赛默飞 透射电子显微镜Talos F200X STEM

Talos F200X 扫描 / 透射电子显微镜 (S/TEM) 具有最为快速、准确且量化 的多维纳米材料表征分析能力。Talos F200X S/TEM 的创新功能可提高通 量、精度与易用性，非常适于学校、 政府和工业研究环境中的纳米级研究 与分析。

功能

• 领先的光学性能 :恒定功率 X-TWIN 物镜 

• 最大程度提高易用性:快速轻松的操作切换，适用于多用户环境 

• 超稳定平台 :恒定功率物镜、压电载物台、牢固的系统机壳和 远程操作可确保最高的稳定性 

• SmartCam 摄像头 :数字搜索和查看摄像头显著提高了操作便 利性，让使用者可以离开暗室进行远程操作。 

• 完全集成的快速相机 :Ceta 16M 像素 CMOS 相机可提供大视 场和高读取速度(512 x 512时为 25 fps)

• 全面的远程操作 :自动光阑系统与 Ceta 相机相结合，支持全 面的远程操作 

• 丰富的分析功能 :Talos S/TEM 使用 EDS 立体成像技术将样品 成分分析功能从二维扩展至三维。 

产品参数

X-FEG 亮度       1.8 × 109 A/cm2 srad(200 kV 时)

总电子束电流     > 50nA

束斑电流       1.5 nA @ 1 nm 束斑 (200 kV)

Super-X EDS 系统    采用对称设计的 SDD 能谱探头， 无窗设计，受机械快门保护

能量分辨率  Mn-Kα 和 10 kcps 时 ≤ 136 eV (输出)

快速 EDS 面分析    像素驻留时间短至 10 μs

STEM HAADF 分辨率  0.16 nm

EDX 立体角 0.9 srad

TEM 信息分辨率 0.12 nm

最大衍射角度 24 ?

双倾样品杆的最大倾斜角度 ±35° α 倾角 /±30° β 倾角

样品台最大倾斜角度 ±90 ?