Leica EM TXP 精研一体机
Leica EM TXP 精研一体机

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Leica EM TXP

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欧洲

  • 钻石
  • 第22年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
该产品已下架
核心参数

  Leica EM TXP 是一款多功能机械修块研磨抛光机,适用于对目标定位,进行铣削,切割,冲钻,研磨,修块及抛光等。特别适合于对样品微小目标的精细定位、切割等加工。

其主要功能为:可用于光镜观察前样品切割、机械抛光等制备;可用于EM TIC 3X / EMUC7样品前制备,对样品进行机械修块;还可用于EM RES101样品前制备,获得直径3mm样品圆片(两面平行,厚度可达1μm量级)。


主要技术参数:

1 工具前进步进:100μm,10μm,1μm及0.5μm可选。显示进程,并具有快进和撤回功能

2 工具轴承转速:300~ 20000rpm可调

3 具有自动进程倒计数,自动时间倒计时功能,具有自动应力反馈功能

4 样品处理过程可由蠕动泵自动泵取冷却液/研磨液,并可接吸尘器

5 带有体视镜观察系统,LED环形照明,4分格,带有坐标尺,可接摄像头

6 可选工具: 切割锯片,铣刀,抛光片,直径3mm 空心钻



相关方案

  • 在固体材料的微观结构表征过程中,对毫米和微米尺度的微小目 标进行定位、切割、研磨、抛光是一项具有挑战性的工作。采用传统 的至少需要四台仪器进行 SEM 电镜的样品制备,如图 1 所示,这样 的制备流程包括使用切割机对样品进行切割加工成小尺寸的块体;使 用镶嵌机对小型块体进行镶嵌包埋,以便于后续加工;使用磨抛机对 需要观察的表面进行研磨、抛光加工;最后用显微镜观察抛光表面是 否符合 SEM 电镜样品的要求。如果未能满足要求,则需要重复这一 繁琐、耗时的制备流程。在对微小目标进行定位方面,这样传统的制 样方式存在很多缺陷,其中包括不易确定观察目标的位置,不易对目 标进行角度校准,需要花费大量的人工精力和时间,微小目标容易丢 失,小尺寸样品难以操作导致加工工时繁琐。

    其他 2015-02-03

  • 伴随着材料科学与生物技术的迅速发展,对样品进行微观结构的 电子显微学观察逐渐成为科学研究的必备手段。为了获得理想的电镜 观察结果,制备优良的扫描电镜、透射电镜的试样成为至关重要的前 提。徕卡显微系统 (Leica Microsystem) 为广大研究者提供了最全面、应用最广泛的电镜样品制备设备。较之于传统的电镜样品制备方法,徕卡制样系列具有效率高,智能化,易操作和多功能的特点,能够满足现代科学研究在省时省力,经济实惠方面的要求。

    其他 2015-02-03

  • 在固体材料的微观结构表征过程中,对毫米和微米尺度的微小目 标进行定位、切割、研磨、抛光是一项具有挑战性的工作。采用传统 的至少需要四台仪器进行 SEM 电镜的样品制备,如图 1 所示,这样 的制备流程包括使用切割机对样品进行切割加工成小尺寸的块体;使 用镶嵌机对小型块体进行镶嵌包埋,以便于后续加工;使用磨抛机对 需要观察的表面进行研磨、抛光加工;最后用显微镜观察抛光表面是 否符合 SEM 电镜样品的要求。如果未能满足要求,则需要重复这一 繁琐、耗时的制备流程。在对微小目标进行定位方面,这样传统的制 样方式存在很多缺陷,其中包括不易确定观察目标的位置,不易对目 标进行角度校准,需要花费大量的人工精力和时间,微小目标容易丢 失,小尺寸样品难以操作导致加工工时繁琐。

    其他 2015-02-03

  • 伴随着材料科学与生物技术的迅速发展,对样品进行微观结构的 电子显微学观察逐渐成为科学研究的必备手段。为了获得理想的电镜 观察结果,制备优良的扫描电镜、透射电镜的试样成为至关重要的前 提。徕卡显微系统 (Leica Microsystem) 为广大研究者提供了最全面、应用最广泛的电镜样品制备设备。较之于传统的电镜样品制备方法,徕卡制样系列具有效率高,智能化,易操作和多功能的特点,能够满足现代科学研究在省时省力,经济实惠方面的要求。

    其他 2015-02-03

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