磁光克尔显微综合测试设备
磁光克尔显微综合测试设备

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TTT-02-Kerr Microscope

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中国大陆

  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数

自旋电子学经过数十年的发展,在许多领域都有了卓著的表现。从传感器,到非易失性磁存储,再到新材料的特性研究,自旋电子学不仅是当前科学研究的热点,也被工业界广泛重视。磁畴的直接观测与记录,对于材料的研究有着重要的意义;对磁畴运动过程的剖析,不仅直观的展现了磁性翻转,而且有助于分析物理过程的机理。相较于传统的单点磁滞回线测量仪,磁光克尔显微综合测试设备,可以追踪平面内数百万点的实时磁性动态信息。结合该成像系统提供的直流探针,高频探针,样品的测试无比便捷。当下自旋电子学或磁学的研究,已经由磁性驱动的翻转,发展到了直流电流驱动、脉冲电流驱动、微波脉冲驱动、光驱动等一系列的激励源作用下的深度研究。实现在室温条件下测试垂直各向异性/面内各向异性材料材料的磁畴反转过程,成像清晰,拍摄速度达到30 /秒。赫智科技提供的标准系统按照性能优先,稳定性优先的设计思路,可以满足实验室研究及工业生产中各种相关材料的测试需求。标准设备中提供了磁场激励、电流激励等多种选项,是客户在自旋特性研究中的得力测试平台

售后服务承诺

整机质保期: 0年

培训服务: 安装调试现场免费培训

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