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共 13 台少子寿命测试仪 3I规则
Sinton+WCT120+硅片少子寿命测试仪

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少子寿命测试仪WCT-120MX+Suns-VocMX

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在线硅锭成像设备MDPinline ingot-

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Freiberg微波检测光诱导电流瞬态光谱仪(MD-PICTS)-

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单晶和多晶少数载流子寿命在线测试设备 MDPlinescan-

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单晶和多晶片的少数载流子寿命测试设备 MDPmap-

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单点少子寿命测试设备MDPspot-

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单晶、多晶晶圆和晶锭少数载流子寿命测试设备 MDPpro-

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少子寿命测试仪µPCD/MDP (MDPpro 850+)

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MDPlinescan在线少子寿命测试仪

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分类小贴士

少子寿命测试仪是一种用于测量放射性同位素半衰期的仪器。其原理是利用少子寿命测试技术，通过测量同位素衰变中产生的少数剩余粒子（如正电子、中子等）的衰变轨迹和能量分布等信息，来推断出该同位素的半衰期。 这种测试仪通常由较大的探测器和计算机系统组成，可以进行高精度和高灵敏度的测量。在实际应用中，少子寿命测试仪广泛用于核物理、地球科学、医学诊断和生物学等领域，特别是在核工业中，其在核材料的安全性评估、核燃料的质量控制和核废料的处理等方面具有重要作用。

最新发布仪器

少子寿命测试仪WCT-120MX+Suns-VocMX

瞬渺科技（香港）有限公司

少子寿命测试仪Sentech光伏测量仪MDPspot

南通宏腾微电子技术有限公司

Sinton少子寿命测试仪BLS-I/BCT-400

上海旭为光电科技有限公司

少子寿命测试仪µPCD/MDP (MDPpro 850+)

束蕴仪器（上海）有限公司
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