赛默飞 Talos F200C TEM 透射电子显微镜

报价

¥1500万 - 2000万

暂无评分

品牌

赛默飞

样本

暂无样本

型号

Talos F200C TEM

荣誉奖项

产地

欧洲

北京欧波同光学技术有限公司

白金
第16年
一般经销商

营业执照已审核

留言询价电话询价

400-860-2797

核心参数

仪器种类： 场发射

分辨率： 0

加速电压： 0

放大倍率： 0

相关方案

综合材料其他钢铁/金属地矿能源/新能源

材料表征中利用 ColorSEM 技术进行 EDS 分析检测方案(扫描电镜)
EDS 分析（能量色散 X 射线光谱，也称为 EDX 分析）是一项研究微米级化学成分的强大技术。通过结合扫描电子显微镜 (SEM)，EDS 从用电子束扫描样品时发射的 X 射线中获得组分信息。可检测的元素范围几乎涵盖了整个元素周期表，且 EDS 提供的数据对于很多应用第至关重要、从工艺/质量控制到故障分析和基础研究。因此，几乎每个 SEM 都配备了 EDS 系统。
材料 2021-04-02
锂电池中锂电池材料分析方面的应用检测方案(扫描电镜)
锂离子电池的主要组成部分包括正极材料、负极材料、隔膜和电解液等，且多数材料都具备很强的电子束敏感性，在电子束辐照下易受损伤，发生离子迁移等结构变化，常规的 SEM 表征方法，如高加速电压、喷镀导电膜等方法不再适合。Thermo Scientific™ Apreo™ 高分辨率场发射扫描电镜是专为锂电池材料表征分析而优化设计，Apreo 具备卓越的超低电压、小束流成像性能，四个纳秒级相应速率的探测器（T1、T2、T3、ETD）可将电子束驻留时间尽量缩短，以及多种智能扫描技术可将材料的电子束损伤控制到最低，是专为锂电池材料表征分析而优化设计，实现对微纳米级结构的粒度、形状、成分的高精度分析。
能源/新能源 2021-03-24
S48C 锻件中开裂原因分析检测方案(切割机)
对 S48C 缺陷样品的化学成分进行了检验，结合金相显微镜及扫描电镜进行了显微及断口分析，并对缺陷样品验证热处理实验。结果表明：送检缺陷样品存在孔洞、裂纹、晶粒粗大和晶界熔化等缺陷，是由于加热钢坯温度过高，过烧使钢坯晶界弱化，延展性和韧性降低，导致锻造开裂。
钢铁/金属 2017-02-04
环境扫描电子显微镜中有关其成像特点的检测方案(扫描电镜)
环境扫描电子显微镜(ESEM)中所指的环境并非真正意义上的大气环境(760Torr)，与传统扫描电子显微镜(SEM)样品室高真空库相比，ESEM 样品室的真空度可以很低(约达 20 Torr)。ESEM 是在传统的SEM 样品室中多一个 GSED 探头，因此，它在传统的 SEM 基础上增添了新的功能。其主要的特点是，可以观察合适量水分的样品和非导体材料样品，比如植物的叶片、动物中的昆虫、作物的籽粒、含结晶水的固体材料等。
其他 2015-10-26

材料研究中材料表征和质量控制的 Avizo 软件检测方案(扫描电镜)
ndustrial applications require stronger, lighter, cleaner and safer materials every day. For new developments or for better characterization of existing materials, Thermo Scientific™ Avizo™ Software allows for a better understanding of structure, properties and performance.
材料 2021-04-02
材料中扫描电镜在材料过程控制中的应用检测方案(扫描电镜)
现代工业过程需要高通量以实现经济高效的生产。这个节奏按最终产品的质量、可靠性和一致性需求来计量。因此，过程控制力求优化和规范生产，以便在产出和质量之间取得平衡。监测各种参数（如尺寸、形态和杂质）时必须尽可能高效，才能最大限度地减少分析对整体生产时间的影响。此外，观察结果必须高度可靠，以确保根据样品的真实特征进行过程调整。
材料 2021-04-02
材料表征中利用 ColorSEM 技术进行 EDS 分析检测方案(扫描电镜)
EDS 分析（能量色散 X 射线光谱，也称为 EDX 分析）是一项研究微米级化学成分的强大技术。通过结合扫描电子显微镜 (SEM)，EDS 从用电子束扫描样品时发射的 X 射线中获得组分信息。可检测的元素范围几乎涵盖了整个元素周期表，且 EDS 提供的数据对于很多应用第至关重要、从工艺/质量控制到故障分析和基础研究。因此，几乎每个 SEM 都配备了 EDS 系统。
材料 2021-04-02

扫描电镜样品中通过高分辨率下的实时处理来实现自动化大面积图像和分析数据采集检测方案(扫描电镜)
Automated large area image and analytical data acquisitions at high resolution with on-the-fly processing
其他 2021-04-02
颗粒中电子显微镜进行颗粒分析检测方案(扫描电镜)
颗粒的形态、结构、形状和大小在其化学和物理特性中起着重要作用。这对于纳米粒子尤其如此，它与散装的相应材料（在宏观层面）具有根本不同的物理特性。例如，半导体纳米粒子的尺寸可以改变其发射的光的频率和波长，使其尺寸的精确控制对于实用光学应用至关重要。了解这些微粒的结构和化学性质、以及如何进行改性，都需要通过电子显微镜等工具才能实现精确分析。
其他 2021-04-02
环境扫描电子显微镜中有关其成像特点的检测方案(扫描电镜)
环境扫描电子显微镜(ESEM)中所指的环境并非真正意义上的大气环境(760Torr)，与传统扫描电子显微镜(SEM)样品室高真空库相比，ESEM 样品室的真空度可以很低(约达 20 Torr)。ESEM 是在传统的SEM 样品室中多一个 GSED 探头，因此，它在传统的 SEM 基础上增添了新的功能。其主要的特点是，可以观察合适量水分的样品和非导体材料样品，比如植物的叶片、动物中的昆虫、作物的籽粒、含结晶水的固体材料等。
其他 2015-10-26

S48C 锻件中开裂原因分析检测方案(切割机)
对 S48C 缺陷样品的化学成分进行了检验，结合金相显微镜及扫描电镜进行了显微及断口分析，并对缺陷样品验证热处理实验。结果表明：送检缺陷样品存在孔洞、裂纹、晶粒粗大和晶界熔化等缺陷，是由于加热钢坯温度过高，过烧使钢坯晶界弱化，延展性和韧性降低，导致锻造开裂。
钢铁/金属 2017-02-04
锡中铁素体检测方案(扫描电镜)
基于新型含锡铁素体不锈钢，采用冶金反应平衡对其冶炼过程进行实验室条件下的研究，分析了锡在不锈钢冶炼过程的收得率及锡的添加对不锈钢基体的微观结构的影响规律，分析脱氧夹杂物的形貌和成分演变，结果表明，尽管锡的熔点极低，其收得率较高；锡在硫化锰周围富集现象比较明显，夹杂物周围被锡包裹，电镜下呈白色，氧化物夹杂周围未见锡的富集；从金相分析结果发现，当锡含量不小于0.3%时，晶界析出物中锡的含量高于基体，即存在锡在晶界的偏析现象。
钢铁/金属 2015-05-27
镁铝合金对430不锈钢的夹杂物中变性处理的实验研究检测方案(扫描电镜)
实验室条件下模拟430不锈钢生产中的AOD工位，采用铝做脱氧剂，随后用镁铝合金喂线处理钢液，选择AOD精炼过程中氧化期渣系。分析了实验过程中全氧质量分数，夹杂物尺寸、形貌和成分变化，检测了终点钢样的机械性能和耐点腐蚀性能。试验中发现：加入镁铝合金处理的实验与未加镁铝合金处理的实验全氧质量分数变化无明显差别。加入镁铝合金处理的实验精炼过程中未见链状或者簇状Al2O3夹杂物，且终点试样中夹杂物尺寸明显小于未加镁铝合金的实验。加入镁铝合金处理的不锈钢的抗拉强度、屈服强度、耐点腐蚀性能明显好于未加镁铝合金处理的430不锈钢。
钢铁/金属 2015-05-27

油气地质中油气地质行业应用检测方案(扫描电镜)
赛默飞世尔科技有限公司拥有超过 60 年的显微镜创新、应用和行业领先能力，向客户提供先进的数字岩石分析解决方案。
地矿 2021-03-24
矿业中地球科学矿业应用检测方案(扫描电镜)
由于市场对贱金属和贵金属的需求持续旺盛，采矿业前景一片大好。然而，随着矿石品位下降，水电等生产资源成本急剧增加，投资者面临着运营效率压力，采矿业又充满挑战。矿物组成和矿石结构是影响贱金属和贵金属持续、经济提取的关键要素，从上游矿石表征、冶金测试、流程设计到矿物加工，都需要深入了解。矿石结构特性通常表现为微米级甚至是纳米级，而赛默飞世尔科技有限公司拥有超过 60 年的显微镜创新和领导力，在矿石表征、冶金测试和矿物加工等领域能提供多种先进分析仪器和地质矿产分析解决方案。
地矿 2021-03-24

锂离子电池中锂离子电池的多尺度三维成像方案检测方案(扫描电镜)
近年来，随着电动汽车和消费电子产品的高速发展，市场对电池的需求日益增长。锂离子电池由于它相比于其他商用可充电电池技术所具有的高能量以及高功率密度的性能优势而受到了极大的关注。为了进一步提高锂离子电池的性能以及安全性，从根本上了解电池材料的化学性质以及微观结构至关重要。
能源/新能源 2021-03-24
锂电池中锂电池材料分析方面的应用检测方案(扫描电镜)
锂离子电池的主要组成部分包括正极材料、负极材料、隔膜和电解液等，且多数材料都具备很强的电子束敏感性，在电子束辐照下易受损伤，发生离子迁移等结构变化，常规的 SEM 表征方法，如高加速电压、喷镀导电膜等方法不再适合。Thermo Scientific™ Apreo™ 高分辨率场发射扫描电镜是专为锂电池材料表征分析而优化设计，Apreo 具备卓越的超低电压、小束流成像性能，四个纳秒级相应速率的探测器（T1、T2、T3、ETD）可将电子束驻留时间尽量缩短，以及多种智能扫描技术可将材料的电子束损伤控制到最低，是专为锂电池材料表征分析而优化设计，实现对微纳米级结构的粒度、形状、成分的高精度分析。
能源/新能源 2021-03-24

售后服务承诺

保修期: 1年

是否可延长保修期: 是

现场技术咨询: 有

免费培训: 免费培训

免费仪器保养: 定期问询保养售后

保内维修承诺: 24小时响应

报修承诺: 24小时响应维修

用户评论

暂无评论

发评论

赛默飞 Talos F200C TEM 透射电子显微镜信息由北京欧波同光学技术有限公司为您提供，如您想了解更多关于赛默飞 Talos F200C TEM 透射电子显微镜报价、型号、参数等信息，欧波同客服电话：400-860-2797，欢迎来电或留言咨询。

推荐分类同类仪器该厂商仪器相关厂商推荐品牌

手机版：赛默飞 Talos F200C TEM 透射电子显微镜

设备更新推荐专区

透射电镜7月热度榜

日本电子JEOL 冷场发射12极子球差校正透射电镜 JEM-ARM300F2

Spectra S/TEM 扫描透射电子显微镜

日本电子 JEOL 自动进样场发射透射电镜JEM-F200

日本电子 JEOL 冷场发射球差校正透射电镜 JEM-ARM200F NEO ARM

低电压台式透射电子显微镜-LVEM5

查看全部

推荐品牌

日本电子

主要参数
TEM 信息分辨率	0.18 nm
TEM 点分辨率	< 0.30 nm
STEM 分辨率	0.20 nm
HRTEM 信息分辨率	0.18 nm
HRTEM 线分辨率	0.10 nm
HRSTEM 分辨率	0.20nm
EDS固体角（sr）	0.18/0.80

赛默飞 Talos F200C TEM 透射电子显微镜

设备更新推荐专区

Glacios 2 冷冻透射电镜

新一代低电压透射电子显微镜-LVEM 25E

电镜国产液态镓离子源代替进口17135离子源使用