TS2000-HP Probe System 半自动化探针台测试系统
TS2000-HP Probe System 半自动化探针台测试系统

¥30万 - 50万

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TS2000-HP Probe System

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欧洲

  • 银牌
  • 第3年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数

MPI的TS2000-HP半自动化探针台测试系统可提供8英寸及以下晶圆器件的高功率测量,先进的ShielDEnvironment™可提供低噪声和屏蔽的测试环境。
为高电压和大电流量测应用而设计
• 适合至高 10kV / 600A (脉冲)的晶圆高功率组件量测
• 提供载片下的高功率动、静态参数的测试
• 晶圆载物台表面镀金,小化接触电阻;真空吸孔优化,适合装载至薄 50 μm 的薄晶圆
• 可选配搭载 Taiko 晶圆载物台
• 提供抗电弧解决方案
MPI ShielDEnvironment™ 屏蔽环境
• 專為 EMI / RFI / Light-Tight 屏蔽所设计的精密量测环境
• 支援飞安低漏电值量测
• 温度量测范围 -60 °C to 300 °C

 

安全系统

 

采用可互锁的安全光幕,可通过互锁系统关闭仪器,保护用户免受意外高压冲击。

该系统具有后门,并由互锁保护,以提供简便的初始安全测量设置。

 

 

 

 

 


PI ShielDEnvironment™是一个高性能的微暗室屏蔽系统,可为超低噪声、低电容测量提供出色的EMI和不透光的屏蔽测试环境。

为了防止卡盘和压盘之间产生电弧,TS2000-HP卡盘门设计了ArcShield™。

 

 

 

 


售后服务承诺

保修期: 1年

是否可延长保修期:

现场技术咨询:

免费培训: 免费安装培训

免费仪器保养: 质保期内免费仪器保养

保内维修承诺: 质保期内免费非人为损坏免费维修

报修承诺: 24小时内到达现场并维修

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