四探针电阻率测试仪
四探针电阻率测试仪

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尼普洛

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亚洲

  • 银牌
  • 第2年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数

应用:半导体材料、太阳能电池材料(硅、多晶硅、碳化硅等),新材料、功能材料(碳纳米管、DLC、石墨烯、Ag纳米线等)、导电薄膜(金属、离子等),扩散层,硅相关外延材料,离子注入样品

样品尺寸:基于所选择的平台而定,圆形样品最大支持300mm(12 inch),或方形最大尺寸730x920mm

测量范围:

Ø V/I 电阻: 1.0m - 3.0M Ω

Ø 方阻: 5.0m - 10.0M Ω/sq

电阻率: 1.0μ - 300.0k Ω.cm


售后服务承诺

产品货期: 60天

整机质保期: 1年

培训服务: 安装调试现场免费培训

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