托托科技 荧光寿命成像 多模态光电显微镜 TTT-03-PC

烛龙^TM系列多模态光电显微镜基于光电流扫描(PhotonCurrent Scanning imaging)技术，广泛应用于材料或器件分析。通过测量器件表面上的光电流信号来研究器件表面的电荷分布情况。在半导体器件中，当光照射到表面时，光子能量被吸收并激发电子，从而产生电子-空穴对。这些电子-空穴对可能会在外加电场或表面电场的影响下分离，导致产生光电流。因此，通过测量光电流信号的强度和空间分布，可以推断出器件表面的电荷分布情况。光电流成像技术可以用于研究半导体器件的表面电荷分布、载流子分布、表面电势等信息，对于了解器件的性能和特性具有重要意义。

【产品亮点】

超宽的多波长激发光源

全反射式的收集光路

支持荧光、拉曼、光电流等多种测量模式

支持样品移动式扫描及振镜扫描等多种解决方案

支持激光微区加工

系统高度自动化

应用案例：

[二维材料/PL Mapping and Raman Mapping]

二维材料具有超高的载流子迁移率，强的光-物质相互作用，电/光学性质的各向异性，层间范德华力结合等特性，使其在光电子领域具有光明的应用前景。其中，窄带二维材料在红外光电探测器中表现出了巨大的应用潜力。光致发光光谱是一种快速，非破坏性提供材料结构的表征手段，同时具有很高的空间分辨率。因此，通过使用光电流测试和光谱扫描的方式，可以有效地对二维材料进行高分辨率下的表征，来实现不同异质结构下更高的荧光量子效率和可调谐光谱共振，为更多领域带来潜在的应用前景。

l 可以同时实现对样品光电流信号和PL光谱信号的数据采集

l 可以对相关二维材料进行拉曼特性的扫描表征和研究

l 可以在极高的扫描空间分辨率下实现对亚微米级样品的光电扫描