位置十分关键，存在一个最佳工作距离。各厂家的最佳工作距离各不相同，日立电镜是15mm。下探头位于样品的侧向，图像特性：形貌衬度好，立体感强；荷电影响小；Z衬度好；细节易受信号扩散影响，高倍清晰度不足，10纳米以下细节很难分辨。 /pp style="text-align: justify text-indent: 2em "不同厂家的样品仓探头位置不同，因此最佳工作距离以及探头、电子束、样品之间的夹角都会略有不同。形成的图像在空间感及高分辨能力上存在差异。样品仓真空度也是样品仓探头分辨力的主要影响因素之一。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "日立冷场扫描电镜下探头的成像实例：/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/b5917c9d-9e59-41fb-82c6-4c3fd3475cab.jpg" title="12.png" alt="12.png"//pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/decfd495-8ec1-490e-b6e8-c6735f4f5ad9.jpg" title="13.png" alt="13.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 176, 240) "1.3.2.4上、下探头的图像特性对比实例/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "上、下探头结构一致，仅仅由于安装位置不同导致其成像特性也不一样，充分掌握这些差异将有利于你选择正确的测试条件。下面将通过几组对照图来加以阐述：/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/c911ae27-5aac-4936-a791-5f3f37126870.jpg" title="14.png" alt="14.png"//pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/7388deb2-be2f-472d-9c96-52b873fb089c.jpg" title="15.png" alt="15.png"//pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/169e28be-1208-4ae4-ace5-96820e80cb8b.jpg" title="16.png" alt="16.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "从以上各组对照图可以清晰看到，上探头二次电子信息特征极为强烈，而下探头偏重背散射信息。这些特点使得该两种探头获得的样品信息差异较大，各自都有适合的样品及所表现的样品信息。在各自适用的范围内对方都无可替代。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "根据个人多年的测试经验，下探头获取的样品信息虽然在10纳米细节观察上有所欠缺，但获取的信息更为充分。本着初始图像以信息量是否充分为主的原则，15mm工作距离选用下探头测试，常常被用做扫描电镜测试时的初始条件。以该条件下获取的形貌像为参考，依据样品的信息需求以及对上、下探头成像特性的正确认识，再做进一步调整。/ph1 label="标题居中" style="font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px "span style="font-size: 18px color: rgb(0, 176, 240) "二、背散射电子探头/span/h1p style="text-align: justify text-indent: 2em "strong2.1背散射电子的图像特性/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "高能电子束受样品原子核及核外电子云的库仑势影响，发生弹性和非弹性散射后溢出样品表面，形成样品背散射电子。其特点是：能量大（与入射电子相当），产额受样品原子序数、密度以及晶体材料的晶体结构及晶粒取向影响较大，是形成样品Z衬度和晶粒取向衬度信息的主要信号源。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "背散射电子按信号溢出角分为高角度和低角度两种类型。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "高角度背散射电子的Z衬度更为明显，但整体产额很低，仅在束流较大的场发射扫描电镜上配置了接收该信息的探头。探头位于镜筒中物镜的正上方（或称T），适用样品并不多。扫描电镜日常采集的主要是低角度背散射电子。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "高角度背散射电子相较于低角度背散射电子，Z衬度更为明显，但其产额较低。由于该信息最佳接收位置在样品正上方，探头、样品以及入射电子束在一条线上，故空间形貌较差。低角度背散射电子Z衬度略弱，但产额大，形貌像更好。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "要充分接收低角度背散射电子信息，探头需要与样品形成一定角度。相对于高角度背散射电子，低角度背散射电子形成的图像空间感好，表面形态及细节信息较充分，但Z衬度略差，不如高角度背散射电子明显。以下是分别以二次电子和高、低角度背散射电子为主所形成的形貌像比较。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/cf857ded-2b46-4cfa-b30e-df25d2f6cbcb.jpg" title="17.png" alt="17.png"//pp style="text-align: center text-indent: 0em "strong style="text-align: center text-indent: 0em "碳复合金颗粒的二次电子、高角度背散射电子、低角度背散射电子对照 /strongspan style="text-align: center text-indent: 0em " /span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong2.2背散射电子探头的构造及工作原理/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "环形半导体背散射电子探头是最经典的背散射电子探头。该探头采用环状硅基材料做成，构造形式是半导体面垒肖特基结二极管或p-n结二极管，如下图：/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/c6983a61-7f15-42c3-849e-c0b3f78c0f4f.jpg" title="18.png" alt="18.png"//pp style="text-align: center text-indent: 0em "strong图片节选自《微分析物理及其应用》 丁泽军/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 背散射电子在硅基探测器中激发大量的电子-空穴对。同样加速电压下，电子-空穴对的产量和背散射电子强度形成一定的对应关系。并由此形成对应的电信号，经处理后在显示器形成样品的背散射电子图像（Z衬度像或晶粒取向衬度像）。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 硅基材料形成电子-空穴对，需要信号激发源有一定的能量（肖特基结对5KV以下电子有大增益，P-N结对10KV电子才有大增益），能量较小的二次电子很难在该探头上产生信息，故探头形成的图像带有强烈的背散射电子图像特性。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "为了获取低能量的背散射电子信息，背散射电子探头改用YAG晶体或在探头上做一层薄膜如FEI的CBS，这些改变都对探头获取低能量背散射电子有利，形成的图像细节更丰富。但探头灵敏了，干扰也会增多，Z衬度也会减弱。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/a6b2de85-8984-486a-8940-122ff5311cf1.jpg" title="19.png" alt="19.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="text-indent: 2em "2.3各种探头接收背散射电子信息的结果对比/span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "传统硅基P- N结背散射电子探头对加速电压的要求高（10KV以上），它获取的背散射电子信息不易受低能量信息的干扰。Z衬度分明，荷电影响极小，但图像的细节呆板，表面细节信息缺失严重，较高倍时图像的清晰度差。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "钨灯丝扫描电镜，电子枪本征亮度差，要获得高质量形貌像所需的电子束发射亮度，加速电压必须在10KV以上。P-N结背散射电子探头正好与其互相匹配，故被广泛使用。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "场发射扫描电镜本征亮度大，低加速电压下进行高分辨形貌像测试是常态，P-N结背散射电子探头与其匹配度差。而CBS和YAG探头的功能和样品仓探头比起来Z衬度优势并不明显，二次电子的接收效果又不如，个人认为完全可以用样品仓探头来完美的替代背散射电子探头。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "如前所述，二次电子探头也能接收大量背散射电子。它所获取的图像性质取决于到达探头的信息组成，如果背散射电子信息居多，它就偏向背散射电子的图像特征，二次电子居多就偏向二次电子图像特征。二次电子探头适合在不同加速电压（几百伏到30KV）下获取背散射电子图像。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "低加速电压有利于取得是浅表层信息；高加速电压有利于取得较深层信息。探头的适用范围越广，测试条件的选择越充分，获取的样品信息越完整。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/de1afe4f-f593-4e4e-88d0-92b7ec8a573e.jpg" title="20.png" alt="20.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "背散射探头通过电子-空穴对的转移来传递信息，运行速度较二次电子探头（光电转换）慢很多。在进行聚焦、像散、对中操作时，图像对操作的反应滞后严重，须在慢速下调整。整个操作麻烦，精确的高倍调整更为困难。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "背散射电子探头往往置于样品与物镜之间，推进推出操作麻烦且易引发探头和样品间碰撞，对探头造成损伤。对该位置的占有，也会给后期分析设备安装带来麻烦。随着能谱仪、EBSD性能的突飞猛进，背散射电子探头对成分及结构组成分析的作用大大衰减，且成本不低，信息量少，使用率低。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "个人观点：背散射探头连鸡肋都算不上，基本可以抛弃。/ph1 label="标题居中" style="font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px "span style="color: rgb(0, 176, 240) font-size: 18px "strong结束语/strong/span/h1p style="text-align: justify text-indent: 2em "探头是扫描电镜获取样品表面形貌信息的关键部件。其性能高低对形成样品高质量、高分辨的表面形貌像至关重要。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "探头主要有两大类：二次电子探头、背散射电子探头。传统的观点认为：二次电子探头主要用来接收样品的二次电子信息，背散射电子探头接收的是背散射电子信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "实践经验告诉我们这个观点并不正确。二次电子探头的图像性质取决于到达探头的信息组成。到达探头的信息以背散射电子信息为主则图像倾向背散射电子图像特性，二次电子信息为主则是二次电子的图像特性。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "高分辨场发射扫描电镜常规设计有两个二次电子探头，分别位于样品仓和镜筒内部。不同位置的探头获取样品表面形貌信息的组成差异很大。镜筒内探头获取的基本都是二次电子信息，样品仓探头则是以背散射电子为主的混合信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "改变工作距离对探头获取样品信息的影响极大，工作距离越小越有利于上探头获取样品的二次电子信息，大工作距离有利于样品仓探头获取样品的混合信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "工作距离对样品仓探头接收样品信息的影响并不是越大越好，而是有一个最佳工作位置。最佳工作位置设计的越合理，你获取的样品信息也就会越丰富。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "传统的半导体背散射电子探头由于需要较大的激发能，故能量较弱的二次电子很难在探头上产生信号，该探头获取的背散射电子图像较为纯净。早期的硅基P-N结半导体背散射探头激发能要求较高（10KV）所以它形成的图像呆板，细节分辨差，表面信息少，但Z衬度强烈，不易受荷电影响。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "高加速电压对充分获取样品表面信息不利，为了提高探头获取表面信息的能力，出现许多低电压背散射探头（CBS\YAG）。但个人认为：低电压背散射电子探头的成像效果不如样品仓探头来的细腻，设计合理的样品仓探头完全可以替代背散射探头的功能。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "要掌握好仪器设备，对各功能部件的充分认识是基础。希望通过本文，能和大家一起对扫描电镜的信息接收系统有个重新认识。对探头以及工作距离的正确选择必定会为你带来更为丰富的样品信息。span style="text-indent: 2em " /span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong参考书籍：/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "《扫描电镜与能谱仪分析技术》张大同2009年2月1日 span style="text-indent: 2em "华南理工出版社/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "《微分析物理及其应用》 丁泽军等 2009年1月 span style="text-indent: 2em "中科大出版社/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "《自然辩证法》 恩格斯 于光远等译 1984年10月 span style="text-indent: 2em "人民出版社 /span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "《显微传》 章效峰 2015年10月 span style="text-indent: 2em "清华大学出版社/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "日立S-4800冷场发射扫描电镜操作基础和应用介绍span style="text-indent: 2em " 高敞 2013年6月/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong作者简介：/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "img style="max-width: 100% max-height: 100% float: left width: 75px height: 115px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/741ca864-f2b8-4fc3-b062-2b0d766c5a7b.jpg" title="扫描电镜的探头新解-林中清.jpg" alt="扫描电镜的探头新解-林中清.jpg" width="75" height="115" border="0" vspace="0"/林中清，87年入职安徽大学现代实验技术中心从事扫描电镜管理及测试工作。32年的电镜知识及操作经验的积累，渐渐凝结成其对扫描电镜全新的认识和理论，使其获得与众不同的完美测试结果和疑难样品应对方案，在同行中拥有很高的声望。2011年在利用PHOTOSHIOP 对扫描电镜图片进行伪彩处理方面的突破，其电镜显微摄影作品分别被《中国卫生影像》、《科学画报》、《中国国家地理》等杂志所收录、在全国性的显微摄影大赛中多次获奖。 /pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong延伸阅读：/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong/strong/pp style="text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/news/20200218/522167.shtml" target="_self" style="color: rgb(0, 176, 240) border: none text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 176, 240) "二次电子和背散射电子的疑问（下）——安徽大学林中清32载经验谈（5）/span/a/pp style="text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/news/20200114/520618.shtml" target="_self" style="color: rgb(0, 176, 240) border: none text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 176, 240) "二次电子和背散射电子的疑问[上]-安徽大学林中清32载经验谈（4）/span/a/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "strong/strong/span/pp style="text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/news/20191224/519513.shtml" target="_self" style="color: rgb(0, 176, 240) border: none text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 176, 240) "电子枪与电磁透镜的另类解析——安徽大学林中清32载经验谈（3）/span/a/pp style="text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/news/20191126/517778.shtml" target="_self" style="text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 176, 240) "扫描电镜放大倍数和分辨率背后的陷阱——安徽大学林中清32载经验谈（2）/span/a/pp style="text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/news/20191029/515692.shtml" target="_self" style="color: rgb(0, 176, 240) border: none text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 176, 240) "扫描电镜加速电压与分辨力的辩证关系——安徽大学林中清32载经验谈/span/a/p
    时间： 2020-03-18
    作者： liym
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