出谱分析仪

安捷伦公司(NYSE:A)于当地时间2月8日宣布，推出用于PXA X—系列信号分析仪的实时频谱分析仪(RTSA)。该款RTSA可提供无与伦比的拦截概率(POI)、分析带宽、灵敏度和频率范围，使系统开发和信号分析人员能找到最佳的方式来捕捉和了解难以捉摸的信号。 　　在诸如雷达、电子战和军事通信等应用方面，POI是RTSA的关键基准。当配置了实时频谱分析后，PXA最短可检测间隔3.57µ s的间歇信号，是目前市场上性能最好的POI。　　“即使在信号分析的极限，一个高性能的分析器也应该为检测做好一切准备，这就是为什么推出RTSA作为PXA的升级附件，”安捷伦电子测量集团总裁Guy Séné说，“只有实时PXA能结合高性能信号分析仪进行实时分析。它能帮助使用者详细了解一个蕴含丰富信号的系统或环境内部具体发生了什么。”　　为帮助在更短的时间里检测更多的信号，安捷伦实时PXA提供了一个业界领先的高达160MHz分析带宽的75-dB的保真动态范围。这使得用户可以更深入广泛地测量50GHz范围内的任何地方。　　除了其业界领先的在10GHz时可达-157dBm的灵敏度(无前置放大器)，PXA还能提供在适当跨度下不同的带宽分辨率。与此性能相结合，用户可以更好的解析紧密相连的信号，确定间歇的低电平信号，并进一步提高POI。　　为深入、全面分析复杂信号，实时PXA可与安捷伦89600VSA软件无缝结合。该整合可使用户在测量的同时通过先进的故障诊断工具发现信号、频率和调制域出现问题的根源。该软件还可与安捷伦其它仪器连接，如矢量生成器和任意波形发生器作为实验时重放捕获信号的输入装置。

8月25日，横河计量仪表公司推出AQ6370C光谱分析仪，光学性能和信号处理能力更强。这款新型仪表主要对研发与制造等应用中的光通信设备和器件的光学特性进行测量。　　横河光谱分析仪AQ6370C的杂散光抑制率可达76 dB，这个性能水平还是首次在行业内得到保证。AQ6370C同样可以达到73 dB的动态范围*¹ 。AQ6370C具有很多增强性能，已经逾越了拥有市场上最高性能的现有机型AQ6370B。AQ6370C具有标准版和高性能版两个版本。测量精度和速度提高可以有效改善测量效率，并且降低开发和生产成本。　　开发背景　　由于高速光通信网络的快速普及，网络传输的图像和各种数据不断增多，数据量也在不断增大。过去，10-Gbit传输速度仅在城市间的骨干网络可以实现，但是现在，城域网和接入网(连接电话局和电线杆)也达到了这样的速度。因此，光通信设备和器件的制造商为了顺应10-Gbit的传输速度，增加了相应通信设备和光通信器件的生产。　　同时，由于通信运营商之间服务与价格的竞争愈演愈烈，对于进一步削减光通信设备和器件的成本的呼声也越来越高。因此，光通信制造商就需要成本更低、性能更卓越的光谱分析仪。而且，光谱分析仪还要具有更先进的处理能力，以满足不断增长的为新型网络全面开发和生产设备的需求。　　横河电机开发出AQ6370C光谱分析仪可以满足用户的需求，并且预期占有可观的市场份额。　　产品特性　　有效保证杂散光抑制率能，行业领先　　AQ6370C是行业内首个杂散光抑制率确保达到76 dB的仪表。即使不使用高动态模式，而使用普通模式时，该仪表仍可获得如此高的杂散光抑制率，从而减少了测量时间。　　测量精度增高　　AQ6370C使用高性能单色仪，可以实现0.02nm波长分辨率和73 dB动态范围对光信号进行分析。AQ6370C可以 移除被测光附近的光噪声，达到提高光谱测量精度的目的。　　高速光谱测量　　100nm的波长范围通过0.2s的高速测量对于DWDM*² 系统等具有多峰值光谱或者微弱信号的测量非常有效。　　主要目标市场　　通信运营商和光通信设备/器件制造商的研发与生产测量部门　　应用　　为光发射机/接收机和光放大器等光器件的开发和制造提供光性能测试和产品测量　　*1 动态范围: 分离和测量波长峰值附近的光谱的能力　　*2 DWDM:密集波分复用器

中国，2019年12月5日：日立分析仪器（Hitachi High-Tech Analytical Science）是日立高新技术公司（TSE：8036）旗下的一家全资子公司，主要从事分析和测量仪器的制造和销售，其已推出一款开创性的OE750型新型直读光谱仪，用于铸造厂和金属生产中，要求严格的金属规格分析。由于复杂的供应链，以及作为基础材料使用的废旧金属数量的增加，铸造厂和金属制造商在控制熔体中的杂质和痕量元素时，面临着更多的压力。新型OE750型直读光谱仪具有前所未有的性能水平。它涵盖金属中所有元素的光谱，并实现对某些元素的最*低检出限。因此，此款分析仪具备价格高昂的同类仪器所能提供的功能水平，可为众多铸造厂和金属制造商提供优质分析。 OE750实现高分辨率和宽动态范围要归功于采用了先进CMOS探测器技术的革命性新光学理念。其中有四项专利正处于申请状态。因此，这种新型分析仪能覆盖非常宽的波长范围；这意味着该分析仪能测量金属中ppm级别的所有元素。这对于满足当今严格的金属规格分析至关重要，该分析仪可以满足新的ASTM E415标准中关于碳钢和低合金钢的试验方法的要求。 OE750是铝铸件的理想光谱仪，因为它可以测定亚共晶和过共晶铝硅合金中含量极低的磷。它可以分析锑、铋、锶和钠，以及杂质和痕量元素，从而确保这些元素能够被控制在铝熔体中，以优化结构改造。创新性光学设计能实现更短的启动时间，因为光学系统的体积相对较小。这有助于那些需要在多点测量验证熔体质量的工厂实现高批量生产。 除了新的光学设计之外，OE750还有其他支持大批量金属分析的技术特性。它有一个新的密封火花台，具有优化层流设计，可降低氩气消耗，降低污染的可能性，并大大降低维护要求。带有低压氩气吹扫的独特中压系统可减少泵的使用。这可将泵的功耗降低90%，并避免油气污染，从而增加可靠性和仪器的正常运行时间。这使得OE750具有高可靠性和低运行成本。 除创新性硬件技术外，新型OE750还包括可提高性能的软件。例如，它包括日立牌号数据库，该数据库包含来自69个国家的339,000多种材料的1,200多万条记录和标准，减少了人工查阅牌号目录的时间和潜在错误。可选的炉料校正软件会自动计算添加至熔体中的正确材料量，使其符合规范。 日立OES产品业务开发经理Wilhelm Sanders表示：“在过去，铸造厂和金属加工企业在购买仪器时，不得不在高分析性能和可接受价格范围之间作出选择。现在有了新型OE750，他们无需想出折中方案了。OE750能凭借一套可使用的解决方案提供全面的金属分析。”关于日立分析仪器：日立分析仪器是日立高新技术集团于2017年7月组建的全球性公司。该公司总部位于英国牛津，其在芬兰、德国和中国设立有研发中心和组装工厂，并在全球多个国家建立有销售和支持机构。我们的产品类别包括：? 移动式和台式OES系列：广泛应用于全球各行各业中，快速和精确的金属分析。直读光谱技术可测定所有重要元素，并提供低检测限和高精度，包括钢中的碳和几乎所有金属中所有技术相关的主要和痕量元素。? X-MET8000手持式光谱仪：使用精*准的XRF技术为成千上万的企业提供简单、快速和无损的材料分析。例如合金分析、废金属分拣和金属牌号筛选。? Vulcan手持式分析仪：使用激光诱导击穿光谱(LIBS)技术，只需一秒即可识别金属合金，是世界上分析速度最快的分析仪之一。这对需要处理大量金属的企业而言非常有利。? X-Strata和FT系列微焦斑XRF光谱仪：可测量单层和多层镀层（包括合金层）的镀层厚度，专为质量控制、过程控制以及实验室研究而设计。? Lab-X5000和X-Supreme8000台式XRF光谱仪：可为石油、木材处理、水泥、矿物、采矿和塑料等多种行业提供质量保证和过程控制服务。 关于日立高新技术公司：日立高技术公司总部位于日本东京，从事分析和医疗解决方案（临床分析仪、生物技术产品和分析仪器的制造和销售）等多个领域的活动，纳米技术解决方案（半导体制造设备和分析设备的制造和销售）和工业解决方案（在社会和工业基础设施及移动性等领域提供高附加值解决方案）。 公司2018财年的合并收入约为7311亿日元[66亿美元]。想要了解更多信息，请及时跟我们联系！