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GIV-20A系列太阳电池组件测试仪为直射光结构,模拟真实太阳光照射条件,可根据现场环境实现侧打光/上打光安装模式,A+A+A+级光源配置;满足300-1200nm全光谱,脉冲宽度10ms至100ms可调。
测试对象:适用于普通太阳晶硅组件(PERC、N型、IBC以及HIT等)电性能参数的测试,同时兼容MBB、半片、叠片等组件的测试。
主要技术参数
型号 | XJCM-20A系列 |
---|---|
最大可测组件尺寸 | 2600mm X 1600mm |
幅照度范围 | 700-1200W/㎡ |
光谱范围 | 300nm-1200nm |
光谱匹配度 | 0.875-1. 125(A+级) |
幅照度不稳定性 | <1% A+级 |
幅照度不均匀性 | <1% A+级 |
测量范围 | 电压:1V/10V/50V/100V/200V 电流:0.25A/1A/5A/12.5A/20A |
工作电源 | 200-240V ,10A, 50/60HZ,single phase(单相) |
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 免费安装培训
免费仪器保养: 质保期内免费仪器保养
保内维修承诺: 质保期内免费非人为损坏免费维修
报修承诺: 24小时内到达现场并维修
CTS太阳光模拟器GIV-20A的工作原理介绍
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