徕卡三离子束截面抛光切割仪
徕卡三离子束截面抛光切割仪

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徕卡

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Leica EM TIC 3X

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欧洲

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核心参数

产地类别: 进口

仪器简介:
    对于软金属材料、多层膜材料、微电子及复合材料等,样品切割/抛光常常是一项难以逾越的技术障碍。因此要获得理想的SEM / EBSD分析结果也变得难上加难。
    现在借助徕卡独创的三离子束截面抛光切割仪EM TIC3X 这项最新技术,可以快速高效“切割”样品,无应力层,无涂抹效应,可暴露样品内部真实结构信息,以便于SEM观察,或EBSD等分析。
    三离子束可单独设置或统一设置,操作灵活性高
    离子束加工过程中,样品不用做旋转等运动,保证了加工的目标区域的准确性;另外由于离子束轰击样品,会产生一定的热量,样品不用运动,保证了与底板的良好接触,保证了高效热传导。



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