米氏散射成像

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米氏散射成像相关的耗材

  • 赛诺普Xenocs X射线成像模块
    InXight X射线成像模块InXight是Xeuss 3.0的X射线成像可选模块,它可以在X射线散射测量和X射线成像之间进行快速自动切换。这大大提高了Xeuss 3.0仪器的测试能力,测量尺寸范围从埃米级到毫米级。全面认识您的样品对聚合物,泡沫,复合材料,生物材料等新应用的开发,不仅需要了解他们的材料结构,还需要评估生产过程和使用条件的影响。通过测量加工材料或异质材料的宏观结构,结合Xeuss 3.0散射测量,其中InXight模块有助于理解宏观结构的非均质性和纳米或原子结构之间的关系。大面积X射线探测视野以及低至几十微米的分辨率,是进行局部区域测量的理想选择。通过快速切换测量配置,InXight可以在进行原位动态研究时同时采集X射线图像和X射线散射图谱。分析的典型材料包括聚合物、复合材料、玻璃或薄的无机样品。X射线源在散射和成像之间的自动快速切换InXight正在申请专利的测量配置包括一个X射线成像源,该X射线成像源产生一个锥形光束,大范围照射位于Xeuss 3.0样品台上的样品,并将X射线透射图像投射到Q-Xoom探测器上。 X射线源快速自动切换,可确保在同一样品上连续自动进行X射线散射和X射线成像。InXight X射线成像模块 具有InXight X射线成像模块的Xeuss 3.0 获取从埃米级到毫米级的样品结构信息 通过成像选取目标,研究散射信息 在原位SAXS/WAXS实验过程中,结合X射线成像可监测样品变化。
  • 光散射比色皿
    德国Hellma公司成立于1922年,是全球最著名的比色皿供应商与光学元件供应商,1995年荣获TUV Sudwest的DIN EN ISO 9001质保认证。为了确保优越品质,Hellma采用出自著名的德国Heraeus公司的SUPRASIL高级石英为原材料,每一件比色皿都经过了严格的质量审查。 Hellma一直为PE、Shimadzu、Jasco等全球各大仪器厂商提供OEM比色皿,Hellma比色皿完全适用于各厂牌各种型号光谱仪的需要!光散射比色皿,用于散射分析,多种规格可选。540.11光散射比色皿0/540.111/540.114/540.115/540.135-QS规格:目录外径尺寸H × D(mm)内径尺寸H × D( mm)容量( µ L)产品号备注540.110-QS75 x 1074 x 82800540-110-80540.111-QS75 x 1074 x 82800540-111-80外圆柱面磨光540.114-QS75 x 2573 x 22.622000540-114-80540.115-QS75 x 2573 x 22.622000540-115-80外圆柱面磨光540.135-QS75 x 2074 x 1814000540-135-20-40光散射比色皿其它规格咨询请联系我们!!各规格比色皿现货特惠促销!!!
  • 赛诺普 无散射狭缝
    Xenocs无散射准直狭缝系统Scatterless Collimation,区别于传统的三片式狭缝,采用独有的专利技术,消除了传统狭缝刀片边缘的寄生散射,有效的避免了光强损失,打造了超纯净光路,提高了数据的分辨率。

米氏散射成像相关的仪器

  • 一、前言作为物质存在的第四种状态的等离子体通常由电子、离子和处于基态以及各种激发态的原子、分子等中性粒子组成。等离子体中带电离子间库伦相互作用的长程特性,是带电粒子组分的运动状态对等离子体特性的影响起决定性作用,其中的电子是等离子体与电磁波作用过程中最重要的能量与动量传递粒子,因此,等离子体中最重要的基本物理参数是电子密度及其分布以及描述电子能量分布的函数以及相应的电子温度。而对于中高气压环境下产生的非热低温等离子体来说,等离子体中的主要组分是处于各种激发态的中性粒子,此时除了带电粒子外,中性粒子的分布和所处状态对等离子体电离过程和稳定性控制也起着非常重要的作用,尤其是各种长寿命亚稳态离子的激发。为了可以充分描述等离子体的状态,在实验上不仅要对带电粒子的分布和运动状态进行诊断,如电子温度、电子密度、电离温度等参数,还需要对等离子体中的中性粒子进行必要的实验测量,来获得有关物种的产生、能量分布以及各个激发态布居数分布等信息,如气体温度、转动温度、振动温度、激发温度等参数。基于这种要求,结合相关学科的各种技术形成了一个专门针对等离子体开展诊断研究的技术门类,如对等离子体中电子组分的诊断技术有朗缪尔探针法(Langmuir Probe),干涉度量法(Interferometer),全息法(Holographic Method),汤姆逊散射法(Thomason Scattering, TS),发射光谱法(Optical Emmission Spectroscopy, OES)等,对离子组分的光谱诊断技术有光腔衰减震荡(Cavity Ring-Down Spectroscopy, CRDS)和发射光谱法(OES),而对中性粒子的光谱诊断技术包括了吸收光谱法(Absorption Spectroscopy, AS),发射光谱法(OES),单光子或者双光子激光诱导荧光(Laser Induced Fluorescence, LIF)等。二、汤姆逊散射(Thomson Scattering)基于激光技术发展起来的汤姆逊散射诊断原本用于高温聚变等离子体的测量,借助激光技术和光电探测技术的突飞猛进,汤姆逊散射在近年也大量应用于低温等离子体的密度和电子温度的测量。汤姆逊散射具有空间分辨率高(局域测量),测量值稳定可靠等优点。测量的物理量:电子温度:下限0.1e密度:下限1019m-3.图1. 汤姆逊散射分析系统结构示意图2.1、激光束在等离子体中的束斑大小(束径DLP)激光束经过透镜聚焦,等离子体应该位于透镜的焦点,以达到激光束在等离子体中有最小的束径,最高的功率密度。DLP = f´ q其中f是聚焦透镜的焦距,q是激光束发散角,考虑各种综合因素,实际束径是上述公式的2倍左右。假设使用f=1000mm的聚焦透镜和q=0.5mrad的激光束,DLP大约是1mm。2.2、收集光学系统的光纤的像斑(fP)与等离子体中激光束径DLP的匹配为了有效的收集激光束上的散射光子,光纤的像斑fP应该完全覆盖激光的束径。理想情况是光纤的像斑与DLP尺寸完全相同,并且二者完全重合,这样激光的散射光最大,同时背景非散射光最小。但是考虑到实际的准直的难度,这样的理想条件在有限的资金投入下很难实现。建议fP是DLP的两倍,既能有效的收集散射光子,也能比较容易准直。如果DLP =1mm, fP =2mm是比较合适的。2.3、光纤的芯径、布局和光谱仪以及ICCD的选择汤姆逊散射谱线展宽与温度的关系如下:汤姆逊散射角度 Theta=90度;me是电子质量,c是光速,kB是玻尔兹曼常数,公式右边分母下面:是激光的波长 532nm;分子是谱线展宽,不过是1/e展宽因此汤姆逊散射光谱的半高宽△λ1/e(nm)与等离子体温度Te(ev)的关系可以简化为△λ1/e=1.487×Te1/2Te eV0.10.20.30.4124510△λ1/e nm0.470.530.810.941.492.102.973.324.70表1. 电子温度与汤姆逊散射谱半高宽对应值在光谱仪没有入射狭缝或者入射狭缝宽度超过光纤的芯径的情况下,光纤的芯径实际决定了谱仪的实际分辨率(仪器展宽):△λof = fof ´ LSPfof是光纤的芯径,LSP是谱仪的倒线色散率。针对于此应用,可以考虑选择两款光谱仪,分别是:1、Zolix 北京卓立汉光仪器有限公司的Omni系列 750mm的谱仪,如果使用1200l/mm的光栅,LSP = 1nm/mm。测量电子温度的原则是仪器展宽应该与最低温度的展宽相当,才能有效的测量到最低温度。2、选用207(670mm焦距)光谱仪,在搭配1200l/mm光栅的情况下,LSP=1.24nm/mm,可以满足要求。同时可以考虑搭配1800l/mm光栅,这样的话可以兼容高电子温度和低电子温度的同时测量,以及同时兼顾高分辨和宽光谱。原则上,使用芯径400mm的光纤,△λof=0.4-0.48nm,完全符合0.1eV的测量要求。但是还是建议谱仪安装入射狭缝,靠狭缝来控制分辨率,不仅确保0.1 eV的测量要求,还能实现更低的温度测量。同时在调试阶段,靠狭缝来控制通光量,以免532nm的激光杂散光太强,对ICCD造成破坏。另一方面ICCD的尺寸决定了光纤的排布数量。光纤数量越多,对汤姆逊散射这种微弱光测量是越有利的。在信号很弱的时候,可以把几道合成一道使用,以增加信噪比,提高信号质量。因此在波长覆盖范围(CCD的横向尺寸)满足要求的情况下,ICCD的纵向尺寸应该尽量大一些,以便容纳更多的光纤。选用iStar 334T探测器,这款CCD的尺寸是13.3 ´ 13.3 mm,对焦距目前的光谱仪无论是Omni-750还是207在搭配1200l/mm光栅的情况下,波长覆盖范围是13nm左右,同时纵向13.3mm,容纳的光纤数量也更多,可以做更多的多道光谱。如果已有更大面阵的CCDsCMOS或高速相机,可以考虑使用Zolix 卓立汉光的IIM系列镜头耦合像增强模组与之配合,达到类似ICCD的功能和效果,同时获得更大的相机选取自由度;IIM 内部可以选择25mm 尺寸的增强器,1:1耦合到CCD, 可以获得更大的成像面,双层增强器也可以获得更高的增益;光纤的布局是一字型密集排布,在13mm的长度内,尽量的密布尽可能多的光纤。同时光纤应该严格排列在一条直线上,整排光纤的偏心距小于20mm。2.4、收集透镜的选择等离子体中心到透镜的距离L和光纤的芯径,及像斑决定了收集透镜的焦距。举例如下:如果像斑要求是fP =2mm,光纤芯径400mm, 则物像比是4,如果L=320mm, 则透镜的焦距就是320/4=80mm。同时如果观测的等离子体范围是50mm,那光纤一字排开的范围就是50mm/4=12.5mm。这个宽度和连接谱仪一侧的光纤束的尺寸很接近了,连接收集透镜一侧光纤也应该是密集排布,这样两端容纳的光纤数量就是匹配的。2.5、瑞利散射的滤除与使用瑞利散射信号通常也可以用来测试重粒子的相关信息比如中性原子。但是相比于瑞利散射法来说,作为弹性散射的汤姆逊散射法更多用于自由电子的测试。和离子与原子相比,由于自由电子的速度更快,质量更轻,因此具备更宽的光谱展宽。比较强的杂散光信号与更强的瑞利散射信号则可以通过例如布儒斯特窗、笼式结构或者黑丝挡板的方式滤除掉。图2 滤除瑞利散射的笼式结构示意光路因此在实际的测试过程中,如何合理地使用这些信号为等离子体诊断服务,则是另一个相关的话题。如图3[1]所示,为实际测试过程中得到的瑞利与汤姆逊散射信号如图4[2]所示,为实际测试过程中得到的滤除瑞利散射后的汤姆逊散射信号图3 包含瑞利散射与汤姆逊散射的实测信号图4 滤除瑞利散射后的汤姆逊信号2.6其他附属部件光电倍增管谱仪第二出射口配宽度可调的狭缝三维调整光学支架,用以调节镜头的方位和方向三、整体解决方案汇总推荐根据用户需求,一般推荐的配置如下:光谱仪:Zolix 北京卓立汉光仪器有限公司的Omni-500I 或750i光谱仪搭配1200l/mm和1800l/mm的全息光栅高光通量光谱仪,搭配120*140mm 或110*110mm 的大尺寸,高分辨率的1200l/mm光栅和1800l/mm光栅探测器:ICCD, 18mm 增强器,13*13mm 探测面;Zolix卓立汉光 公司的IIM-A系列 镜头耦合像增强模组,配合更大面阵的CCD或sCMOS相机, 18mm或25mm 的大面积增强器,灵活的CCD 相机选择; DG645数字延迟脉冲发生器:用于系统触发控制标准A光源,用于系统强度校准其他的配件:包括多道光纤,收集光路,可以后续一并考虑,先购买标准部件参考文献[1] Yong WANG, Cong LI, Jielin SHI, et al. Measurement of electron density and electron temperature of a cascaded arc plasma using laser Thomson scattering compared to an optical emission spectroscopic approach[J]. Plasma Sci. Technol. 19 (2017) 115403 (8pp) [2] Ma P, Su M, Cao S, et al. Influence of heating effect in Thomson scattering diagnosis of laser-produced plasmas in air[J]. Plasma Science and Technology, 2020.
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  • 仪器简介:SAXSpace(Small & Wide Angle X-Ray Scattering System)是奥地利安东帕公司研制开发的一种小角X-射线散射仪。是一款适用于SAXS,WAXS,GI-SAXS,Bio-SAXS等的模块化纳米结构分析仪。其角度范围为0.03-49nm^-1,对应的尺寸范围为0.13-200nm。在不改变仪器设置的情况下,SAXSpace可以同时测量小角和广角X-射线散射,所测的2&theta 角度最大值为74° ,是真正的小角与广角X-射线散射同时测量的仪器。SAXSpace可以测试几乎所有固体和液体样品。SAXSpace应用举例:表面活性剂和两亲性二嵌段共聚物的溶液:胶束尺寸,胶束形状,相行为,囊泡壁的内部结构等。生物材料:蛋白质在溶液中的形状和尺寸,内部结构,聚集状态,分子量等。分散体系:分散颗粒的形状和尺寸分布,分散体系的稳定性,颗粒集结成核现象,聚集状态等。纤维:内部结构,结晶度,取向度等。催化剂:比表面积,颗粒尺寸及分布,结晶度等。乳液:液滴的形状和内部结构,液滴的尺寸分布,不同温度时乳液的稳定性,胶囊试剂的传输动力学等。聚合物和纳米复合物:结晶度,周期性纳米结构,取向度等。液晶:周期性结构的尺寸和形状,取向度等。技术参数:测量范围:0.13 ~ 200 nmX-射线光源:标准:密封管(线聚焦和/或点聚焦),其它光源:可选。光束尺寸:线光源为20 × 0.3 mm2,点光源为0.3 × 0.3 mm2。工作电压:40 kV工作电流:50 mA样品量:固体只需几毫克,液体最少只需7微升。样品温度的可调节范围:-150 ~ 300 ° C,灵敏度为± 0.1 ° C。测试时间:1 ~ 60 min。主要特点:真正的小角与广角X-射线散射同时测量的仪器:0.13 ~ 200 nm。光路可自动进行调整。原位升降温和溶液测试。专业而且完备的数据处理软件。
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  • 手持背散射成像仪 400-860-5168转4124
    散射探测原理就是利用康普顿散射理论,X射线遇到不同物质会发生不同的散射,X射线遇到低原子序数物时,散射较强;遇到高原子序数物质时,散射相对较弱。手持背散射成像仪可用于包裹,汽车夹层、邮件等物品的安全检测,对有机物特别是低原子序数的样品比较敏感,比如dupin和爆炸物成像效果显著。手持背散射可用在海关缉私缉毒、边检缉毒、禁毒局缉毒、边检缉毒和查验走私夹带、反恐等领域。手持背散射成像仪特点1. 便携性:体积小巧可以携带至现场对样品进行检测 2. 对低原子数的样品比较敏感:dupin、爆炸物等 3. 同侧测试:测试方便,可以从不同角度对可疑物品进行检测 4. 辐射剂量小:对测试人员安全性有保障
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  • 【求助】请问高手:采用SEM背散射做成分像的疑问

    各位高手:我最近在用背散射电子做了一个奥氏体不锈钢中残留铁素体的背散射成分像,可是用背散射像看到的结果和我采用化学腐蚀看到的结果相差比较大(也就是说采用化学腐蚀用光学显微镜看到的残留铁素体的面积要远远大于采用背散射电子看到的残留铁素体相),我想请教大家:用背散射电子看第二相的精确度有多高,是其成分只要不同于基体,他就会成像吗?因为我觉得不论是基体还是第二相,都会有一定的成分梯度,这个我应该怎么理解呢,谢谢大家了

  • 【原创大赛】二次电子与背散射电子成像区别

    【原创大赛】二次电子与背散射电子成像区别

    [align=center][b]二次电子与背散射电子成像区别[/b][/align] 二次电子检测器和背散射电子检测器是扫描电子显微镜常用检测器。二次电子检测器成像速度快,在快速扫描时很容易对焦,图像立体感强,背散射电子检测器在快速扫描时图像有带状条纹,对焦成像条件一般依赖二次电子检测器(即在调整好二次电子像参数后启动背散射电子检测器成像)。 散射电子检测器一般是被嫌弃的,因为它成像分辨率低(图1)。造成分辨率不同的原因是二者检测的信号源不同。二次电子(SE)的能量小于50ev,二次电子信号主要来自试样表层,深度大约5~10 nm,反映试样表面的形貌。背散射电子(BSE)是受到试样原子核的弹性和非弹性散射而被反射回的一部分入射电子,能量大于二次电子(SE)(图2)[sup][/sup]。一般来说,背散射电子的能量大于50ev,背散射电子反映试样表面50~200 nm深度的信息,激发区域大于二次电子。[img=,690,282]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807261522354238_7646_2265735_3.jpg!w690x282.jpg[/img][b]图1 金纳米粒子二次电子图像(A)和背散射电子图像(B)。[/b]背散射电子图像分辨率低于二次电子图像(图中红色箭头指示处)。JEOL-7800F扫描电子显微镜,工作距离10mm。[img=,690,518]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807261523412701_7969_2265735_3.png!w690x518.jpg[/img][b]图2 当加速电子轰击分析物激发的各种信号[sup][/sup][/b]。二次电子(SE)和背散射电子(BSE)是扫描电镜成像的基础信号。 二次电子和背散射电子有一定的方向性,背散射电子更加靠近入射法线。一般二次电子的探测器装在电镜样品仓侧面(在物镜内部,小工作距离的高分辨二次电子探头不在这里讨论),背散射探头的探测晶体直接安装在物镜下面,中心与物镜光学中心重合。探测器的安装位置和电子不同的反射角度会影响图像的明暗。图3是硅球的扫描电镜图。二次电子图像的有较大阴影,球的中心位置阴影最明显,与之相反背散射电子图像球的中心位置最亮。[img=,690,266]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807261527144207_5694_2265735_3.png!w690x266.jpg[/img][b]图3 硅球的二次电子图像(A)和背散射电子图像(B)[/b]。JEOL-7800F扫描电子显微镜,工作距离10mm。 背散射电子检测器也有自己的独特之处,有的时候可以成功逆袭二次电子探测器。背散射电子图像具有一定的Z轴衬度,与晶体取向有关,电子强度与物质组成有关,可以显示样品内部结构,也就是说背散射电子图像可以用来分析复合材料。在试验条件相同的情况下,背散射电子信号的强度随分析物[b]平均原子序数[/b]增大而增强,在样品表层平均原子序数较大 的区域,产生的背散射信号强度较高[sup][/sup]。目前商品化的背散射电子检测器可以区分元素周期表相邻的两个元素。图4显示在基底上镀镍(28号元素)和铜(29号元素),在二次电子图像上几乎看不出是两个不同的镀层,能谱分析显示两个镀层有明显的界限,背散射电子图像不仅可以完美区分两个镀层,对镀层的缺陷也比背散射电子图像更加明确的呈现出来。[img=,690,349]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807261530426736_7830_2265735_3.png!w690x349.jpg[/img][b][b]图4 不同镀层的扫描电子显微镜分析[/b]。A,二次电子图像;B,EDS能谱图像;C,背散射电子图像。JEOL-7800F扫描电子显微镜,工作距离10mm。牛津(oxford)能谱仪。[/b] 目前扫描电镜分析已经逐渐脱离单纯的形貌分析,组成和相分析更加有助于我们深刻理解材料的构成和性质。我们在常规扫描电镜实验中,调用一下常常被忽略的背散射电子检测器,在几乎不增加工作量的情况下也许会有意外的收获。[b]参考文献[/b] 1.JEOL指导手册,A Guide to Scanning Microscope Observation 2.Bozzola, J.J., Russell, L.D., 1999.Electron Microscopy: Principles and Techniques for Biologists, 2nd ed. Jonesand Bartlett Publishers, Boston, NY.

  • 背散射探头无法成像

    用了电镜低真空模式后,切换了高真空模式,然后二次电子图像就很模糊,背散射探头就更离谱了,成像全是条纹。求助各位电镜大佬,会不会是里面的水汽影响了信号的收据呢。[img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/02/202302272234549648_856_5385925_3.png[/img]

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  • 上海光机所在智算散射成像方面取得新进展
    近日,中国科学院上海光学精密机械研究所信息光学与光电技术实验室司徒国海研究员团队提出了基于深度学习的可拓展散斑相关成像方法,可在不同散射介质干扰下实现对不同类型物体的恢复,突破了传统深度学习方法因泛化性问题而难以同时应对成像系统及成像场景变化的瓶颈。相关论文近期以“DeepSCI: Scalable speckle correlation imaging using physics-enhanced deep learning”为题发表在Optics Letters上。   散射成像技术突破了传统成像方法的成像视距,大幅提升了光学成像系统的环境适应性。近年来发展的基于深度学习的散射成像方法在提升成像深度和速度、降低成像装置复杂度等方面具有独特优势。但是,这种数据驱动的方法存在训练数据获取困难、泛化性及可解释性差等问题,难以对不同散射环境下的不同结构类型物体进行成像。课题组此前提出融合成像系统物理模型的方法为解决上述问题提供了新思路,但因难以对散射成像系统进行正向建模而无法将其直接应用到散射成像中。   研究团队基于光学记忆效应,将散斑相关成像中建立的物体与散斑图之间的联系视为正向物理模型(图1a),并融入深度学习算法中(图1b-c)。当散射介质和物体类型变化引起数据漂移时,利用物体图像与散斑图由上述物理模型建立的等式关系,对预训练网络进行微调,使得网络输出的物体图像估计满足物理模型的约束(图1c)。尽管从散斑图重建物体图像是一个典型的病态逆问题,但由于预训练模型蕴含了训练数据中丰富的隐式先验信息,网络输出结果可在物理模型的约束下逼近真实物体图像(图1d)。仿真和实验结果表明,这种模型与数据联合驱动的方法,可使用由一类散射介质和目标物体获得的数据预训练网络,实现透过不同散射介质对不同结构类型物体进行成像(图2)。图1 所提方法示意图。(a)散射成像系统;(b)数据驱动预训练;(c)模型驱动微调;(d)微调过程,网络直接输出结果经微调后逼近真实物体图像。图2 散斑相关成像实验装置及实验结果。(a)物体真值;(b)散斑自相关;(c)预训练网络直接输出;(d)模型驱动非训练网络结果;(e)HIO结果;(f)对预训练网络进行微调结果。
  • 上海光机所在超分辨散射成像和定位研究方面取得进展
    近日,中国科学院上海光学精密机械研究所量子光学重点实验室刘红林副研究员课题组在散射定位和成像研究方面取得重要进展。相关成果以“Imaging and positioning through scattering media with double helix point spread function engineering”为题发表于Journal of Biomedical Optics期刊上。散射现象对依靠弹道光传递信息的传统成像技术造成了极大的阻碍。很多领域对透过散射介质实现高分辨成像都有迫切的需求,这促使大量的资源投入到相关研究中,也促进了散射成像技术的发展。目前,主流散射成像技术仅能实现目标的二维成像和相对位置信息的获取,难以三维定位和成像。双螺旋点扩散函数(DH-PSF)可用于超分辨显微成像,并实现三维定位,但应用场景通常是无散射或弱散射环境。迄今为止,尚未有其在散射环境中成像和定位的相关报道。   本研究工作系统分析了双螺旋点扩散函数在散射环境下的定位能力,搭建了含有DH-PSF调制模块的显微实验系统,并选用鸡蛋壳膜和洋葱表皮组织作为散射介质进行演示验证。利用DH-PSF的特殊调制图案,通过双高斯拟合定位算法,实现了对两种生物组织中荧光微球进行超分辨成像和定位,定位精度达到十纳米级别。将平台扫描和焦点DH-PSF解卷积相结合可以起到光学切片的作用,不仅实现了荧光微球的超分辨成像,还实现了周围散射介质膜结构的清晰成像。相比于传统的显微技术和DH-PSF超分辨显微技术,改进的DH-PSF 显微可以对散射介质中的目标进行超分辨成像和定位。   所提出的方法可为散射介质中或通过散射介质进行更深入、更清晰的可视化提供了一种简单的解决方案,结合荧光染料、纳米粒子、量子点以及其他荧光探针,散射介质内的原位超分辨率显微成像将成为可能。
  • Nat. Commun. 复旦大学季敏标教授合作研究:设计出光敏特性的拉曼探针,实现可控开关的受激拉曼散射成像 | 前沿用户报道
    供稿:敖建鹏成果简介2021年5月,复旦大学季敏标课题组与南方科技大学吴长锋课题组合作,在国际期刊 Nature Communications 发表了题为 Switchable stimulated Raman scattering microscopy with photochromic vibrational probes 的论文,通过在二芳基乙烯母体分子中引入炔基,设计出一类具有光敏特性的拉曼探针,实现了可控开关的受激拉曼散射成像。背景介绍在生命科学研究中,直接可视化细胞内大量不同的分子种类对于理解复杂的系统和过程愈渐重要。而对于荧光显微技术而言,由于荧光分子本质上的宽光谱特性,限制了其可分辨标记对象的能力,常称为“多色复用壁垒”。与荧光分子电子跃迁相对,拉曼散射表征的是振动跃迁,谱线宽度较窄,具有优越的化学特异性,目前基于炔基、氰基等拉曼信源开发出的拉曼探针已经实现了超多色复用成像,但成像分辨率依旧受到光学衍射极限的限制。在此研究背景下, 复旦大学季敏标课题组与南方科技大学吴长锋课题组合作通过赋予拉曼信号光敏活性,实现可逆光开关的拉曼振动光学成像,探索具有光敏活性的拉曼探针及其显微技术的应用可行性,为开发具备超多色复用的远场超分辨显微技术突破了关键一环。图文导读受激拉曼散射(SRS)以快速、免标记和本征三维化学组分分析的优点在显微成像领域备受青睐。为了提高成像灵敏度与特异性,基于炔基、氰基的拉曼探针被开发并用于SRS,打破了荧光显微成像中难以逾越的“多色复用壁垒”,展现了这些生物正交拉曼探针对比荧光标记分子所具备的窄峰宽、无漂白、信源尺寸小而对目标分子干扰小等优势。基于化学键振动的拉曼信号具有很好的光稳定性,早期开发的拉曼探针几乎都是“always-on”类型,意味着信号不受外界调控,失去了随机发光、光开关性等性质,直接通过外界光刺激改变拉曼信号几乎是不可能的。为了解决这一难题,课题组将炔基通过化学合成的手段连接到光异构母体分子(二芳基乙烯)上,通过光异构分子对外界光刺激的响应来调控拉曼信号,从而实现对光敏感的拉曼光谱响应。1. 通过化学合成将拉曼探针(炔基,拉曼信号强且峰位处于生物静默区,有利于后续推进至生物体系)引入二芳基乙烯母体分子中;2. 通过自发拉曼及受激拉曼散射技术对紫外与可见光照射下的分子的炔基伸缩振动模式峰位表征;左:自发拉曼;右:受激拉曼3. 将分子匀涂成膜,通过光在薄膜上自由书写/擦除文字信息并以受激拉曼散射显微读出信息;通过紫外光在薄膜上手写的“复旦”字样,并通过SRS对其成像4. 将分子进一步修饰以靶向线粒体,在细胞层面展示光开关性质的受激拉曼散射成像。光控可逆点亮/擦除喂食过光活性分子的HeLa细胞,并通过SRS对其成像受激拉曼散射作为相干模式下的拉曼散射,虽然极大的提高了拉曼信号,使得快速化学成像成为可能,但由于两束光的共振激励(ωp-ωs=Ω)局限在某一个拉曼峰位,相比于自发拉曼而言损失了全光谱信息,因此在对未知物质检测时自发拉曼光谱的测定依旧不可或缺。HORIBA LabRAM HR Evolution的1064nm激发模式很大程度上解决了常用可见光光源激发自身对光敏分子的影响,对我们的实验可靠性论证起到了极大的帮助。HORIBA LabRAM HR Evolution如果您对上述产品感兴趣,欢迎扫描二维码留言,我们的工程师将会及时为您答疑解惑。总结展望“山重水复疑无路,柳暗花明又一村。”实验过程中课题组抛开固有实验套路,另辟蹊径,最终实现了可控开关的受激拉曼散射成像,不仅为开发具有光开关性质的振动光谱探针提供了新思路,同时为光开关受激拉曼散射显微成像技术的提供可行性基础,拓展了SRS的应用范围,将有望推动超多色复用拉曼显微跨入超分辨时代。文献信息Switchable stimulated Raman scattering microscopy with photochromic vibrational probes文章署名作者:Jianpeng Ao, Xiaofeng Fang, Xianchong Miao, Jiwei Ling, Hyunchul Kang, Sungnam Park, Changfeng Wu & Minbiao Ji文章链接:https://doi.org/10.1038/s41467-021-23407-2扫码查看文献季敏标教授课题组简介季敏标教授课题组主要从事非线性光谱学和显微成像技术研发,并将它们用于生物医学光子学应用研究和新型材料的光电性质基础研究。在生物医学光子学领域主要发展用于肿瘤组织的快速无标记病理检测方法和脂质代谢等生物医学问题;在材料学领域主要研究新型二维材料的超快载流子和声子动力学问题等。
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